写入次数上限值的设定方法和磁盘装置制造方法及图纸

实施方式提供能够高精度且使处理时间缩短的写入次数上限值的设定方法和磁盘装置。本实施方式的写入次数上限值的设定方法应用于磁盘装置，该磁盘装置具有盘和向所述盘写入数据、从所述盘读取数据的头，在该写入次数上限值的设定方法中，在所述盘的记录区域中，取得多个错误率，基于近似式和第1阈值来设定写入次数上限值，所述近似式是基于与从所述多个错误率选择出的错误率集对应的写入次数集而取得的近似式，所述第1阈值是与不能读取所述盘的数据的错误率对应的阈值。

Setting method and disk device of upper limit value of write times

【技术实现步骤摘要】
写入次数上限值的设定方法和磁盘装置关联申请本申请享受与日本专利申请2018-173877号(申请日：2018年9月18日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
本专利技术的实施方式涉及写入次数上限值的设定方法和磁盘装置。
技术介绍
在磁盘装置中，在写入了数据的情况下，由于从头的磁通泄露等影响(AdjacentTrackInterference：ATI，相邻磁道干扰)，可能会产生数据消失的边侧擦除(sideerase)。ATI例如根据头的特性、每英寸磁道数(TrackperInch：TPI)设定值和写入电流设定值等而不同。为了防止因ATI导致的边侧擦除，磁盘装置具有如下功能(刷新功能)：在向预定磁道的周边磁道写入了数据的次数(写入次数)达到不会因ATI而产生边侧擦除的写入次数上限值(保证次数)之前，将预定磁道的数据重写。
技术实现思路
本专利技术的实施方式提供能够高精度且使处理时间缩短的写入次数上限值的设定和磁盘装置。本实施方式的写入次数上限值的设定方法应用于具有盘和向本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种写入次数上限值的设定方法，其应用于磁盘装置，所述磁盘装置具有盘和向所述盘写入数据、从所述盘读取数据的头，在该写入次数上限值的设定方法中，/n在所述盘的记录区域中，取得多个错误率，/n基于近似式和第1阈值来设定写入次数上限值，所述近似式是基于与从所述多个错误率中选择出的错误率集对应的写入次数集而取得的近似式，所述第1阈值是与不能读取所述盘的数据的错误率对应的阈值。/n

【技术特征摘要】
20180918 JP 2018-1738771.一种写入次数上限值的设定方法，其应用于磁盘装置，所述磁盘装置具有盘和向所述盘写入数据、从所述盘读取数据的头，在该写入次数上限值的设定方法中，
在所述盘的记录区域中，取得多个错误率，
基于近似式和第1阈值来设定写入次数上限值，所述近似式是基于与从所述多个错误率中选择出的错误率集对应的写入次数集而取得的近似式，所述第1阈值是与不能读取所述盘的数据的错误率对应的阈值。


2.根据权利要求1所述的写入次数上限值的设定方法，
基于从所述多个错误率中选择出的第1错误率集，取得第1近似式，
在所述记录区域中，取得与第1写入次数对应的第1错误率，
取得所述第1错误率与基于所述第1近似式和所述第1写入次数计算出的第2错误率之间的第1差分值，
基于从所述多个错误率中选择出的第2错误率集，取得第2近似式，
在所述记录区域中，取得与第2写入次数对应的第3错误率，
取得所述第3错误率与基于所述第2近似式和所述第2写入次数计算出的第4错误率之间的第2差分值，所述第2差分值小于所述第1差分值，
基于与所述第2错误率集对应的第1写入次数集，取得所述近似式。


3.根据权利要求2所述的写入次数上限值的设定方法，
所述第1错误率、所述第2错误率、所述第3错误率和所述第4错误率与所述第1阈值对应。


4.根据权利要求2或3所述的写入次数上限值的设定方法，
所述第1错误率集、所述第2错误率集和所述写入次数集的个数包含相同个数的数值。


5.根据权利要求2或3所述的写入次数上限值的设定方法，
在所述第4错误率小于所述第3错误率的情况下，基于所述第1写入次数集，取得所述近似式。


6.根据权利要求1所述的写入次数上限值的设定方法，
基于从所述多个错误率中选择出的第1错误率集，取得第1近似式，
在所述记录区域中，取得与第1写入次数对应的第1错误率，
取得所述第1错误率与基于所述第1近似式和所述第1写入次数计算出的第2错误率之间的第1差分值，所述第1差分值小于第2阈值，
基于从所述多个错误率中选择出的第2错误率集，取得第2近似式，
在所述记录区域中，取得与第2写入次数对应的第3错误率，
取得所述第3错...

【专利技术属性】
技术研发人员：市原一人，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝电子元件及存储装置株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP