一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统技术方案

一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，其特征是：包括温度检测电路、制冷状态判断电路、中央处理器CPU，所述温度检测电路、制冷状态判断电路、中央处理器CPU依次相连，中央处理器CPU输出端分别与温度检测电路、制冷判断电路和制冷型红外焦平面探测器相连；本发明专利技术结构简单、使用方便，利用迟滞电压比较器芯片的电压比较功能和Hysteresis迟滞功能，使电路增加了冗余制冷状态波动的迟滞判断能力，提高了制冷状态判断的准确度，降低了误判率，同时通过调整数字电位器的阻值大小，能够获得不同的比较电压值和迟滞比较阈值，可以应用于不同系统需求，为类似制冷型焦平面探测器制冷判断系统设计提供了一种有益的借鉴。

A refrigeration state judgment system for a refrigerated infrared focal plane detector

【技术实现步骤摘要】
一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统
本专利技术涉及制冷红外探测器控制系统设计领域，尤其是涉及了一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统。
技术介绍
某飞行装备为了达到满足要求的红外目标探测距离，采用一种制冷型红外焦平面探测器进行红外目标探测制导，而这种制冷型红外焦平面探测器必须达到深度制冷状态后，才能有效工作，所以需要对其工作温度进行精确测量。这种制冷型红外焦平面探测器通常采用测温二极管进行温度测量，在测温二极管输入恒定电流的前提下，其正向压降会随着温度的变化而变化，因此根据测温二极管正向压降测量值即可实现对制冷型红外焦平面探测器制冷状态的检测和判断；但反映制冷状态的测温二极管在进行温度测量时，其输出电压值会有波动，采用常规的制冷判断电路误判率较高，因此需要制冷判断电路具有迟滞判断能力，根据测温二极管输出的电压值，准确判断制冷型红外焦平面探测器是否达到深度制冷状态，避免误判。
技术实现思路
为了克服
技术介绍
中的不足，本专利技术公开了一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，结构简单、使用方便，在给测温二极管注入恒定电流的前提下，具有冗余制冷状态波动的迟滞判断能力，提高了制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断的准确度，降低了误判率。为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，包括温度检测电路、制冷状态判断电路、中央处理器CPU；所述温度检测电路、制冷状态判断电路、中央处理器CPU依次相连，中央处理器CPU输出端分别与温度检测电路、制冷判断电路和制冷型红外焦平面探测器相连。所述温度检测电路包括恒流源芯片U1、测温二极管V1、数字电位器一、数字电位器二；所述恒流源芯片U1的第1脚R通过数字电位器一与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的正极与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的负极通过数字电位器二与恒流源芯片U1的第1脚R相连，恒流源芯片U1的第2脚V+接电源正极VCC,测温二极管V1的负极作为温度检测电路第一输出端TD+，测温二极管V1的正极作为温度检测电路第二输出端TD-；所述制冷状态判断电路包括迟滞电压比较器芯片U2、数字电位器三、数字电位器四、数字电位器五、磁珠Z1；所述温度检测电路第一输出端TD+与迟滞电压比较器芯片U2的第3脚IN+相连，温度检测电路第二输出端TD-通过磁珠Z1和数字电位器三与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-相连，磁珠Z1与数字电位器三间的节点接电源地GND；迟滞电压比较器芯片U2的第6脚REF通过数字电位器五与迟滞电压比较器芯片U2的第5脚HYST相连；数字电位器四一端与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-和数字电位器三间的节点相连，另一端与迟滞电压比较器芯片U2的第5脚HYST和数字电位器五间的节点相连；迟滞电压比较器芯片U2的第1脚GND、第2脚V-均接电源地GND，迟滞电压比较器芯片U2的第7脚V+接电源正极VCC，迟滞电压比较器芯片U2的第8脚OUT与中央处理器CPU输入端相连；所述中央处理器CPU输出端分别与温度检测电路中数字电位器一、数字电位器二的滑动端、制冷状态判断电路中数字电位器三、数字电位器四、数字电位器五的滑动端、以及制冷型红外焦平面探测器相连。