一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法技术

本发明专利技术公开了一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法，包括以下步骤：S1：根据圆柱面选择理论圆柱面基准；S2：对零件的待加工面和参考部分别进行检测；S3：通过对圆柱面检测点进行拟合得到拟合圆柱面基准，通过理论圆柱面基准向拟合圆柱面基准运动，得到第一旋转矩阵R

A registration method based on datum constraint and residual constraint of cylinder

【技术实现步骤摘要】
一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法
本专利技术涉及机械加工
，具体涉及一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法。
技术介绍
对于大尺寸的航空结构件，由于其装配的要求，需要保持不同零件之间相关孔或轴的位置关系，因此对于每个零件来说，孔或轴的位置极其重要，其他的几何特征需要保证相对于这些孔或轴的位置关系。例如对于某大型滑轨零件，其导轨面相对于某基准孔的位置关系是该零件的重要指标，对保证飞机襟翼的运动具有重要的作用。由于孔或轴的加工方法较为简单，因此通常在精加工前已完成了制备，精加工过程仅针对轮廓度要求较高或变形较大的曲面进行加工，且精加工的面仅具有少量的加工余量。在基准轴或基准孔已加工完成的情况下，对于这种对加工精度与位置度有要求的待加工面，应当使用已加工好的理论圆柱面基准作为约束，在零件安装于机床后进行反复地找正，使得加工后的面能够保持与理论圆柱面基准之间的位置关系，并使得待加工面具有较好的余量分布。即考虑到后续的检测、装配工序，必须首先保证待加工面相对于理论圆柱面基准的位置关系，再进行余量的适应性分配。针对这种基本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：将待加工的零件固定后，根据零件的待加工面的设计要求或检测要求确定参考部，所述参考部为圆柱面，根据圆柱面选择理论圆柱面基准；/nS2：对零件的待加工面和参考部分别进行检测，分别得到待加工面检测点和圆柱面检测点；/nS3：通过对圆柱面检测点进行拟合得到拟合圆柱面基准，通过理论圆柱面基准向拟合圆柱面基准运动，得到第一旋转矩阵R

【技术特征摘要】
1.一种基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：将待加工的零件固定后，根据零件的待加工面的设计要求或检测要求确定参考部，所述参考部为圆柱面，根据圆柱面选择理论圆柱面基准；
S2：对零件的待加工面和参考部分别进行检测，分别得到待加工面检测点和圆柱面检测点；
S3：通过对圆柱面检测点进行拟合得到拟合圆柱面基准，通过理论圆柱面基准向拟合圆柱面基准运动，得到第一旋转矩阵R1和第一平移矢量T1，再根据第一旋转矩阵R1和第一平移矢量T1将待加工面检测点进行变换得到理论加工点；
S4：根据理论圆柱面基准建立局部坐标系，然后在局部坐标系下建立配准模型，通过局部坐标系限制运动自由度，通过余量约束控制待加工面的加工余量，并求解配准模型；
S5：将局部坐标系中计算的配准结果转换至全局坐标系中并输出最终的配准结果。


2.根据权利要求1所述基于圆柱面基准约束与余量约束的配准方法，其特征在于，步骤S5中，将局部坐标系导入全...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱燏，肖世宏，王文理，
申请(专利权)人：中国航空制造技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11