电极脏污检测方法技术

本发明专利技术公开了一种电极脏污检测方法。包括：对电极图像进行预处理，获得电极灰度图像；根据形态学算子模板集合中的模板，对电极灰度图像进行开运算、闭运算，获取电极前景图像、电极背景图像；利用电极前景图像、电极背景图像进行自商图运算，得到初始自商图数据；步骤四，建立最佳自商图数据选取模型，获取最佳自商图数据，对最佳自商图数据进行离差标准化处理；对标准化后的自商图数据进行阈值化处理，获取连通域图像；对连通域图像提取外层轮廓并填充得到遮罩数据，将遮罩数据与连通域图像进行异或运算得到脏污分割结果。利用本发明专利技术，可以实现电极脏污分割，对光照变化适应性强，降低手工调参工作量，计算效率高，检测精度高。

Detection method of electrode fouling

【技术实现步骤摘要】
电极脏污检测方法
本专利技术涉及电极检测
，具体涉及一种电极的缺陷检测方法。
技术介绍
电极是一种靠电极两端穿插为梳状的传感器元件，通常将电极两极通入方波，用于基于电抗的计算。电极在生产时需要检查并清洁，但有些情况下电极在使用中无法进行很好的封装，例如玻璃基板等。由于一般的脏都能够吸收部分电磁波，因此电极在无保护措施的情况下一旦接触到脏污，会出现短路、信号衰减等问题。目前，用于检测脏污的方法包括两种。一种是围绕液晶面板等产品的MURA(显示不均匀)检测需求设计的，需要提供暗室、平行光源、条状光源等对光源具有特殊要求的环境。由于电极尺寸微小，摆放位置多样，有些情况需要在线监测或在维护时借助仪器进行检测。电极缺陷检测不只是生产时的流程，而是常见的设备自维护流程，因此，检测设备需要是一个独立的图像处理模块，甚至是一种手持设备，直接导致光源不可控，影响MURA检测方法的精度。另一种脏污检测是基于离散傅里叶变换DFT并设计陷波器来提取特征的。该检测方法先计算频谱，然后目测频谱的响应亮斑来手工设计陷波遮罩。该过程存在过多的固定参数，且本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电极脏污检测方法，其特征在于，该方法包括：/n步骤一，对相机获得的电极图像进行预处理，获得电极灰度图像；/n步骤二，构建形态学算子模板集合，根据集合中的模板，依次对电极灰度图像进行开运算、闭运算，获取形态学算子模板对应的电极前景图像、电极背景图像；/n步骤三，利用形态学算子模板对应的电极前景图像、电极背景图像进行自商图运算，消除光照不均匀，得到初始自商图数据；/n步骤四，建立最佳自商图数据选取模型，对初始自商图数据进行处理，获取最佳自商图数据，对最佳自商图数据进行离差标准化处理，得到电极自商图数据；/n步骤五，对电极自商图数据进行阈值化处理，对阈值化结果进行连通域检测分析，获取连通域图...

【技术特征摘要】
1.一种电极脏污检测方法，其特征在于，该方法包括：
步骤一，对相机获得的电极图像进行预处理，获得电极灰度图像；
步骤二，构建形态学算子模板集合，根据集合中的模板，依次对电极灰度图像进行开运算、闭运算，获取形态学算子模板对应的电极前景图像、电极背景图像；
步骤三，利用形态学算子模板对应的电极前景图像、电极背景图像进行自商图运算，消除光照不均匀，得到初始自商图数据；
步骤四，建立最佳自商图数据选取模型，对初始自商图数据进行处理，获取最佳自商图数据，对最佳自商图数据进行离差标准化处理，得到电极自商图数据；
步骤五，对电极自商图数据进行阈值化处理，对阈值化结果进行连通域检测分析，获取连通域图像；
步骤六，对连通域图像进行轮廓分析，提取外层轮廓并填充得到遮罩数据，将遮罩数据与连通域图像进行异或运算得到脏污分割结果。


2.如权利要求1所述的电极脏污检测方法，其特征在于，所述步骤一具体为：相机获取的电极图像为彩色图像，所述预处理为灰度化处理，灰度化方法具体为：根据电极图像的RGB数据，使用暗通道先验的方式得到对比...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘玲，杨静，
申请(专利权)人：郑州迈拓信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41