主板的边界扫描和功能测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，应用于机台，所述方法包括以下步骤：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。本发明专利技术的一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，用于将边界扫描测试与功能测试结合到一个机台，方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。

Boundary scan and function test method and device of main board

【技术实现步骤摘要】
主板的边界扫描和功能测试方法及装置
本专利技术涉及主板测试
，特别是涉及一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置。
技术介绍
在传统服务器/桌面机/工作站往往对于主板的测试分为边界扫描测试(BSI)和功能测试(FCT)，往往分别对主板进行边界扫描测试(BSI：BoundaryScanInspect(边界扫描(BoundaryScan)测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。边界扫描测试有两大优点：一个是方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；另一个是，具有JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。))和功能测试(FCT：FunctionalCircuitTest，功能测试依据控制模式的不同，可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于，应用于机台，包括以下步骤：/n将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；/n通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；/n通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于，应用于机台，包括以下步骤：
将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；
通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；
通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。


2.根据权利要求1所述的主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于：所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；
所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。


3.根据权利要求2所述的主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于：还包括转接卡与所述中央处理器连接，所述转接卡用于连接需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具；
所述上位机基于所述需要转接的主板扩展插槽边界扫描测试治具对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试。


4.根据权利要求2所述的主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于：所述平台控制器通过USB接口与LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具连接；
通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述LED功能测试治具、电池功能测试治具和显示接口功能测试治具分别对所述主板进行LED功能测试、电池功能测试和显示接口功能测试。


5.根据权利要求2所述的主板的边界扫描和功能测试方法，其特征在于：还包括与主板直接连接的功能测试治具对所述主板进行功能测试。


6.一...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙晓宇，
申请(专利权)人：英业达科技有限公司，英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31