一种芯片IC样本自动化测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片IC样本自动化测试系统及方法，所述系统包括：控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息，本发明专利技术通过打通IP测试各环节硬件设备及仪表间的交互和通信，在环境准备到位后，仅需要通过简单操作，即可得到最终的测试结果，免去了中间环节的繁琐操作。

An automatic test system and method for IC sample

【技术实现步骤摘要】
一种芯片IC样本自动化测试系统及方法
本专利技术涉及一种自动化测试系统及方法，特别是涉及一种软硬件结合的芯片IP(IntellectualProperty，知识产权)自动化测试系统及方法。
技术介绍
在集成电路设计研发领域，样本验证过程中会频繁用到各类仪器仪表进行质量验证，如精密电流源、数字万用表、示波器、信号发生器、音/视信号分析仪、高低温箱等等。一般来说，专业人员需要经过一定时间学习来掌握某一环节相关设备的操作使用，一般需要多人分工合作实现全流程测试验证能力覆盖。以数模转换器的测试为例，在传统的测试手段中，需要8个测试设备硬件及工具，而且各个设备间不能形成联动效应，测试指标的数据，也需要捕获及手动记录后，再利用软件进行分析。测试所需的8个测试工具：1.HighPrecisionSignalGenerator(高精度信号发生器)；2.HSC-ADC-EVALBBoard(AnalogDevices公司的一种基于高速ADC的数字信号捕捉评估板)；3.LogicAnalyzer(逻辑分析仪)；4、BNCcable(BNC电缆)；5.USB2.0Cable(USB2.0电缆)；6.TestBoard(待测试板)；7.DCPowerSupply(直流电源)；8.PC，其架构图如图1所示。其测试过程如下：Step1，信号发生器产生正弦波信号(10kHz)输入给待测板ADC_CHx作为基准信号；Step2，信号发生器产生正弦波信号(1MHz)提供给待测板ADC作为采样时钟；Step3.连接测试板和HSC-ADC-EVALB数据通路，将EVALBUSB2.0线连接到PC，然后打开VisualAnalog操作界面；Step4.VisualAnalogSettings(可视分析设置)：(1)、ADC->Single->AD9236->FFT(2)ADCdatacapturesettings(ADC数据捕获设置)->InputFormattersettings(输入格式程序设置)->WindowRoutine(窗口程序)(3)FFTanalysis(FFT分析)->Measurements(测试)Step5.ADC测试数据被EVALB捕获到后软件分析得出动态参数指标：SINAD/SFDR/THD/ENOB。然而，这种传统的测试手段一般需要专业人员来实现，而专业人员需要经过一定时间学习来掌握某一环节相关设备的操作使用，并且一般需要多人分工合作实现全流程测试验证能力覆盖，且项目推进需要频繁验证迭代，现有的人工操作存在响应时间慢，操作精度低，且容易因误操作引入无效验证结果的问题，因此，实有必要提出一种芯片IC样本自动化验证技术，以解决上述问题。
技术实现思路
为克服上述现有技术存在的不足，本专利技术之一目的在于提供一种芯片IC样本自动化测试系统及方法，以打通IP测试各环节硬件设备及仪表间的交互和通信，在环境准备到位后，仅需要通过简单操作，即可得到最终的测试结果，免去了中间环节的繁琐操作。本专利技术之另一目的在于提供一种芯片IC样本自动化测试系统及方法，可提升验证环节操作精度，杜绝引入无效验证结果，缩短流程节点响应时间，提升开发效率。为达上述及其它目的，本专利技术提出一种芯片IC样本自动化测试系统，包括：控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息。优选地，所述控制台包括：后端，为各验证执行节点和外部系统提供接口，所述外部系统通过该接口向本系统提交或查询验证任务，各验证执行节点通过所述接口获取/反馈验证任务信息；前端，用于负责可视化系统状态及提供人机交互功能。优选地，所述后端为Server。优选地，所述后端为基于HTTP实现的Server。优选地，所述后端遵循RESTful架构提供一系列RESTful接口。优选地，所述前端为Web。