阵列基板及其检测方法、显示面板技术

一种阵列基板及其检测方法、显示面板，该阵列基板包括多个子像素以及多条第一检测线，多个子像素排布为多行多列的阵列，第一检测线沿阵列的行方向延伸；每个子像素包括发光元件以及驱动发光元件发光的第一晶体管，阵列中相邻的第n行和第n+1行子像素构成一个子像素行组，每个子像素行组的两行子像素之间设置有一条第一检测线，且第一检测线配置为与第n行和第n+1行子像素连接并用于检测子像素中的第一晶体管或发光元件的电特性，n为大于0的奇数或偶数。该阵列基板通过相邻行子像素交替共用第一检测线而减小了第一检测线的数量，减小了第一检测线与数据线的交叠，这不仅能够降低寄生电容，还能提高产品良率。

Array substrate and its detection method, display panel

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其检测方法、显示面板
本公开实施例涉及一种阵列基板及其检测方法、显示面板。
技术介绍
在显示领域，有机发光二极管(OLED)显示面板具有自发光、对比度高、能耗低、视角广、响应速度快、可用于挠曲性面板、使用温度范围广、制造简单等特点，具有广阔的发展前景。外部补偿电路被广泛应用于OLED显示面板中以使得显示面板具有均匀的显示效果。
技术实现思路
本公开至少一个实施例提供一种有阵列基板，包括多个子像素以及多条第一检测线，所述多个子像素排布为多行多列的阵列，所述第一检测线沿所述阵列的行方向延伸；每个子像素包括发光元件以及驱动所述发光元件发光的第一晶体管，所述阵列中相邻的第n行和第n+1行子像素构成一个子像素行组，每个子像素行组的两行子像素之间设置有一条所述第一检测线，且所述第一检测线配置为与第n行和第n+1行子像素连接并用于检测所述子像素中的第一晶体管或发光元件的电特性，n为大于0的奇数或偶数。在一个示例中，所述阵列基板还包括沿所述行方向延伸的多条第一电源线，所述第一电源线设置于相邻的两个子像素行组之间，且所述多条第一电源线与所述多条第一检测线交替分布，每条所述第一电源线配置为和与之相邻的两行子像素连接并提供第一电源信号。在一个示例中，所述阵列基板还包括多条第二电源线，所述多条第二电源线沿所述阵列的列方向延伸，且分别与所述多条第一电源线交叉电连接。在一个示例中，所述阵列基板还包括多条第二检测线，所述多条第二检测线沿所述阵列的列方向延伸，并多条与所述多条第一检测线交叉电连接。在一个示例中，每条第一检测线包括多个沿所述行方向依次布置且彼此绝缘的检测线段，每个检测线段对应连接至少两个所述子像素且连接到不同的第二检测线。在一个示例中，每m个子像素构成一个像素单元，每个检测线段对应连接同一行中的1个或2个所述像素单元，m＝2、3或4。在一个示例中，在所述每个检测线段对应2个所述像素单元的情形，与所述检测线段连接的所述第二检测线设置于所述检测线段所对应的2个像素单元之间。在一个示例中，每个子像素还包括第二晶体管、第三晶体管和第一电容；所述第二晶体管的栅极和第一极分别配置为接收第一扫描信号和数据信号，所述第二晶体管的第二极连接所述第一晶体管的栅极；所述第一晶体管的第一极配置为接收第一电源信号，所述第一晶体管的第二极分别与所述第三晶体管的第一极以及所述发光元件的第一电极连接；所述第三晶体管的栅极配置为接收第二扫描信号，所述第三晶体管的第二极与所述子像素所连接的第一检测线相连；所述发光元件的第二电极配置为接收第二电源信号；所述第一电容的一端连接所述第一晶体管的栅极，另一端连接所述第一晶体管的第二极。在一个示例中，所述阵列基板还包括多条沿所述行方向延伸的第一扫描线，所述多条第一扫描线分别与多行子像素一一对应连接，并分别与所对应的子像素中的第二晶体管的栅极连接以提供所述第一扫描信号。在一个示例中，在每个子像素行组中，分别与所述第n行和第n+1行子像素连接的两条第一扫描线设置于所述第n行和第n+1行子像素之间。在一个示例中，在每个子像素行组中，与所述第n行和第n+1行子像素连接的第一检测线设置于与所述第n行和第n+1行子像素所分别连接的两条第一扫描线之间。在一个示例中，所述第一扫描线还与所对应的子像素中的第三晶体管的栅极连接以提供所述第二扫描信号。在一个示例中，在每个所述子像素中，所述第二晶体管和所述第三晶体管沿所述行方向并列设置，且所述第二晶体管的沟道长度方向和所述第三晶体管的沟道长度方向均沿所述阵列的列方向。在一个示例中，所述阵列基板还包括多条沿所述行方向延伸的第二扫描线，所述多条第二扫描线分别与多行子像素一一对应连接，并分别与所对应的子像素中的第三晶体管的栅极连接以提供所述第二扫描信号。在一个示例中，在每个子像素行组中，所述第n行和第n+1行子像素相对于与其相连的第一检测线对称设置。在一个示例中，所述发光元件为顶发射有机发光管二极管。本公开至少一实施例还提供一种显示面板，包括上述阵列基板。本公开至少一实施例还提供一种检测方法，用于检测上述阵列基板，所述检测方法包括：对于所述像素阵列中的目标子像素施加检测控制信号；通过所述第一检测线获取所述子像素中的第一晶体管或发光元件的电特性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本专利技术的一些实施例，并非对本专利技术的限制。图1A是一种阵列基板的框图；图1B是一种阵列基板的电路示意图；图1C是一种3T1C像素电路的示意图。图2为一种阵列基板的版图结构示意图。图3A为本公开实施例提供的阵列基板的示意图之一；图3B为本公开实施例提供的阵列基板的示意图之二。图4A为本公开一实施例提供的阵列基板的示意图；图4B是本公开另一实施例提供的阵列基板的示意图。图5示出了本公开实施例提供的阵列基板的剖视图。图6示出了图4A所示的阵列基板与图2所示的阵列基板的仿真对比图。图7为本公开实施例提供的显示面板的示意图。具体实施方式下面将结合附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述参考在附图中示出并在以下描述中详述的非限制性示例实施例，更加全面地说明本专利技术的示例实施例和它们的多种特征及有利细节。应注意的是，图中示出的特征不是必须按照比例绘制。本专利技术省略了已知材料、组件和工艺技术的描述，从而不使本专利技术的示例实施例模糊。所给出的示例仅旨在有利于理解本专利技术示例实施例的实施，以及进一步使本领域技术人员能够实施示例实施例。因而，这些示例不应被理解为对本专利技术的实施例的范围的限制。除非另外特别定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。此外，在本专利技术各个实施例中，相同或类似的参考标号表示相同或类似的构件。图1A是一种阵列基板10的框图，图1B是一种阵列基板的电路示意图。如图1A和图1B所示，阵列基板10包括分布为多行多列的阵列结构的多个子像素100，每个子像素100包括发光元件以及驱动该发光元件发光的像素电路。例如，该阵列基板是有机发光二极管(OLED)阵列基板，该发光元件为OLED。该显示面板还包括多条扫描线、多条数据线以用于为该多个子像素提供扫描信号和数据信号，从而驱动该多个子像素。根据需要，该显示面板还可以进一步包括电源线、感测线等。例如，每m个子像素100构成一个像素单元，该m个子像素例如分别包括发出不同颜色(基础色)光的OLED，从而实现彩色显示。例如，m＝2、3或4。例如，一个像素单元包括三个子像素100，三个子像素分别发出红光(R)、绿光(G)和蓝光(B)。又如，一个像素单元包括RGBW四个子像素100，三个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，包括多个子像素以及多条第一检测线，所述多个子像素排布为多行多列的阵列，所述第一检测线沿所述阵列的行方向延伸；/n每个子像素包括发光元件以及驱动所述发光元件发光的第一晶体管，/n其中，所述阵列中相邻的第n行和第n+1行子像素构成一个子像素行组，每个子像素行组的两行子像素之间设置有一条所述第一检测线，且所述第一检测线配置为与第n行和第n+1行子像素连接并用于检测所述子像素中的第一晶体管或发光元件的电特性，/nn为大于0的奇数或偶数。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括多个子像素以及多条第一检测线，所述多个子像素排布为多行多列的阵列，所述第一检测线沿所述阵列的行方向延伸；
每个子像素包括发光元件以及驱动所述发光元件发光的第一晶体管，
其中，所述阵列中相邻的第n行和第n+1行子像素构成一个子像素行组，每个子像素行组的两行子像素之间设置有一条所述第一检测线，且所述第一检测线配置为与第n行和第n+1行子像素连接并用于检测所述子像素中的第一晶体管或发光元件的电特性，
n为大于0的奇数或偶数。


