一种图像边缘检测系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种图像边缘检测系统及方法，其中系统包括：光调制模块，用于采用光线对待检测图像进行处理后，输出加载有图像信息的载波；超表面模块，用于接收从预设角度发射过来的载波，使载波穿过超表面模块；检测模块，用于接收穿过超表面模块的载波，对接收到的载波进行处理后，输出图像边缘信息。本发明专利技术利用超表面结构对光信号的干涉和衍射等模拟特性进行控制，只需将带有图像信息的载波经过超表面结构后，即可检测获得相应的图像边缘信息，极大地提高了图像边缘检测的效率。另外，无需使用两个透镜进行傅里叶变换和傅里叶逆变换，极大地减少了体积，更有利于集成化和产业化，可广泛应用于图像边缘检测领域。

An image edge detection system and method

【技术实现步骤摘要】
一种图像边缘检测系统及方法
本专利技术涉及图像边缘检测领域，尤其涉及一种图像边缘检测系统及方法。
技术介绍
图像边缘检测广泛应用计算机视觉、模式识别等新兴领域，其处理方法主要有以下几种方式：1、基于电子设备的信息处理：从外部通过采样提取相应的模拟信号，然后转化为适合电子设备处理的数字信号，接着利用电子设备的逻辑电路实现数值运算，最后输出为相应的信息。2、基于透镜的光信号处理：使用透镜将相关信息转换到傅里叶域，然后利用相关硬件进行傅里叶域处理，最后进行逆傅里叶变换，从而得到对应的目标信息。利用电子设备进行处理，其电路固有的半导体特性限制了数据的运算速度和功耗。例如医学图像处理和卫星拍摄等领域要求实时进行海量的数据处理，因此传统的电子设备将难以肩负重任。另外，通过增加计算机的数量及利用并行计算等技术可以提高处理数据的速度，但是该方案将增加经济成本并带来能源消耗问题。基于透镜的光信号处理方法需要用到两个透镜进行处理，所以使得整个系统体积较大而笨重，不利于集成。
技术实现思路
为了解决上述技术问题之一，本专利技术的目的是提供一种利用超表面结构对光信号的干涉和衍射等模拟特性，实现更高效的图像边缘检测系统及方法。本专利技术所采用的第一技术方案是：一种图像边缘检测系统，包括：光调制模块，用于采用光线对待检测图像进行处理后，输出加载有图像信息的载波；超表面模块，用于接收从预设角度发射过来的载波，使载波穿过超表面模块；检测模块，用于接收穿过超表面模块的载波，对接收到的载波进行处理后，输出图像边缘信息。进一步，所述超表面模块包括多个呈周期性排布的微纳结构重复单元。进一步，所述微纳结构重复单元呈柱状。进一步，所述微纳结构重复单元由高折射率介质制成。进一步，所述预设角度为30°-46°。进一步，所述光调制模块采用空间光调制器。进一步，所述检测模块包括光束轮廓仪或幅度检测器。本专利技术所采用的第二技术方案是：一种图像边缘检测方法，包括以下步骤：采用光线对待检测图像进行处理后，获得加载有图像信息的载波；将载波按照预设角度发射至超表面模块，使载波穿过超表面模块；获取穿过超表面模块的载波，并对获得的载波进行处理后，输出图像边缘信息。进一步，所述预设角度为30°-46°。进一步，所述超表面模块包括多个呈周期性排布的微纳结构重复单元。本专利技术的有益效果是：本专利技术利用超表面结构对光信号的干涉和衍射等模拟特性进行控制，只需将带有图像信息的载波经过超表面结构后，即可检测获得相应的图像边缘信息，极大地提高了图像边缘检测的效率。另外，无需使用两个透镜进行傅里叶变换和傅里叶逆变换，极大地减少了体积，更有利于集成化和产业化。附图说明图1是本专利技术一种图像边缘检测系统的结构示意图；图2是具体实施例中超表面模块的结构示意图；图3是具体实施例中横电波的传递函数图；图4是具体实施例中横磁波的传递函数图；图5是具体实施例中待检测图像的示意图；图6是具体实施例中沿X方向偏振下的边缘检测示意图；图7是具体实施例中沿Y方向偏振下的边缘检测示意图；图8是具体实施例中非偏振光下的边缘检测示意图；图9是本专利技术一种图像边缘检测方法的步骤流程图。具体实施方式如图1所示，本实施例提供了一种图像边缘检测系统，包括：光调制模块，用于采用光线对待检测图像进行处理后，输出加载有图像信息的载波；超表面模块，用于接收从预设角度发射过来的载波，使载波穿过超表面模块；检测模块，用于接收穿过超表面模块的载波，对接收到的载波进行处理后，输出图像边缘信息。所述光调制模块主要用于进行数据信息加载，加载图像上的信息；具体地，可利用光源照射目标物体、采用空间光调制器产生图像等各种技术方案进行信息加载，在本实施例中并不进行限制，只需将图像的信息加载在光的载波上即可。