【技术实现步骤摘要】
一种探测面板、其制作方法及检测装置
本专利技术涉及探测面板
,特别涉及一种探测面板、其制作方法及检测装置。
技术介绍
基于薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,TFT)技术制作的平板X射线探测器(FlatX-rayPanelDetector,FPXD)是数字影像技术中至关重要的元件,由于其具有成像速度快,良好的空间及密度分辨率、高信噪比、直接数字输出等优点,广泛应用于医学影像(如X光胸透)、工业检测(如金属探伤)、安保检测、航空运输等领域。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种探测面板、其制作方法及检测装置,用以解决现有技术中由于检测人员触碰面板表面或清洗工艺不完全,造成静电聚集于面板表面,从而造成面板表面接触性不良的问题。本专利技术实施例提供了一种探测面板,包括:衬底基板,位于所述衬底基板之上的检测电路,位于所述检测电路之上、且与所述检测电路电连接的光电转换结构,以及位于所述光电转换结构之上、且与所述光电转换结构电连接的偏置电压层;所述偏置电压层具有网格状结构。可选地,在具体 ...
【技术保护点】
1.一种探测面板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板之上的检测电路,位于所述检测电路之上、且与所述检测电路电连接的光电转换结构,以及位于所述光电转换结构之上、且与所述光电转换结构电连接的偏置电压层;/n所述偏置电压层具有网格状结构。/n
【技术特征摘要】
1.一种探测面板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板之上的检测电路,位于所述检测电路之上、且与所述检测电路电连接的光电转换结构,以及位于所述光电转换结构之上、且与所述光电转换结构电连接的偏置电压层;
所述偏置电压层具有网格状结构。
2.如权利要求1所述的探测面板,其特征在于,所述偏置电压层的材料为透明导电材料。
3.如权利要求2所述的探测面板,其特征在于,所述透明导电材料为ITO。
4.如权利要求2所述的探测面板,其特征在于,还包括:位于所述偏置电压层与所述光电转换结构之间、且覆盖所述光电转换结构的缓冲层,以及位于所述缓冲层与所述偏置电压层之间、且与所述偏置电压层接触设置的树脂层。
5.如权利要求4所述的探测面板,其特征在于,还包括:位于所述偏置电压层之上的闪烁层,所述闪烁层通过所述网格状结构的网孔与所述树脂层直接接触。
6.如权利要求1所述的探测面板,其特征在于,所述光电转换结构包括在所述检测电路上依...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵斌,徐帅,徐晓娜,
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司,北京京东方传感技术有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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