【技术实现步骤摘要】
一种基于氮化镓/铝镓氮异质结的磁场传感器
本专利技术属于半导体器件
,具体涉及一种半导体磁场传感器。
技术介绍
磁场探测器指的是可将环境中的磁场信息转换为电学信号输出的一类传感器件。在现代社会的生活和生产过程中,磁场信息占据了重要的作用。磁场探测器的应用非常广泛,可应用于电流传感,位移传感,磁存储器和导航等领域。目前,磁场传感器已经成为了信息技术发展中不可缺少的关键部件。而基于各种不同原理的磁场传感器被研发出以满足各种应用需求。根据待测量磁场的大小,磁传感器可一般分为几种类型。如果目标磁场大于地球磁场(约为60μT),则传感器不需要非常灵敏。而为了测量大于地磁噪声(约0.1nT)的地球噪场,需要灵敏度更高的传感器。为了测量低于地磁噪声的场,必须采用更灵敏的磁场传感器。这些传感器主要用于医疗和生物医学应用,例如MRI和分子标记等。磁场测量有很多种不同的方法,如霍尔效应传感器,磁晶体管,巨磁阻(GMR)磁力计,磁隧道结磁力计,磁光传感器,MEMS类型的传感器,搜索线圈磁场传感器和SQUID磁力计等。而其中与半导体芯片技术和工艺最兼容的常用磁传感器一般为霍尔效应传感器和磁晶体管等。传统的霍尔效应传感器属于被动传感器件,本身不具备任何信号放大的能力,必须外接额外的信号放大器,因而不利于单片集成。在磁晶体管传感器中,基于分裂漏极结构的磁敏感晶体管受到了广泛的关注。它利用磁场产生的洛伦兹力改变晶体管中的电子运动方向,从而在对称的分裂漏极中形成非平衡电流差值。分裂漏极结构的磁敏感晶体管与传统CMOS结构和工艺高度兼容 ...
【技术保护点】
1.一种基于氮化镓/铝镓氮异质高电子迁移率衬底的集成式半导体磁场传感器电路,其特征在于,该传感器电路至少包括:第一直流电压源,接地端,第一输出端,第二输出端,第一磁敏感晶体管,第二磁敏感晶体管,以及第一电阻和第二电阻,其中:/n所述第一电阻与所述第二电阻的一端均与所述第一直流电压源连接,所述第一电阻的另一端通过第一输出端与第一磁敏感晶体管的漏极相连,所述第二电阻的另一端通过第二输出端与第二磁敏感晶体管的漏极相连;/n所述第一磁敏感晶体管与所述第二磁敏感晶体管共用栅极和源极,所述第一磁敏感晶体管和所述第二磁敏感晶体管的源极连接接地端。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于氮化镓/铝镓氮异质高电子迁移率衬底的集成式半导体磁场传感器电路,其特征在于,该传感器电路至少包括:第一直流电压源,接地端,第一输出端,第二输出端,第一磁敏感晶体管,第二磁敏感晶体管,以及第一电阻和第二电阻,其中:
所述第一电阻与所述第二电阻的一端均与所述第一直流电压源连接,所述第一电阻的另一端通过第一输出端与第一磁敏感晶体管的漏极相连,所述第二电阻的另一端通过第二输出端与第二磁敏感晶体管的漏极相连;
所述第一磁敏感晶体管与所述第二磁敏感晶体管共用栅极和源极,所述第一磁敏感晶体管和所述第二磁敏感晶体管的源极连接接地端。
2.如权利要求1所述的半导体磁场传感器电路,其特征在于,所述磁场传感器电路通过经过所述第一电阻和所述第二电阻的电流不同,导致所述第一输出端与所述第二输出端输出的电压差信号来计算磁场方向及强度。
3.一种基于氮化镓/铝镓氮异质高电子迁移率衬底的集成式半导体磁场传感器,其特征在于,该传感器包括:
衬底,
在衬底上形成的氮化镓缓冲/沟道层,
在所述氮化镓缓冲/沟道层上外延生长的铝镓氮层,
在衬底及其上的缓冲层上形成的有源区,
在所述有源区上形成的第一磁敏感晶体管和第二磁敏感晶体管的源极和漏极,其中源极位于源极金属接触区域,漏极位于漏极金属接触区域,所述第一磁敏感晶体管和所述第二磁敏感晶体管共用源极,
在源极金属接触区域与漏极金属接触区域之间形成的磁敏感晶体管的栅极,所述第一磁敏感晶体管和所述第二磁敏感晶体管共用栅极,
所述第一磁敏感晶体管的漏极与第一电阻相连,所述第二磁敏感晶体管的漏极与第二电阻相连,
与所述第一电阻和所述第二电阻另一端共同相连的电源接触。
4.如权利要求3所述的半导体磁场传感器,其特征在于,所述衬底材料包括硅,其绝缘层可以为硅,蓝宝石或碳化硅,掺杂一般为不掺杂或弱掺杂。
5.如权利要求3所述的半导体磁场传感器,其特征在于所述源极和漏极使用的金属层,包括钛/铝/镍/金或者钛/铝/钛/金复合金属,所述栅极使用的金属层包括镍/金,铬/金或者白金/金复合金属。
6.如权利要求3所述的半导体磁场传感器,其特征在于,所述半导体磁场传感器可以不包括所述第一电阻和所述第二电阻,第一磁敏感晶体管的漏极、第二磁敏感晶体管的漏极直接与电源连接。
7.如权利要求3所述的半导体磁场传感器,其特征在于,所述半导体磁场传感器用于形成集成式单片磁场传感系统
8.一种基于氮化镓/铝镓氮异质高电子迁移率衬底的集成式半导体磁场传感器制备方法,其特征在于,包括以下步骤...
【专利技术属性】
技术研发人员:万景,刘冉,叶怀宇,张国旗,
申请(专利权)人:深圳第三代半导体研究院,
类型:发明
国别省市:广东;44
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