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一种用于板材质检的比对检测仪制造技术

技术编号:23349810 阅读:134 留言:0更新日期:2020-02-15 06:07
本实用新型专利技术公开一种用于板材质检的比对检测仪,包括比对检测仪本体,比对检测仪本体包括箱体,箱体顶部位于X轴方向上的一端端头固定连接有第一定位靠山,第一定位靠山沿Y轴方向布置,箱体的顶部能沿X轴方向移动的设置有第二定位靠山,且箱体上设置有用于锁紧第二定位靠山的锁紧组件,第二定位靠山与第一定位靠山相平行,箱体顶部位于Y轴方向上的一端端头连接有第三定位靠山,第一定位靠山、第二定位靠山上均固定连接有用于支撑工件的托架,箱体内部设置有绝缘板,绝缘板上安装有灯,箱体内部位于绝缘板的上方固定设置有半透光玻璃板。通过采用本实用新型专利技术进行板材的质检,能大大提高质检效率,且质检质量可靠、稳定。

A comparison detector for plate quality inspection

【技术实现步骤摘要】
一种用于板材质检的比对检测仪
本技术涉及一种检测装置,尤其涉及一种用于板材质检的比对检测仪。
技术介绍
目前,一些平板板材在加工时,需要开设若干个大大小小的孔,此类板材在生产完成后,需对其进行质检,检测孔的开设位置是否符合要求。现有生产过程中,此类检测由人工采用量具完成,劳动强度较大,且检测效率低下,由此,急需解决。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述问题,提供一种用于板材质检的比对检测仪,以解决现有板材质检由人工采用量具完成,劳动强度较大,检测效率低下的问题。本技术的目的是通过以下技术方案来实现:一种用于板材质检的比对检测仪,包括比对检测仪本体,所述比对检测仪本体包括箱体,所述箱体顶部位于X轴方向上的一端端头固定连接有第一定位靠山,所述第一定位靠山沿Y轴方向布置,所述箱体的顶部能沿X轴方向移动的设置有第二定位靠山,且箱体上设置有用于锁紧第二定位靠山的锁紧组件,所述第二定位靠山与第一定位靠山相平行,所述箱体顶部位于Y轴方向上的一端端头连接有第三定位靠山,所述第一定位靠山、第二定位靠山上均固定连接有用于支撑工件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于板材质检的比对检测仪,包括比对检测仪本体,其特征在于:所述比对检测仪本体包括箱体,所述箱体顶部位于X轴方向上的一端端头固定连接有第一定位靠山,所述第一定位靠山沿Y轴方向布置,所述箱体的顶部能沿X轴方向移动的设置有第二定位靠山,且箱体上设置有用于锁紧第二定位靠山的锁紧组件,所述第二定位靠山与第一定位靠山相平行,所述箱体顶部位于Y轴方向上的一端端头连接有第三定位靠山,所述第一定位靠山、第二定位靠山上均固定连接有用于支撑工件的托架,所述箱体内部设置有绝缘板,所述绝缘板上安装有灯,箱体内部位于绝缘板的上方固定设置有半透光玻璃板。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于板材质检的比对检测仪,包括比对检测仪本体,其特征在于:所述比对检测仪本体包括箱体,所述箱体顶部位于X轴方向上的一端端头固定连接有第一定位靠山,所述第一定位靠山沿Y轴方向布置,所述箱体的顶部能沿X轴方向移动的设置有第二定位靠山,且箱体上设置有用于锁紧第二定位靠山的锁紧组件,所述第二定位靠山与第一定位靠山相平行,所述箱体顶部位于Y轴方向上的一端端头连接有第三定位靠山,所述第一定位靠山、第二定位靠山上均固定连接有用于支撑工件的托架,所述箱体内部设置有绝缘板,所述绝缘板上安装有灯,箱体内部位于绝缘板的上方固定设置有半透光玻璃板。


2.根据权利要求1所述的一种用于板材质检的比对检测仪,其特征在于:所述箱体的顶部开设有第一滑槽、第二滑槽,所述第一滑槽、第二滑槽均沿X轴方向布置,所述第一滑槽内滑动连接有第一滑块,所述第二滑槽内滑动连接有第二滑块,所述锁紧组件包括第一锁紧螺钉、第二锁紧螺钉,所述第二定位靠山的一端开有第一通孔,且第二定位靠山的另一端开有第二通孔,所述第一滑块上对应第一通孔的位置开有第一螺纹孔,所述第二滑块上对应第二通孔的位置开有第二螺纹孔,第一锁紧螺钉穿过第一通孔后旋拧在第一螺纹孔内,第二锁紧螺钉穿过第二通孔后旋拧在第二螺纹孔内,锁紧状态下,第一锁紧螺钉穿过第一螺纹孔并顶紧在第一滑槽的底面上,第二锁紧螺钉穿过第二螺纹孔并顶紧在第二滑槽...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱健
申请(专利权)人:朱健
类型:新型
国别省市:江苏;32

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