【技术实现步骤摘要】
一种用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法
本专利技术属于光学检测领域，具体涉及一种用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法。
技术介绍
随着光学、机械技术的不断发展，球类、超半球和近似半球元件的应用越发广泛，如在光学领域的微球透镜、惯性约束聚变领域的球型靶丸和各种光学模压镜片的模具等，有必要采用高精度的表面形貌检测方法对各类球类元件进行全表面形貌(粗糙度与微轮廓)检测。显微干涉检测方案每次只能测量球体表面的部分球冠区域即子孔径区域，为了实现球体的全表面形貌检测，将球体按一定规律划分为大量的孔径，使检测孔径覆盖球体全表面，并且相邻孔径间有一定的重叠。逐个高精度检测这些孔径，再利用拼接算法将所有孔径形貌数据拼接成球体完整形貌特征，是必须的检测流程。其中，根据测量仪器对子孔径大小的限制和被测球体的直径等参数，自动划分子孔径分布是全自动测量仪器的必要功能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法，对被测球面的子孔径位置进行排布，用于确定各检测子孔径间的旋转角，从而指导检测...
【技术保护点】
1.一种用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法，其特征在于，实现步骤如下：/n步骤1：假设在球体全表面分布若干相同的子孔径，使得同一纬线层上相邻的两个子孔径相交，同一经线上相邻的两个子孔径相交，南北极点处也存在一个子孔径；确定球体半径R及子孔径底面半径r
【技术特征摘要】
1.一种用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法，其特征在于，实现步骤如下：
步骤1：假设在球体全表面分布若干相同的子孔径，使得同一纬线层上相邻的两个子孔径相交，同一经线上相邻的两个子孔径相交，南北极点处也存在一个子孔径；确定球体半径R及子孔径底面半径r0，将球体半径归一化得到单位球，归一化半径条件下的子孔径底面半径r＝r0/R，确定同一纬线层上相邻两个子孔径的重叠系数λ，转入步骤2；
步骤2：令第一纬线层的相邻子孔径上交点距球北极点P的长度等于北极点子孔径大圆弧长度的一半，计算沿经线方向的摆动角β1，沿第一纬线层采样时的自旋角α1，转入步骤3；
步骤3：令第i纬线层相邻子孔径下交点距球极点的长度等于第i+1纬线层相邻子孔径上交点距球极点的长度计算沿经线方向采样的角β2、β3……βi+1，沿各个纬线层采样时的角α2、α3……αi+1，直至βi+1＞π/2，转入步骤4；
步骤4：计算每一纬线层的子孔径个数Mi并根据Mi修正αi，计算半球所需的子孔径个数M及全球所需的子孔径个数MTotal。
2.根据权利要求1所述的用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法，其特征在于：所述步骤1中，重叠系数λ指同一纬线层上相邻两个子孔径间的重叠部分大圆弧长度与过上述任意一个子孔径中心点的子孔径大圆弧长度之比。
3.根据权利要求1所述的用于球体全表面形貌检测的子孔径排布方法，其特征在于：所述步骤2中北极点子孔径指中心在球的北极点P处的子孔径，第一纬线层指采集完球的北极点子孔径后，沿经线方向摆动采集的第一个子孔径所在的纬线层；第一纬线层上相邻子孔径的交点离P点近的...
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