测试治具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试治具，包括上模和下模，上模和下模上均设有测试针，上模和下模均包括支撑柱、对位针、多个第一导向板和设于多个第一导向板之间的多个第二导向板，第一导向板与第二导向板堆叠设置；相邻两个第二导向板之间留有间隙，支撑柱贯穿第二导向板，测试针贯穿第一导向板和第二导向板；上模的靠近下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，下模的靠近上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，上模与下模之间通过定位柱伸入定位孔定位。本实用新型专利技术提供的测试治具，提高了上模与下模之间的对位精度及PCB板的定位精度，从而提高了测试针的测试精度。

Test fixture

【技术实现步骤摘要】
测试治具
本技术属于PCB测试治具
，更具体地说，是涉及一种测试治具。
技术介绍
PCB(PrintedCircuitBoard)，中文名称为印刷电路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体，因此需要对PCB板的功能进行测试，以保证在使用PCB板时，不会出现短路、断路等缺陷。目前市场上的PCB测试治具，在使用上模和下模固定PCB板时，上模与下模会错位，导致测试针在测PCB板时，不能准确地测试出PCB板的功能缺陷，降低了测试PCB板的良品率。同时，现有的PCB测试治具，在测试PCB板时，测试针容易弯折，造成测试针之间的短路；并且由于测试针的直径较小，容易发生断针现象；上模和下模的厚度也会影响对PCB板的测试精度和对位精度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试治具，以解决现有技术中存在的上模与下模对位精度差的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：提供一种测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位PCB板的对位针、多个第一导向板和设于多个所述第一导向板之间的多个第二导向板，所述第一导向板与所述第二导向板堆叠设置；相邻两个所述第二导向板之间留有间隙，所述支撑柱贯穿所述第二导向板，所述测试针贯穿所述第一导向板和所述第二导向板；所述上模的靠近所述下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，所述下模的靠近所述上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，所述上模与所述下模之间通过所述定位柱伸入所述定位孔定位。进一步地，所述定位柱伸出所述上模或所述下模的长度大于所述对位针伸出所述上模或所述下模的长度。进一步地，还包括第一弹性件，所述下模内或/和所述上模内设有第一容纳腔，所述第一容纳腔贯穿所述第二导向板；所述定位柱的一端伸入所述第一容纳腔内，所述第一弹性件设于所述第一容纳腔内且套设于所述定位柱上并为所述定位柱提供沿所述定位柱的轴向的推力。进一步地，所述第一容纳腔的两端均伸入所述第一导向板内。进一步地，所述定位柱设于所述下模上，所述定位柱的端部沿靠近所述下模的一端至靠近所述上模的一端逐渐收敛；所述定位孔的靠近所述下模的一端的大小大于所述定位孔的远离所述下模的一端的大小。进一步地，还包括第二弹性件，所述上模内和所述下模内均设有第二容纳腔，所述第二容纳腔贯穿部分所述第一导向板和部分所述第二导向板，所述对位针贯穿所述第二容纳腔，所述第二弹性件设于所述第二容纳腔内且套设于所述对位针上并为所述对位针提供沿所述对位针的轴向的推力。进一步地，还包括用于卡住所述测试针的卡针件，所述卡针件设于两个所述第二导向板之间。进一步地，还包括固设于所述支撑柱的两端的调紧件，所述调紧件将所述第一导向板固定于所述支撑柱上，且所述调紧件能调节所述第一导向板与所述支撑柱之间的距离。进一步地，还包括多个套设于所述支撑柱上的分层块，所述分层块的一端与一个所述第二导向板抵接，另一端与另一个所述第二导向板或所述第一导向板抵接。进一步地，所述第一导向板的厚度大于所述第二导向板的厚度。本技术提供的测试治具的有益效果在于：与现有技术相比，本技术测试治具，在使用时，对位针能定位PCB板，避免测试针在测试时，PCB板移动而影响测试精度；第一导向板和第二导向板具有导向测试针的作用，避免测试针弯折；第二导向板之间的间隙，减轻了上模和下模的重量；支撑柱能避免第二导向板错位；定位柱伸入定位孔内，提高了上模与下模的对位精度，从而提高了测试针的测试精度。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术实施例提供的测试治具的上模的结构示意图；图2为本技术实施例提供的测试治具的下模的结构示意图。其中，图中各附图标记：1、上模；2、下模；3、支撑柱；4、测试针；5、对位针；6、第一导向板；7、第二导向板；8、定位柱；9、定位孔；10、第一弹性件；101、第一容纳腔；102、第二弹性件；103、第二容纳腔；104、卡针件；105、调紧件；106、分层块；107、导正块；108、加强柱。具体实施方式为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。请参阅图1及图2，现对本技术提供的测试治具进行说明。测试治具，包括上模1和下模2，上模1和下模2上均设有测试针4，上模1和下模2均包括支撑柱3、用于定位PCB板的对位针5、多个第一导向板6和设于多个第一导向板6之间的多个第二导向板7，第一导向板6与第二导向板7堆叠设置；相邻两个第二导向板7之间留有间隙，支撑柱3贯穿第二导向板7，测试针4贯穿第一导向板6和第二导向板7；上模1的靠近下模2的一侧设有定位孔9，下模2的靠近上模1的一侧设有定位柱8；或上模1的靠近下模2的一侧设有定位柱，下模2的靠近上模1的一侧设有定位孔；或上模1的靠近下模2的一侧设有定位孔9和定位柱，下模2的靠近上模1的一侧设有定位柱8和定位孔，上模1与下模2之间通过定位柱8伸入定位孔9定位。本技术提供的测试治具，与现有技术相比，在使用时，对位针5能定位PCB板，避免测试针4在测试时，PCB板移动而影响测试精度；第一导向板6和第二导向板7具有导向测试针4的作用，避免测试针4弯折；第二导向板7之间的间隙，减轻了上模1和下模2的重量；支撑柱3能避免第二导向板7错位；定位柱8伸入定位孔9内，提高了上模1与下模2的对位精度，从而提高了测试针4的测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，其特征在于：所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位PCB板的对位针、多个第一导向板和设于多个所述第一导向板之间的多个第二导向板，所述第一导向板与所述第二导向板堆叠设置；/n相邻两个所述第二导向板之间留有间隙，所述支撑柱贯穿所述第二导向板，所述测试针贯穿所述第一导向板和所述第二导向板；/n所述上模的靠近所述下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，所述下模的靠近所述上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，所述上模与所述下模之间通过所述定位柱伸入所述定位孔定位。/n

