切割电极片的设备和方法技术

根据本发明专利技术的切割电极片的设备包括：传送单元，传送单元将在侧表面形成有多个凹口槽的电极片经由测量点一直传送至切割点，使得当形成在电极片中的这些凹口槽之中的、设置在前端的凹口槽经过切割点时，设置在所述前端的凹口槽的后端的凹口槽经过测量点；检测单元，检测单元设置在测量点处，以检测经过测量点的电极片的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号；和切割单元，切割单元设置在切割点处，以根据由检测单元产生的凹口槽检测信号来切割其中设置有经过切割点的凹口槽的电极片。

Equipment and method of cutting electrode

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】切割电极片的设备和方法
相关申请的交叉引用本申请要求于2018年5月4日提交的韩国专利申请第10-2018-0051716号的优先权的权益，通过引用将上述专利申请整体结合在此。
本专利技术涉及一种切割电极片的设备和方法，更具体地说，涉及一种通过检测形成在电极片中的凹口槽来切割电极片，以提高切割精度的切割电极片的设备和方法。
技术介绍
通常来说，与不可充电的一次电池不同，二次电池(secondarybattery)是指可充电和可放电的电池。二次电池在诸如移动电话、笔记本电脑和便携式摄像机之类的高科技电子领域中广泛使用。这种二次电池分为电极组件内置于金属罐中的罐型二次电池和电极组件内置于袋中的袋型二次电池。袋型二次电池包括电极组件、电解质、以及容纳电极组件和电解质的袋。此外，电极组件具有其中多个电极和多个隔膜交替堆叠的结构。通过切割设备以规则的间隔切割长片状的电极片来制造电极。在此，切割设备检测形成在电极片上的电极接片，从而以规则的间隔切割电极片。然而，在切割设备中，当形成在电极片上的电极接片变形，例如，折叠或抬起时，电极片的切割时间点发生变化，从而引起电极片被不规则地切割而制造出有缺陷的电极的问题。
技术实现思路
技术问题本专利技术致力于解决上述问题，本专利技术的目的是提供一种切割电极片的设备和方法，其中通过检测形成在电极片的长度方向上的凹口槽来切割电极片，以恒定地保持电极片的切割时间点，从而提高电极片的切割精度并防止制造出有缺陷的电极。技术方案为了实现上述目的，根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的设备包括：传送单元，所述传送单元将在侧表面形成有多个凹口槽的电极片经由测量点一直传送至切割点，使得当形成在所述电极片中的这些凹口槽之中的、设置在前端的凹口槽经过所述切割点时，设置在所述前端的凹口槽的后端的凹口槽经过所述测量点；检测单元，所述检测单元设置在所述测量点处，以检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号；和切割单元，所述切割单元设置在所述切割点处，以根据由所述检测单元产生的所述凹口槽检测信号来切割其中设置有经过所述切割点的凹口槽的电极片。所述检测单元可包括线传感器，所述线传感器安装在与所述电极片的传送方向垂直的方向上，以检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生所述凹口槽检测信号，其中所述线传感器可包括多个光接收元件，并且所述多个光接收元件通过当所述电极片的凹口槽经过所述测量点时发生的透过率的变化来检测凹口槽。所述凹口槽可包括彼此面对分别形成在所述电极片的两个侧表面的第一凹口槽和第二凹口槽，并且所述线传感器可包括第一线传感器和第二线传感器，以检测所述第一凹口槽和所述第二凹口槽。即使通过所述第一线传感器和所述第二线传感器检测到所述第一凹口槽和所述第二凹口槽中的任意一个凹口槽，所述线传感器也可产生所述凹口槽检测信号。当通过所述第一线传感器和所述第二线传感器检测到所述第一凹口槽和所述第二凹口槽两者时，所述线传感器可根据检测到所述第一凹口槽的时间点和检测到所述第二凹口槽的时间点的平均值来产生所述凹口槽检测信号。当通过所述第一线传感器和所述第二线传感器均未检测到所述第一凹口槽和所述第二凹口槽时，所述线传感器可产生凹口槽缺陷信号。在所述电极片的形成有所述第一凹口槽的一个侧表面上可设置有电极接片，并且检测所述第一凹口槽的所述第一线传感器还可通过当所述电极接片经过时发生的透过率的变化来检测所述电极接片是否有缺陷。根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的方法包括：步骤(a)，利用传送单元将在侧表面形成有多个凹口槽的电极片经由测量点一直连续传送至切割点，使得当形成在所述电极片中的这些凹口槽之中的、设置在前端的凹口槽经过所述切割点时，设置在所述前端的凹口槽的后端的凹口槽经过所述测量点；步骤(b)，检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号；和步骤(c)，当产生所述凹口槽检测信号时，利用切割单元切割其中设置有经过所述切割点的凹口槽的电极片，以制造单元电极。所述步骤(b)可进一步包括以下步骤：利用检测单元，通过当设置在所述电极片的一个侧表面上的电极接片经过时发生的透过率的变化来检测所述电极接片是否有缺陷。在根据本专利技术另一实施方式的切割电极片的设备中，检测单元安装在测量点处，并且所述设备进一步包括调节单元，所述调节单元被安装成在与电极片的传送方向垂直的方向上是可移动的，使得所述检测单元的位置被调节成与经过所述测量点的凹口槽对应。