一种制备高质量GaN单晶衬底的方法技术

技术编号:23283900 阅读:29 留言:0更新日期:2020-02-08 15:26
本发明专利技术涉及半导体材料技术领域,具体涉及一种制备高质量GaN单晶衬底的方法,本发明专利技术通过将金属镓与金属催化剂分离,使氮气优先在金属催化剂作用下解离,不但能提高熔体中氮的含量,提高源材料的利用率与GaN单晶的生长速率,同时,也有效抑制了熔体界面GaN多晶的产生,并通过微流通道阻止杂质的间入,从而得到高质量的GaN单晶材料,是一种实现高质量GaN单晶衬底量产的有效方法。

A method of preparing high quality GaN single crystal substrate

【技术实现步骤摘要】
一种制备高质量GaN单晶衬底的方法
本专利技术涉及半导体材料
,特别是涉及一种制备高质量GaN单晶衬底的方法。
技术介绍
高质量的GaN单晶衬底材料是制备GaN基蓝绿光激光器与大功率射频微波器件的必需材料。目前制备GaN单晶衬底,一般采用HVPE技术和钠流法,HVPE技术制备的GaN单晶衬底,位错密度在6次方范围,严重影响器件的性能与工作寿命;钠流法制备的GaN单晶衬底,位错密度低至4次方,且其所需的制备温度与压力适中,是最有潜力的低成本制备GaN单晶衬底的技术。在现有的钠流法制备GaN单晶技术中,一般将高纯鎵、金属钠与GaN模板(提供籽晶)放在一起,然后通入高纯氮气,在金属钠的催化下解离的游离态N与金属镓将在GaN模板上成核生长,得到GaN单晶,在这种情况下,通入的氮气很容易在熔体气液界面产生GaN多晶,导致GaN单晶的晶体质量与生长速率都受影响,同时,这种籽晶与外延生长源材料混在一起的方式,很容易导致熔体中的杂质间入外延单晶中,使得到的晶体发黄发黑,严重影响单晶材料的晶体质量与使用。鉴于上述技术问题,有必要提供一款新的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种制备高质量GaN单晶衬底的方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤一:将GaN复合衬底与金属催化剂源材料一起置于高压反应釜内的坩埚底部,再于高压反应釜内设置一隔板,使隔板位于坩埚底部上方,将GaN粉末置于隔板上,接着密封高压反应釜,并通入高纯氮气,加热高压反应釜至预定的过渡条件;/n步骤二:在过渡条件下静置一段时间,待GaN粉末在高温下分解成金属镓与氮气,氮气扩散到坩埚底部,并在金属催化剂熔体催化下解离成氮;/n步骤三:向高压反应釜内继续通入高纯氮气加压至预定生长条件,使隔板上的金属镓溶液流入到坩埚底部,开始GaN单晶生长;/n步骤四:GaN单晶生长达到目标厚度后,制得GaN单晶厚膜复...

【技术特征摘要】
1.一种制备高质量GaN单晶衬底的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:将GaN复合衬底与金属催化剂源材料一起置于高压反应釜内的坩埚底部,再于高压反应釜内设置一隔板,使隔板位于坩埚底部上方,将GaN粉末置于隔板上,接着密封高压反应釜,并通入高纯氮气,加热高压反应釜至预定的过渡条件;
步骤二:在过渡条件下静置一段时间,待GaN粉末在高温下分解成金属镓与氮气,氮气扩散到坩埚底部,并在金属催化剂熔体催化下解离成氮;
步骤三:向高压反应釜内继续通入高纯氮气加压至预定生长条件,使隔板上的金属镓溶液流入到坩埚底部,开始GaN单晶生长;
步骤四:GaN单晶生长达到目标厚度后,制得GaN单晶厚膜复合衬底,取出坩埚及GaN单晶厚膜复合衬底;
步骤五:去除步骤四制得的GaN单晶厚膜复合衬底的基底,即得GaN单晶衬底。


2.根据权利要求1所述的一种制备高质量GaN单晶衬底的方法,其特征在于,
步骤一中的过渡条件的温度设为700~1000℃;
步骤二中的静置时间设为0.5~24h;
步骤三中的预定生长条件的温度设为700~1000℃、压力设为1~10MPa;
步骤四中,取出坩埚及GaN单晶厚膜复合衬底前,需要对高压反应釜进行降温及排气降压。


3.根据权利要求1所述的一种制备高质量GaN单晶衬底的方法,其特征在于,所述GaN复...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘南柳王琦姜永京徐忱文梁智文张国义
申请(专利权)人:北京大学东莞光电研究院
类型:发明
国别省市:广东;44

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