所述超表面模块具有超表面结构，当载波照射到超表面模块后，由于超表面的透射存在空间色散，即其透射率依赖于入射角度，所以存在“直接进行傅里叶域运算操作”的机制，故不需要额外的透镜来实现入射波携带信息转换到傅里叶域。本实施例中的超表面模块采用现有的超表面结构来实现即可，并不进行限制。具体地，在载波射入超表面模块时，调节载波出口与超表面的距离，使一定角度范围内的载波照射在特定设计的超表面上。所述检测模块用于接收到经过超表面模块处理的载波后，分析穿过超表面后的载波，以及对数据处理后输出图像边缘信息。其中，可采用光束轮廓仪或幅度检测器等仪器作为探测器，来对载波的接收和分析，最后采用现有的设备对检测到的载波值进行二值化或其它方式处理，从而得到图像边缘信息，比如计算机。参照图1，具体的工作原理为：图1中(a)为源图像示意图，(b)为对图(a)进行边缘检测的结果。当入射光线经过待检测图像后，得到载波，载波穿过超表面，由探测器检测获得，最终经过二值化处理后，得到图像边缘信息。参照图2，进一步作为优选的实施方式，所述超表面模块包括多个呈周期性排布的微纳结构重复单元。所述微纳结构重复单元呈柱状。所述微纳结构重复单元由高折射率介质制成。所述超表面模块的核心部件是介质柱(即微纳结构重复单元)，该介质柱可以放置于衬底上、悬空或嵌在某种材料中。对于这三种情况，需要根据实际情况调整结构参数、预设角度等。参照图2，在本实施例中，介质柱按一定周期排列，是一种悬空的状态，并无需衬底。在本实施例中，所述微纳结构重复单元采用柱状结构，但是不局限于柱状结构，采用其他形式的结构单元也可以通过合适设计实现类似功能。如图2所示，周期性排列的介质柱结构按一定的间距分布X-Y平面上。进一步作为优选的实施方式，所述预设角度为30°-46°。所述预设角度可以为30°-46°，在本实施例中，预设角度优选40°，在该角度下，其对应每个像素在每个方向的尺寸是0.78λ。进一步作为优选的实施方式，所述光调制模块采用空间光调制器。光调制模块可以采用空间光调制器，但是不局限于这一种选择，只要可以将图像信息加载在光的场分布即可。进一步作为优选的实施方式，所述检测模块包括光束轮廓仪或幅度检测器。所述光束轮廓仪或幅度检测器用于检测信号，但是不局限于这两种选择，只要可以检测(电)场分布或光强度即可。以下结合图3至图8对上述系统的工作原理进行详细的解释说明。在理想情况下，拉普拉斯算子对应的传递函数为其中kx和ky为波数。说明在整个傅里叶域中，对应到kx-ky平面，与原点(0,0)距离相同的每一点都具有相同的值。在实际的图像边缘检测中，在频域中运用拉普拉斯运算，其效果可以等效为将高频分量乘以较大的正数值，而低频分量乘以较低的正数值或零。所以，在比较不理想的传递函数的情况下，只要超表面传递函数幅值的趋势可以等效运用拉普拉斯运算的效果，就实现图像边缘检测。计算不同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种图像边缘检测系统，其特征在于，包括：/n光调制模块，用于采用光线对待检测图像进行处理后，输出加载有图像信息的载波；/n超表面模块，用于接收从预设角度发射过来的载波，使载波穿过超表面模块；/n检测模块，用于接收穿过超表面模块的载波，对接收到的载波进行处理后，输出图像边缘信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种图像边缘检测系统，其特征在于，包括：
光调制模块，用于采用光线对待检测图像进行处理后，输出加载有图像信息的载波；
超表面模块，用于接收从预设角度发射过来的载波，使载波穿过超表面模块；
检测模块，用于接收穿过超表面模块的载波，对接收到的载波进行处理后，输出图像边缘信息。


2.根据权利要求1所述的一种图像边缘检测系统，其特征在于，所述超表面模块包括多个呈周期性排布的微纳结构重复单元。


3.根据权利要求2所述的一种图像边缘检测系统，其特征在于，所述微纳结构重复单元呈柱状。


4.根据权利要求2所述的一种图像边缘检测系统，其特征在于，所述微纳结构重复单元由高折射率介质制成。


5.根据权利要求1所述的一种图像边缘检测系统，其特征在于，所述预设角度为30°-46°...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯天华，潘丹平，张卫，亚历山大波特波夫，
申请(专利权)人：暨南大学，
类型：发明
国别省市：广东;44