有益效果第一：本专利技术的切割设备可包括传送单元、检测单元和切割单元。检测单元可检测形成在电极片的侧表面的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号，并且切割单元可根据由检测单元产生的凹口槽检测信号来切割电极片。因而，可更精确地检测电极片的切割时间点，以提高电极片的切割精度，从而防止制造出有缺陷的电极。第二：本专利技术的检测单元可包括线传感器，线传感器通过当电极片的凹口槽经过时发生的透过率的变化来检测凹口槽，以更精确地检测凹口槽，从而更精确地检测电极片的切割时间点。第三：本专利技术的凹口槽可包括彼此面对分别形成在电极片的两个侧表面的第一凹口槽和第二凹口槽。线传感器可包括第一线传感器和第二线传感器，以检测第一凹口槽和第二凹口槽，从而提高对凹口槽的灵敏度。第四：即使通过第一线传感器和第二线传感器检测到第一凹口槽和第二凹口槽中的任意一个凹口槽，本专利技术的线传感器也可产生凹口槽检测信号，从而预先防止由于没有检测到凹口槽而发生的事故。第五：当通过第一线传感器和第二线传感器检测到第一凹口槽和第二凹口槽两者时，本专利技术的线传感器根据检测到第一凹口槽的时间点和第二凹口槽的时间点的平均值来产生凹口槽检测信号。因而，可均匀地控制电极片的切割时间点，以制造具有均匀品质的电极。当检测到第一凹口槽的时间点和检测到第二凹口槽的时间点在设定时间内时，本专利技术的线传感器确定此状态为正常，并且当所述时间点超出设定时间时，线传感器确定此状态为歪斜故障，因而可停止传送单元的传送。第六：当通过第一线传感器和第二线传感器均未检测到第一凹口槽和第二凹口槽时，本专利技术的线传感器可产生凹口槽缺陷信号，以预先防止连续切割有缺陷的电极片。第七：本专利技术的线传感器可通过检测第一凹口槽的第一线传感器来检测设置在电极片的一个侧表面上的电极接片，并且第一线传感器可通过当电极接片经过时发生的透过率的变化来检测电极接片是否有缺陷。因而，可容易地检测电极片是否变形，并且还可在没有单独的额外传感器的情况下执行电极接片的质量测试。附图说明图1是根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的设备的剖面图。图2是根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的设备的示意性平面图。图3是图解根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的设备的线传感器的平面图。图4是图解根据本专利技术第一实施方式的切割电极片的方法的流程图。图5是根据本专利技术第二实施方式的切割电极片的设本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种切割电极片的设备，所述设备包括：/n传送单元，所述传送单元将在侧表面形成有多个凹口槽的电极片经由测量点一直传送至切割点，使得当形成在所述电极片中的这些凹口槽之中的、设置在前端的凹口槽经过所述切割点时，设置在所述前端的凹口槽的后端的凹口槽经过所述测量点；/n检测单元，所述检测单元设置在所述测量点处，以检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号；和/n切割单元，所述切割单元设置在所述切割点处，以根据由所述检测单元产生的所述凹口槽检测信号来切割其中设置有经过所述切割点的凹口槽的电极片。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180504 KR 10-2018-00517161.一种切割电极片的设备，所述设备包括：
传送单元，所述传送单元将在侧表面形成有多个凹口槽的电极片经由测量点一直传送至切割点，使得当形成在所述电极片中的这些凹口槽之中的、设置在前端的凹口槽经过所述切割点时，设置在所述前端的凹口槽的后端的凹口槽经过所述测量点；
检测单元，所述检测单元设置在所述测量点处，以检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生凹口槽检测信号；和
切割单元，所述切割单元设置在所述切割点处，以根据由所述检测单元产生的所述凹口槽检测信号来切割其中设置有经过所述切割点的凹口槽的电极片。


2.根据权利要求1所述的设备，其中所述检测单元包括线传感器，所述线传感器安装在与所述电极片的传送方向垂直的方向上，以检测经过所述测量点的所述电极片的凹口槽，从而产生所述凹口槽检测信号，
其中所述线传感器包括多个光接收元件，并且
所述多个光接收元件通过当所述电极片的凹口槽经过所述测量点时发生的透过率的变化来检测凹口槽。


3.根据权利要求2所述的设备，其中所述凹口槽包括彼此面对分别形成在所述电极片的两个侧表面的第一凹口槽和第二凹口槽，并且
所述线传感器包括第一线传感器和第二线传感器，以检测所述第一凹口槽和所述第二凹口槽。


4.根据权利要求3所述的设备，其中即使通过所述第一线传感器和所述第二线传感器检测到所述第一凹口槽和所述第二凹口槽中的任意一个凹口槽，所述线传感器也产生所述凹口槽检测信号。


5.根据权利要求3所述的设备，其中，当通过所述第一线传感器和所述第二线传感器检测到所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏闰奉，朴信永，朴东赫，
申请(专利权)人：株式会社LG化学，
类型：发明
国别省市：韩国;KR