一种新型封装二极管的电性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种新型封装二极管的电性能测试装置，包括：两个相配合的固定块，固定块之间通过螺杆连接；以及多个测试探针，各测试探针一端均与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；其中，固定块内均布设置有多个安装孔，各测试探针分别滑动设置于各所述安装孔内。采用本实用新型专利技术的封装二极管的测试装置，使测试探针能够根据实际封装二极管引脚的大小进行适应性调节安装，扩大使用范围，提高适应性与利用率。

A new device for measuring the electrical properties of packaged diodes

【技术实现步骤摘要】
一种新型封装二极管的电性能测试装置
本技术涉及一种测试装置。更具体地说，本技术涉及一种新型封装二极管的电性能测试装置。
技术介绍
二极管是一种非常重要的电子元件，一种具有两个电子件的装置，只允许电流由单一方向流过，反向时阻断，二极管单向导电特性，几乎在所有的电子电路中，都要用到二极管。二极管有电子二极管和晶体二极管之分，由于电子二极管的诸多缺陷，晶体二极管已经成为主流。而对于晶体二极管，其封装加工，至关重要，封装的工艺将直接决定二极管的使用效果及使用时间。封装二极管广泛应用于太阳能电池的旁路保护，主要测试项目是正向导通压降和反向漏电流。现目前针对封装二极管的常规测量装置是采用专用的四线测试装置，但常规的测试设备功能单一，一种测试装置只能测量同样尺寸大小的封装二极管，无法根据实际封装二极管的引脚宽度进行适应性调节，使测试装置的利用率低下、使用范围小。
技术实现思路
本技术的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。为了实现根据本技术的这些目的和其它优点，提供了一种新型封装二极管的电性能测试装置，包括：两个相配合的固定块，所述固定块之间通过螺杆连接；以及多个测试探针，各所述测试探针一端均与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；其中，所述固定块内均布设置有多个安装孔，各所述测试探针分别可拆卸设置于各所述安装孔内。优选的是，其中，所述测试探针被设置为4个。优选的是，其中，各所述测试探针均包括：第一导电柱，其被设置为空心结构，所述第一导电柱的一端与所述数字源表连通；以及第二导电柱，其与所述第一导电柱相配合设置，所述第二导电柱被设置为实心结构，所述第二导电柱的一端与所述引脚连接接触，且所述第二导电柱可在所述第一导电柱内滑动；其中，所述第一导电柱上间隔预设距离均布设置有多个贯穿的通孔，所述第一导电柱与所述第二导电柱之间设置通过一伸缩弹簧连接，所述通孔上还相配合设置有一限位棒。优选的是，其中，所述第二导电柱的一端设置有一螺纹，其上可拆卸式连接有一探头。优选的是，其中，所述探头为圆头或尖头的其中一种。优选的是，其中，所述固定块的材质被设置为绝缘材料。优选的是，其中，所述绝缘材料采用ABS树脂材料。优选的是，其中，所述安装孔由两个分别开设于各所述固定块上的半圆状内凹槽构成。本技术至少包括以下有益效果：通过螺杆连接的两个固定块能够快速高效实现拆装，从而高效的实现对测试探针固定与松开，进而缩短测试拆装时间，同时在固定块内均布设置有多个安装孔，其目的在于使测试探针在固定块内具有多个安装卡紧位置，使测试探针能够根据实际封装二极管引脚的大小进行适应性调节安装，从而使测试装置能够针对不同体积尺寸大小的封装二极管进行测试，使测试范围增广，提高适应性与利用率。本技术的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。附图说明图1示出了封装二极管的测试装置整体结构图；图2示出了测试探针的内部结构图；图3示出了测试探针的外部结构图。具体实施方式下面结合附图对本技术做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。应当理解，本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或多个其它元件或其组合的存在或添加。图1示出了根据本技术一种新型封装二极管的电性能测试装置的一种实现形式，其中包括：两个相配合的固定块1，所述固定块之间通过螺杆2连接；通过螺杆连接的两个固定块能够快速高效实现拆装。