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一种多工器制造技术

技术编号:23403136 阅读:35 留言:0更新日期:2020-02-22 15:06
本发明专利技术涉及通讯设备技术领域,特别地涉及一种多工器,包括叠加设置的第一芯片和第二芯片;第一芯片包括第一晶圆和包覆封装第一晶圆的薄层,第一晶圆上设有包含多个谐振器的第一谐振器版图区;第二芯片包括第二晶圆和第三晶圆,第二晶圆上设有包含多个谐振器的第二谐振器版图区。本发明专利技术的技术方案中芯片尺寸与现有技术相比进一步缩小,利于多工器的小型化。

A kind of multiplexer

【技术实现步骤摘要】
一种多工器
本专利技术涉及通讯设备
,特别地涉及一种多工器。
技术介绍
随着通信设备小型化和高性能趋势的加快,给射频前端在尺寸和性能提出了更高的挑战,由于对于频段的逐渐增加,更多的滤波器占据更大的终端尺寸,这与小型化的趋势是相悖的。在射频通信前端中,减小芯片尺寸一方面在于减小芯片本身的制造尺寸,另一方面在于缩小封装的间距,但封装间距的减小会带来工艺的极大考验以及良率的影响,因此减小芯片本身的制造尺寸至关重要。传统的双工器或者多工器中,多颗芯片在平面排布,能够缩减的尺寸有限,并且芯片间距越小,相互之间的耦合越大,也会严重恶化芯片整体性能。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的主要目的是提供一种多工器,有助于缩小芯片占用的平面面积。为实现上述目的,根据本专利技术的一个方面,提供了一种多工器,包括叠加设置的第一芯片和第二芯片;所述第一芯片包括第一晶圆和用于包覆封装所述第一晶圆的薄层,所述第一晶圆上设有包含多个谐振器的第一谐振器版图区;所述第二芯片包括第二晶圆和用于封装所述第二晶圆的第三晶圆,所述第二晶圆上设有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多工器,其特征在于,包括叠加设置的第一芯片和第二芯片;/n所述第一芯片包括第一晶圆(1)和用于包覆封装所述第一晶圆(1)的薄层,所述第一晶圆(1)上设有包含多个谐振器的第一谐振器版图区(11);所述第二芯片包括第二晶圆(2)和用于封装所述第二晶圆(2)的第三晶圆(3),所述第二晶圆(2)上设有包含多个谐振器的第二谐振器版图区(31)。/n

【技术特征摘要】
1.一种多工器,其特征在于,包括叠加设置的第一芯片和第二芯片;
所述第一芯片包括第一晶圆(1)和用于包覆封装所述第一晶圆(1)的薄层,所述第一晶圆(1)上设有包含多个谐振器的第一谐振器版图区(11);所述第二芯片包括第二晶圆(2)和用于封装所述第二晶圆(2)的第三晶圆(3),所述第二晶圆(2)上设有包含多个谐振器的第二谐振器版图区(31)。


2.根据权利要求1所述的多工器,其特征在于,所述第一谐振器版图区(11)的垂直投影和所述第二谐振器版图区(31)的垂直投影形成重合区域和非重合区域;
所述第一谐振器版图区(11)内设有多个第一管脚(12),所述第一管脚(12)的垂直投影位于所述非重合区域。


3.根据权利要求1所述的多工器,其特征在于,所述第一晶圆(1)、所述第二晶圆(2)及所述第三晶圆(3)的厚度为50um~200um。


4.根据权利要求1或2所述的多工器,其特征在于,所述薄层和所述第二晶圆(2)之间设有金属隔离层(4),所述金属隔离层(4)与所述重合区域相重叠,且所述金属隔离层(4)连接接地管脚。

【专利技术属性】
技术研发人员:庞慰蔡华林
申请(专利权)人:天津大学诺思天津微系统有限责任公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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