【技术实现步骤摘要】
石墨盘修补方法
本专利技术涉及一种石墨盘修补方法,尤其涉及一种应用于有机金属化学气相沉积(MetalOrganicChemicalVaporDeposition,MOCVD)磊晶炉的石墨盘(GraphiteSusceptor,GraphiteCarrier)的修补方法。
技术介绍
近年来氮化镓(GaN)系列化合物半导体材料,已经被成功应用于发光二极管(LightEmittingDiode,简称LED)照明,并将成为新一代5G行动通讯系统中不可或缺的高频与大功率微波电子组件,未来氮化镓(GaN)电子组件若能大量应用于电力转换设备上,还可在每个变电环节,减少电能耗损,堪称最具发展潜力的第三代半导体材料,而目前商品化的氮化镓(GaN)是半导体光电组件,大都是以MOCVD磊晶技术制作。LED芯片的良率,是由其发光波长的均匀性所决定,MOCVD磊晶炉为了精确调控LED磊晶圆发光波长的均匀性,其石墨盘需配合加热器,提供一优化晶圆温度均匀性,以沉积高质量的磊晶层,故石墨盘为MOCVD磊晶炉中非常重要的一个组件,同时也是LED磊晶厂
【技术保护点】
1.一种石墨盘修补方法,应用于修复回收的报废石墨盘(300),所述报废石墨盘(300)包含有一顶面凹设有至少一片坑(110)的石墨底材(10)、及一包覆于所述石墨底材(10)表面外的碳化硅镀层(20),且所述报废石墨盘(300)还具有至少一蛀孔(30),所述蛀孔(30)位于所述碳化硅镀层(20)下方,是由氨气蚀刻石墨底材(10)形成的空孔,其特征在于:包括下列步骤:/n判断步骤(Ⅰ):清除报废石墨盘(300)上蛀孔(30)处已被氨气蚀刻形成的多孔状石墨(40),判断出受损范围(1);/n加工步骤(Ⅱ):通过机械加工,在报废石墨盘(300)上加工出能涵盖受损范围(1)的凹陷部 ...
【技术特征摘要】
1.一种石墨盘修补方法,应用于修复回收的报废石墨盘(300),所述报废石墨盘(300)包含有一顶面凹设有至少一片坑(110)的石墨底材(10)、及一包覆于所述石墨底材(10)表面外的碳化硅镀层(20),且所述报废石墨盘(300)还具有至少一蛀孔(30),所述蛀孔(30)位于所述碳化硅镀层(20)下方,是由氨气蚀刻石墨底材(10)形成的空孔,其特征在于:包括下列步骤:
判断步骤(Ⅰ):清除报废石墨盘(300)上蛀孔(30)处已被氨气蚀刻形成的多孔状石墨(40),判断出受损范围(1);
加工步骤(Ⅱ):通过机械加工,在报废石墨盘(300)上加工出能涵盖受损范围(1)的凹陷部(2);
填补步骤(Ⅲ):以由石墨块材加工而成的石墨修补块(3),对凹陷部(2)进行相应的填补动作,填补完成之后,再加工修整至符合报废石墨盘(300)的原有外型,使其成为报废石墨盘(300)的一部分;以及
修补步骤(Ⅳ):以纯硅焊料(4)进行硬焊,接合石墨修补块(3)与报废石墨盘(300),在石墨修补块(3)表面反应生长出碳化硅,与报废石墨盘(300)原有的碳化硅镀层(20)结合为一体。
2.根据权利要求1所述的石墨盘修补方...
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