以及多个测试探针3，各所述测试探针一端均与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；具体连接方式为：位于两端的测试探针一端接数字源表输入端，输入需要的电流或电压；位于中间的测试探针一端接数字源表测试端，测量二极管两端的电压或电流值，同时，处于相邻的两个测试探针为一组，另一端分别与封装二极管的正负极接触；当测量正向导通压降时，位于两端的测试探针接数字源表的输入端，中间两个测试探针接数字源表的输出端，输入设定电流，测量该输入电流条件下的正向压降。测量反向漏电流时，位于两端的测试探针接数字源表的输入端，中间两个测试探针接数字源表的输出端，输入设定电压，测量该输入电压条件下的漏电流。其中，所述固定块内均布设置有多个安装孔4，各所述测试探针3分别可拆卸设置于各所述安装孔内。通过将两个固定块1设置为螺杆2拆装，实现对测试探针3的可拆卸式安装与固定，方便测试探针3在固定块1内的固定与松开，固定块1内均布设置有多个安装孔4，其目的在于使测试探针3在固定块1内具有多个安装卡紧位置，使测试探针3能够根据实际封装二极管引脚的大小进行适应性调节，从而使测试装置能够针对不同尺寸大小的封装二极管进行测试，扩增测试范围，提高适应性与利用率。在另一种实例中，所述测试探针被设置为4个。将测试探针设置为4个，主要使其与封装二极管的引脚能够相适配接触，使其能够对封装二极管的反向漏电流及正向导通压降进行检测。在另一种实例中，各所述测试探针均包括：第一导电柱5，其被设置为空心结构，所述第一导电柱5的一端与所述数字源表连通；以及第二导电柱6，其与所述第一导电柱5相配合设置，所述第二导电6柱被设置为实心结构，所述第二导电柱6的一端与所述引脚连接接触，且所述第二导电柱6可在所述第一导电柱5内滑动；第二导电柱在第一导电柱内可滑动的同时，还与第一导电柱相接触，保证电性连通。其中，所述第一导电柱5上间隔预设距离均布设置有多个贯穿的通孔7，所述第一导电柱5与所述第二导电柱6之间设置通过一伸缩弹簧8连接，所述通孔7上还相配合设置有一限位棒9。测试探针在进行检测实验时，位于上端的第一导电柱5在与数字源表连通后，通过人工手动挤压或者机械按压使其固定在安装孔内且位置不变动，位于下端的第二导电柱6能够在第一导电柱5内上下滑动，再通过设置在第一导电柱周向上的限位棒9，通过改变其在第一导电柱5上不同贯穿通孔7内的固定安装位置，进而再贯穿设置在第一导电柱5与第二导电柱6之间的伸缩弹簧8，通过改变第一导电柱5与第二导电柱6之间伸缩弹性的有效弹性力作用圈数(伸缩弹簧在某处被限位棒贯穿后，那么从该贯穿位置直至与第二导电柱接触的那一段伸缩弹簧上，就不能对第二导电柱施加弹性力了)，使其能够调节第一导电柱5与第二导电柱6之间的弹性压力，进而使第二导电柱6与引脚之间的接触压力可调，实现不同接触压力下的数据可测。在另一种实例中，所述第二导电柱的一端设置有一螺纹，其上可拆卸式连接有一探头10。第二导电柱的一端设置为螺接的探头，使探头更换更加便捷高效。在另一种实例中，所述探头为圆头或尖头的其中一种。将探头设置为圆头或尖头，使第二导电柱与引脚接触时的接触面积可调，使其能检测不同接触面积下的实验数据。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型封装二极管的电性能测试装置，其特征在于，包括：/n两个相配合的固定块，所述固定块之间通过螺杆连接；/n以及多个测试探针，各所述测试探针一端与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；/n其中，所述固定块内均布设置有多个安装孔，各所述测试探针分别可拆卸设置于各所述安装孔内。/n

【技术特征摘要】
1.一种新型封装二极管的电性能测试装置，其特征在于，包括：
两个相配合的固定块，所述固定块之间通过螺杆连接；
以及多个测试探针，各所述测试探针一端与封装二极管的引脚接触，另一端与数字源表连通；
其中，所述固定块内均布设置有多个安装孔，各所述测试探针分别可拆卸设置于各所述安装孔内。


2.根据权利要求1所述的一种新型封装二极管的电性能测试装置，其特征在于，所述测试探针被设置为4个。


3.根据权利要求1所述的一种新型封装二极管的电性能测试装置，其特征在于，各所述测试探针均包括：
第一导电柱，其被设置为空心结构，所述第一导电柱的一端与所述数字源表连通；
以及第二导电柱，其与所述第一导电柱相配合设置，所述第二导电柱被设置为实心结构，所述第二导电柱的一端与所述引脚连接接触，且所述第二导电柱可在所述第一导电柱内滑动；
其中，所述第一导电柱上间隔预...

【专利技术属性】
技术研发人员：范晓鹏，陈培专，李劼，魏昌华，高翔，
申请(专利权)人：绵阳金能移动能源有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51