2.如权利要求1所述的阵列基板，还包括沿所述行方向延伸的多条第一电源线，
其中，所述第一电源线设置于相邻的两个子像素行组之间，且所述多条第一电源线与所述多条第一检测线交替分布，每条所述第一电源线配置为和与之相邻的两行子像素连接并提供第一电源信号。


3.如权利要求2所述的阵列基板，还包括多条第二电源线，其中，所述多条第二电源线沿所述阵列的列方向延伸，且分别与所述多条第一电源线交叉电连接。


4.如权利要求1所述的阵列基板，还包括多条第二检测线，其中，所述多条第二检测线沿所述阵列的列方向延伸，并分别与所述多条第一检测线交叉电连接。


5.如权利要求4所述的阵列基板，其中，每条第一检测线包括多个沿所述行方向依次布置且彼此绝缘的检测线段，
每个检测线段对应连接至少两个所述子像素且连接到不同的第二检测线。


6.如权利要求5所述的阵列基板，其中，每m个子像素构成一个像素单元，每个检测线段对应连接同一行中的1个或2个所述像素单元，
m＝2、3或4。


7.如权利要求6所述的阵列基板，其中，在所述每个检测线段对应2个所述像素单元的情形，与所述检测线段连接的所述第二检测线设置于所述检测线段所对应的2个像素单元之间。


8.如权利要求1所述的阵列基板，其中，每个子像素还包括第二晶体管、第三晶体管和第一电容；
所述第二晶体管的栅极和第一极分别配置为接收第一扫描信号和数据信号，所述第二晶体管的第二极连接所述第一晶体管的栅极；
所述第一晶体管的第一极配置为接收第一电源信号，所述第一晶体管的第二极分别与所述第三晶体管的第一极以及所述发光元件的第一电极连接；
所述第三晶体管的栅极...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁粲，李永谦，袁志东，李蒙，
申请(专利权)人：合肥鑫晟光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34