优选的，所述温度检测电路和制冷状态判断电路均设置电源滤波电路，其结构相同，均包括电容C1、电容C2，电容C2一端与电源正极VCC相连，另一端与电源地GND相连，电容C1与电容C2并联。优选的，所述恒流源芯片U1型号为LM134，迟滞电压比较器芯片U2型号为MAX921，测温二极管V1型号为1N457。优选的，所述磁珠Z1为600Ω。优选的，所述电源正极VCC为+5V。优选的，所述电容C1、电容C2均为标贴电容，电容C1为10UF，电容C2为0.1UF。由于采用如上所述的技术方案，本专利技术具有如下有益效果：本专利技术提供的一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，结构简单、使用方便，利用迟滞电压比较器芯片电压比较功能和Hysteresis迟滞功能，在测温二极管被注入恒定电流的前提下，通过调整数字电位器的阻值大小，能够根据不同系统需求得到相应的比较电压值和迟滞比较阈值，使制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统增加了冗余制冷状态波动的迟滞判断能力，提高了制冷状态判断的准确度，降低了误判率，为类似制冷型焦平面探测器制冷判断电路设计提供了一种有益的借鉴。附图说明图1为本专利技术制冷状态判断系统结构示意图；图2为本专利技术制冷状态判断系统原理图；图3为本专利技术制冷状态判断系统电源滤波电路原理图。图中：1、温度检测电路；2、制冷状态判断电路；3、中央处理器CPU；4、电源滤波电路；1-1、数字电位器一；1-2、数字电位器二；2-1、数字电位器三；2-2、数字电位器四；2-3、数字电位器五。具体实施方式通过下面的实施例可以详细的解释本专利技术，公开本专利技术的目的旨在保护本专利技术范围内的一切技术改进，本专利技术并不局限于下面的实施例。如图1-3所示，本专利技术一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统包括温度检测电路1、制冷状态判断电路2、中央处理器CPU3，温度检测电路1、制冷状态判断电路2、中央处理器CPU3依次相连，中央处理器CPU3输出端分别与温度检测电路1、制冷判断电路2和制冷型红外焦平面探测器相连。所述温度检测电路1包括恒流源芯片U1、测温二极管V1、数字电位器一1-1、数字电位器二1-2；恒流源芯片U1的第1脚R通过数字电位器一1-1与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的正极与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的负极通过数字电位器二1-2与恒流源芯片U1的第1脚R相连，恒流源芯片U1的第2脚V+接电源正极VCC,测温二极管V1的负极作为温度检测电路1第一输出端TD+，测温二极管V1的正极作为温度检测电路1第二输出端TD-；恒流源芯片U1型号为LM134，测温二极管V1型号为1N457。温度检测电路1用于进行制冷型红外焦平面探测器工作温度的检测，恒流源芯片U1为测温二极管V1提供了恒定电流，在电流恒定的情况下，测温二极管V1的正向压降随着温度的降低而升高，通过测温二极管V1压降值来检测制冷型红外焦平面探测器工作温度的变化情况，并将检测情况通过第一输出端TD+和第二输出端TD-发送至制冷状态判断电路2。根据恒流源芯片LM134的固有特性，其产生的恒定电流ITD+计算公式如下：其中R1和R2分别为数字电位器一1-1和数字电位器二1-2的阻值，零温度系数时R2＝10R1。从上式可以看出，注入测温二极管V1的恒定电流ITD+随着R1和R2变化而变化；中央处理器CPU3输出端分别与温度检测电路1中数字电位器一1-1、数字电位器二1-2的滑动端相连，可以通过中央处理器CPU3调整数字电位器一1-1、数字电位器二1-2的阻值大小，给测温二极管V1提供不同安值的恒定电流，以适应各系统的不本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，其特征是：包括温度检测电路(1)、制冷状态判断电路(2)、中央处理器CPU(3)；所述温度检测电路(1)、制冷状态判断电路(2)、中央处理器CPU(3)依次相连，中央处理器CPU(3)输出端分别与温度检测电路(1)、制冷判断电路(2)和制冷型红外焦平面探测器相连。