一种自由曲面光谱仪制造技术

技术编号:23602356 阅读:36 留言:0更新日期:2020-03-28 04:07
本发明专利技术涉及一种自由曲面光谱仪,该自由曲面光谱仪包括:一主镜,以所述主镜的顶点为第一原点,定义一第一三维直角坐标系(X,Y,Z),且该第一三维直角坐标系(X,Y,Z)为所述全局三维直角坐标系(X

A free-form surface spectrometer

【技术实现步骤摘要】
一种自由曲面光谱仪
本专利技术涉及光学设计领域,具体涉及一种自由曲面光谱仪。
技术介绍
自由曲面是不具备旋转对称性的新型的、复杂的曲面。相对于传统的球面和非球面,自由曲面的像差校正能力更强,特别适合于非轴对称光学系统。近年来,自由曲面光学显著提升了光学系统的性能,并且实现了许多以往难以实现的光学系统形式,有效地简化光学系统,为光学设计领域带来了革命性的突破。光谱仪是一种具有色散器件的光学系统,在化学分析、生命科学等领域有着广泛和重要的应用。特别地,对于频域光学相干层析技术中,需要使用光谱仪对收集到的探测信号进行色散分光。在频域光学相干层析技术中,为了保持深度信号的信噪比,在分光中采用让探测器上的像点位置与波数成线性关系的光谱仪。目前的波数线性光谱仪同时采用光栅和棱镜进行分光,利用两者分光性质的差异使得不同波数的波长在探测器像元阵列上线性分布。然而,现有的波数线性光谱仪由于采用了光栅和棱镜,体积较和重量较大,镜片数量较多,很难实现系统的轻质量与紧凑化。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的不足,提供了一种结构紧凑且与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自由曲面光谱仪,其特征在于,该自由曲面光谱仪的光谱波长范围为760纳米至920纳米,对应于11个波数;在该自由曲面光谱仪光纤出射位置所在的空间中,以光纤出口中心作为原点,定义一全局三维直角坐标系(X

【技术特征摘要】
1.一种自由曲面光谱仪,其特征在于,该自由曲面光谱仪的光谱波长范围为760纳米至920纳米,对应于11个波数;在该自由曲面光谱仪光纤出射位置所在的空间中,以光纤出口中心作为原点,定义一全局三维直角坐标系(X0,Y0,Z0),该自由曲面光谱仪包括:
一主镜,以所述主镜的顶点为第一原点,定义一第一三维直角坐标系(X,Y,Z),且该第一三维直角坐标系(X,Y,Z)为所述全局三维直角坐标系(X0,Y0,Z0)沿Z轴正方向平移得到,在该第一三维直角坐标系(X,Y,Z)中,所述主镜的反射面为一xy多项式自由曲面,且该主镜为具有自由曲面面型的光栅,该自由曲面面型的光栅由一组等间距平行平面与自由曲面相交而得到,其中X轴垂直于平面,向里为正、向外为负;Y轴在平面内竖直,向上为正、向下为负;Z轴在平面内方向水平,向右为正、向左为负;
一次镜,以所述次镜的顶点为第二原点,定义一第二三维直角坐标系(X’,Y’,Z’),且该第...

【专利技术属性】
技术研发人员:许晨赵瑞行王玲
申请(专利权)人:杭州电子科技大学
类型:发明
国别省市:浙江;33

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1