用于测量微纳颗粒的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:23397959 阅读:31 留言:0更新日期:2020-02-22 10:33
本申请的实施例揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置和方法,该装置包括:第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。本申请实施例的技术方案能够测量溶液中单一微纳颗粒的属性。

Device and method for measuring micro and nano particles

【技术实现步骤摘要】
用于测量微纳颗粒的装置及方法
本申请涉及微纳颗粒测量
,具体而言,涉及一种用于测量微纳颗粒的装置及方法。
技术介绍
基于颗粒物质的特殊属性,颗粒物质被广泛地应用于医药、化工、材料等领域,因此在颗粒物质的应用中,对于颗粒物质(以下简称为颗粒)属性的测量十分重要。目前,常用的颗粒测量设备包括光学显微镜、扫描电子显微镜和透射电子显微镜,但由于光学显微镜分辨率较低,使用光学显微镜很难观测到尺寸小于300纳米的颗粒,不适用于微纳颗粒的测量,扫描电子显微镜和透射电子显微镜虽然具有超高的分辨率,但其检测环境需为真空状态,不能测量颗粒在溶液中的属性,从而无法测量微纳颗粒在活体条件下的属性。常用的颗粒测量方法包括动态光散射法,其能够快速地进行大规模的颗粒检测,但不能提取单个颗粒的特征。因此,现有技术中仍存在无法测量单颗微纳颗粒在活体条件下的属性的问题。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本申请的实施例提供一种用于测量微纳颗粒的装置,还提供一种用于测量微纳颗粒的方法,用以对单颗微纳颗粒在活体条件下的属性进行检测。其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测量微纳颗粒的装置,其特征在于,包括第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中:/n所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;/n所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;/n其中,所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;/n所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于测量微纳颗粒的装置,其特征在于,包括第一腔室、微孔膜、电泳槽和第二腔室,其中:
所述微孔膜位于所述第一腔室与所述电泳槽之间,并且所述微孔膜上具有微孔,所述第一腔室与所述电泳槽通过所述微孔相连通;
所述第二腔室与所述电泳槽相邻,并具有位于所述第二腔室与所述电泳槽之间的第一侧壁,所述第一侧壁上具有用于连通所述第二腔室与所述电泳槽的第一开口;
其中,所述微孔的内径小于所述电泳槽的内径,所述电泳槽的内径小于所述第二腔室的内径;
所述第一腔室具有第一电极,所述第二腔室具有第二电极。


2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电泳槽的内径为所述微孔的内径的2倍或以上,所述电泳槽的长度为所述微孔膜的厚度的2倍或以上。


3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述微孔的内径为1纳米至10微米,所述电泳槽的内径为2纳米至20微米。


4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述微孔膜的厚度为1纳米至10微米,所述电泳槽的长度为2纳米至20微米。


5.根据权利要求1-4任一项所述的装置,其特征在于,所述第一开口的内径等于所述电泳槽的内径。


6.根据权利要求1-4任一项所述的装置,其特征在于,在测量状态下,所述第一腔室、所述电泳槽和所述第二腔室中填充有电解液,待测量的微纳颗粒随着所述电解液通过所述微孔和所述电泳槽。


7.根据权利要求1-4所述的装置,其特征在于,所述装置还包括液体驱动器,所述液体驱动器与所述第二腔室相邻,并且位于与所述第一侧壁相对或者相邻的侧壁上,用于驱动所述装置内的液体流动。


8.根据权利要求1-4任一项所述的装置,其特征在于,所述微孔膜为无机膜。<...

【专利技术属性】
技术研发人员:熊贵柳可王哲
申请(专利权)人:瑞芯智造深圳科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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