优选地，所述验证执行节点包括：验证机台，用于执行验证任务；监听服务单元，用于从所述控制台获取验证任务信息，调用设备程控单元执行验证过程并向所述控制台反馈验证结果信息；设备程控单元，用于自动化设定验证机台的各项输入信息，并获取验证机台的输出信息作为验证结果。为达到上述目的，本专利技术还提供一种芯片IC样本自动化测试方法，包括如下步骤：步骤S1，控制台接收验证任务，对任务进行解析并拆分成若干子任务；步骤S2，向验证执行节点分发子任务；步骤S3，各验证执行节点获取子任务信息，执行子任务并反馈结果；步骤S4，控制台对所有验证执行节点反馈的验证结果进行分析整合，并生成验证报告。优选地，于步骤S2中，所述控制台根据不同的任务属性确定各个子任务的顺序，并按顺序分发执行或者并行分发执行。优选地，于步骤S3中，验证执行节点N等待其前序子任务执行完成后获取本节点执行的子任务，验证执行节点N的监听服务单元获取子任务信息并调用设备程控单元执行验证，待验证执行完成后向控制台反馈验证结果信息。与现有技术相比，本专利技术一种芯片IC样本的自动化测试系统及方法可打通IP测试各环节硬件设备及仪表间的交互和通信，当环境准备到位后，仅需要通过简单操作，即可得到最终的测试结果，免去了中间环节的繁琐操作；同时本专利技术提升了验证环节操作精度，如ADC直流的验证，之前的验证仅限于精度为V级的步进，增加自动化手段后，可延伸至mV级别，并能计算出低压1mV以下的IP精度误差，杜绝引入无效验证结果，缩短流程节点响应时间，提升开发效率。附图说明图1为传统方法以数模转换器的测试架构图；图2为本专利技术一种芯片IC样本自动化测试系统的系统架构图；图3为本专利技术实施例中验证执行节点的结构示意图；图4为本专利技术实施例中验证执行节点的内部单元连接图；图5为本专利技术一种芯片IC样本自动化测试方法的步骤流程图；图6为本专利技术实施例之芯片IC样本自动化测试方法的流程图；图7为本专利技术实施例的仿真图。具体实施方式以下通过特定的具体实例并结合附图说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本专利技术的其它优点与功效。本专利技术亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本专利技术的精神下进行各种修饰与变更。图2为本专利技术一种芯片IC样本自动化测试系统的系统架构图。如图2所示，本专利技术一种芯片IC样本自动化测试系统，包括：控制台10以及若干个验证执行节点20。其中，控制台10用于提供外部系统，例如外部CI(CorporateIdentity)系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供/获取验证任务信息。具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片IC样本自动化测试系统，包括：/n控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；/n若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片IC样本自动化测试系统，包括：
控制台，用于提供外部系统提交或查询验证任务，向各验证执行节点提供验证任务信息，并获取各验证执行节点反馈的验证结果信息；
若干验证执行节点，用于从控制台获取验证任务信息，执行验证任务信息，并反馈验证结果信息。


2.如权利要求1所述的一种芯片IC样本自动化测试系统，其特征在于，所述控制台包括：
后端，为各验证执行节点和外部系统提供接口，所述外部系统通过该接口向本系统提交或查询验证任务，各验证执行节点通过所述接口获取/反馈验证任务信息；
前端，用于负责可视化系统状态及提供人机交互功能。


3.如权利要求2所述的一种芯片IC样本自动化测试系统，其特征在于：所述后端为Server。


4.如权利要求3所述的一种芯片IC样本自动化测试系统，其特征在于：所述后端为基于HTTP实现的Server。


5.如权利要求4所述的一种芯片IC样本自动化测试系统，其特征在于：所述后端遵循RESTful架构提供一系列RESTful接口。


6.如权利要求3所述的一种芯片IC样本自动化测试系统，其特征在于：所述前端为Web。


7.如权利要求1所述的一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵世欣，邱大伟，陈斌，王永卿，刘磊，
申请(专利权)人：上海富瀚微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31