测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试治具，包括上模和下模，上模和下模上均设有测试针，上模和下模均包括支撑柱、对位针、多个第一导向板和设于多个第一导向板之间的多个第二导向板，第一导向板与第二导向板堆叠设置；相邻两个第二导向板之间留有间隙，支撑柱贯穿第二导向板，测试针贯穿第一导向板和第二导向板；上模的靠近下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，下模的靠近上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，上模与下模之间通过定位柱伸入定位孔定位。本实用新型专利技术提供的测试治具，提高了上模与下模之间的对位精度及PCB板的定位精度，从而提高了测试针的测试精度。

Test fixture

【技术实现步骤摘要】
测试治具
本技术属于PCB测试治具
，更具体地说，是涉及一种测试治具。
技术介绍
PCB(PrintedCircuitBoard)，中文名称为印刷电路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体，因此需要对PCB板的功能进行测试，以保证在使用PCB板时，不会出现短路、断路等缺陷。目前市场上的PCB测试治具，在使用上模和下模固定PCB板时，上模与下模会错位，导致测试针在测PCB板时，不能准确地测试出PCB板的功能缺陷，降低了测试PCB板的良品率。同时，现有的PCB测试治具，在测试PCB板时，测试针容易弯折，造成测试针之间的短路；并且由于测试针的直径较小，容易发生断针现象；上模和下模的厚度也会影响对PCB板的测试精度和对位精度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试治具，以解决现有技术中存在的上模与下模对位精度差的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位P本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，其特征在于：所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位PCB板的对位针、多个第一导向板和设于多个所述第一导向板之间的多个第二导向板，所述第一导向板与所述第二导向板堆叠设置；/n相邻两个所述第二导向板之间留有间隙，所述支撑柱贯穿所述第二导向板，所述测试针贯穿所述第一导向板和所述第二导向板；/n所述上模的靠近所述下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，所述下模的靠近所述上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，所述上模与所述下模之间通过所述定位柱伸入所述定位孔定位。/n

【技术特征摘要】
1.测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，其特征在于：所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位PCB板的对位针、多个第一导向板和设于多个所述第一导向板之间的多个第二导向板，所述第一导向板与所述第二导向板堆叠设置；
相邻两个所述第二导向板之间留有间隙，所述支撑柱贯穿所述第二导向板，所述测试针贯穿所述第一导向板和所述第二导向板；
所述上模的靠近所述下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，所述下模的靠近所述上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，所述上模与所述下模之间通过所述定位柱伸入所述定位孔定位。


2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述定位柱伸出所述上模或所述下模的长度大于所述对位针伸出所述上模或所述下模的长度。


3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于：还包括第一弹性件，所述下模内或/和所述上模内设有第一容纳腔，所述第一容纳腔贯穿所述第二导向板；
所述定位柱的一端伸入所述第一容纳腔内，所述第一弹性件设于所述第一容纳腔内且套设于所述定位柱上并为所述定位柱提供沿所述定位柱的轴向的推力。


4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述第一容纳腔的两端均伸入所述第一导向板内。


5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：易小博，杨慧萍，张柳咏，陈新福，董文利，杨福斌，刘思伟，刘帅，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，深圳麦逊电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44