【技术特征摘要】
1.测试治具，包括上模和下模，所述上模和所述下模上均设有测试针，其特征在于：所述上模和所述下模均包括支撑柱、用于定位PCB板的对位针、多个第一导向板和设于多个所述第一导向板之间的多个第二导向板，所述第一导向板与所述第二导向板堆叠设置；
相邻两个所述第二导向板之间留有间隙，所述支撑柱贯穿所述第二导向板，所述测试针贯穿所述第一导向板和所述第二导向板；
所述上模的靠近所述下模的一侧设有定位孔或/和定位柱，所述下模的靠近所述上模的一侧设有定位柱或/和定位孔，所述上模与所述下模之间通过所述定位柱伸入所述定位孔定位。


2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述定位柱伸出所述上模或所述下模的长度大于所述对位针伸出所述上模或所述下模的长度。


3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于：还包括第一弹性件，所述下模内或/和所述上模内设有第一容纳腔，所述第一容纳腔贯穿所述第二导向板；
所述定位柱的一端伸入所述第一容纳腔内，所述第一弹性件设于所述第一容纳腔内且套设于所述定位柱上并为所述定位柱提供沿所述定位柱的轴向的推力。


4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述第一容纳腔的两端均伸入所述第一导向板内。


5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：易小博，杨慧萍，张柳咏，陈新福，董文利，杨福斌，刘思伟，刘帅，高云峰，
申请(专利权)人：大族激光科技产业集团股份有限公司，深圳麦逊电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44