/n所述温度检测电路(1)包括恒流源芯片U1、测温二极管V1、数字电位器一(1-1)、数字电位器二(1-2)；所述恒流源芯片U1的第1脚R通过数字电位器一(1-1)与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的正极与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的负极通过数字电位器二(1-2)与恒流源芯片U1的第1脚R相连，恒流源芯片U1的第2脚V+接电源正极VCC,测温二极管V1的负极作为温度检测电路(1)第一输出端TD+，测温二极管V1的正极作为温度检测电路(1)第二输出端TD-；/n所述制冷状态判断电路(2)包括迟滞电压比较器芯片U2、数字电位器三(2-1)、数字电位器四(2-2)、数字电位器五(2-3)、磁珠Z1；所述温度检测电路(1)第一输出端TD+与迟滞电压比较器芯片U2的第3脚IN+相连，温度检测电路(1)第二输出端TD-通过磁珠Z1和数字电位器三(2-1)与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-相连，磁珠Z1与数字电位器三(2-1)间的节点接电源地GND；迟滞电压比较器芯片U2的第6脚REF通过数字电位器五(2-3)与迟滞电压比较器芯片U2的第5脚HYST相连；数字电位器四(2-2)一端与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-和数字电位器三(2-1)间的节点相连，另一端与迟滞电压比较器芯片U2的第5脚HYST和数字电位器五(2-3)间的节点相连；迟滞电压比较器芯片U2的第1脚GND、第2脚V-均接电源地GND，迟滞电压比较器芯片U2的第7脚V+接电源正极VCC，迟滞电压比较器芯片U2的第8脚OUT与中央处理器CPU(3)输入端相连；/n所述中央处理器CPU(3)输出端分别与温度检测电路(1)中数字电位器一(1-1)、数字电位器二(1-2)的滑动端、制冷状态判断电路(2)中数字电位器三(2-1)、数字电位器四(2-2)、数字电位器五(2-3)的滑动端、以及制冷型红外焦平面探测器相连。/n...

【技术特征摘要】
1.一种制冷型红外焦平面探测器制冷状态判断系统，其特征是：包括温度检测电路(1)、制冷状态判断电路(2)、中央处理器CPU(3)；所述温度检测电路(1)、制冷状态判断电路(2)、中央处理器CPU(3)依次相连，中央处理器CPU(3)输出端分别与温度检测电路(1)、制冷判断电路(2)和制冷型红外焦平面探测器相连。
所述温度检测电路(1)包括恒流源芯片U1、测温二极管V1、数字电位器一(1-1)、数字电位器二(1-2)；所述恒流源芯片U1的第1脚R通过数字电位器一(1-1)与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的正极与恒流源芯片U1的第3脚V-相连，测温二极管V1的负极通过数字电位器二(1-2)与恒流源芯片U1的第1脚R相连，恒流源芯片U1的第2脚V+接电源正极VCC,测温二极管V1的负极作为温度检测电路(1)第一输出端TD+，测温二极管V1的正极作为温度检测电路(1)第二输出端TD-；
所述制冷状态判断电路(2)包括迟滞电压比较器芯片U2、数字电位器三(2-1)、数字电位器四(2-2)、数字电位器五(2-3)、磁珠Z1；所述温度检测电路(1)第一输出端TD+与迟滞电压比较器芯片U2的第3脚IN+相连，温度检测电路(1)第二输出端TD-通过磁珠Z1和数字电位器三(2-1)与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-相连，磁珠Z1与数字电位器三(2-1)间的节点接电源地GND；迟滞电压比较器芯片U2的第6脚REF通过数字电位器五(2-3)与迟滞电压比较器芯片U2的第5脚HYST相连；数字电位器四(2-2)一端与迟滞电压比较器芯片U2的第4脚IN-和数字电位器三(2-1)间的节点相连，另一端与迟滞电压比较器芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：段萌，李旭，董常军，郭向楠，王朝林，秦金明，唐耀飞，
申请(专利权)人：中国空空导弹研究院，
类型：发明
国别省市：河南;41