显示基板的检测方法和检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示基板的检测方法和检测装置，该检测方法包括：在第一写入阶段，向各数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向数据线提供的有效电压的绝对值；在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压。本发明专利技术的技术方案，可以在Array阶段检测出第一栅线中是否存在断点不良。

Detection method and device of display substrate

【技术实现步骤摘要】
显示基板的检测方法和检测装置
本专利技术涉及显示
，更具体地，涉及一种显示基板的检测方法和一种显示基板的检测装置。
技术介绍
有机发光二极管(OLED)显示装置现已逐步实现商用。对于较大尺寸的有机发光二极管显示装置，由于栅线较长，通常在驱动过程中需要对栅线的两端同时施加驱动电压，这样才能保证整条栅线上各个位置处的电压不会有较大差异。OLED显示基板在制造的第一阶段会在基底(例如是玻璃或者聚酰亚胺)上形像素阵列(一般包含各类晶体管、栅线、数据线、像素电极等)。该制造阶段业内称为阵列基板阶段或Array阶段。在随后的第二阶段会在像素电极之上形成有机发光层、共用的阴极层、薄膜封装层等，从而完成有机发光二极管显示基板的制造。在相关技术中，对于栅线需要双端驱动的情况，如栅线上出现断点，由于栅线本身的电压降(IRdrop)，当驱动该栅线以对该栅线所连接的像素电路进行驱动时，断点附近的连续几个像素电路接收到栅电压是不足的，这会导致在实际显示时，连续几个子像素颜色发暗(或发黑)，即形成线不良。如何在Array阶段有效检测出栅线断点不良，成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种显示基板的检测方法和一种显示基板的检测装置，以在Array阶段检测出栅线断点不良。根据本专利技术的第一方面，提供一种显示基板的检测方法，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；所述检测方法包括：在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。可选地，所述显示基板还包括沿所述第一方向延伸的多条第二栅线、沿所述第二方向延伸的多条感测线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线，所述像素电路还具有感测晶体管，所述感测晶体管的栅极连接对应的第二栅线，所述感测晶体管的第一极连接对应的感测线，所述感测晶体管的第二极连接对应的存储电容的第二极；在所述第一写入阶段和所述第一检测阶段，均向待检测第一栅线所对应的第二栅线的两端提供无效电压。可选地，在所述第一写入阶段之前还包括：在第一重置阶段，向各所述数据线提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向电源端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，向待检测第一栅线对应的第二栅线的两端提供有效电压。可选地，在所述第一写入阶段之前和所述第一重置阶段之后还包括在第一准备阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向各所述感测线提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供无效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值。可选地，还包括：在第二重置阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供有效电压，向各所述数据线提供地电压，向各所述感测线提供地电压；在第二写入阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供有效电压，其中向所述感测线提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线的两端提供的有效电压的绝对值；在第二检测阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，检测待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果确定待检测第二栅线是否存在断点不良；其中，当待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第二设定阈值时，则判定待检测第二栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第二栅线上存在断点不良。可选地，在所述第二写入阶段之前以及在所述第二重置阶段之后还包括：在第二准备阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各感测线首先提供无效电压然后向各感测线提供有效电压并维持。根据本专利技术的第二方面，提供一种显示基板的检测装置，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；所述检测装置包括驱动模块、检测模块和判定模块，所述驱动模块被配置为：在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；以及，在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压；所述检测模块被配置为：在所述第一检测阶段检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压；所述判定模块被配置为：根据检测模块的检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。可选地，所述显示基板还包括沿所述第一方向延伸的多条第二栅线、沿所述第二方向延伸的多条感测线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条感本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板的检测方法，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；其特征在于，所述检测方法包括：/n在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；/n在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；/n其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。/n...

【技术特征摘要】
1.一种显示基板的检测方法，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极连接电源端，所述驱动晶体管的第二极连接所述存储电容的第二极；其特征在于，所述检测方法包括：
在第一写入阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向所述数据线提供的有效电压的绝对值；
在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果判定待检测第一栅线上是否存在断点不良；
其中，当待检测第一栅线所对应的各存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第一设定阈值时，则判定待检测第一栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第一栅线上存在断点不良。


2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述显示基板还包括沿所述第一方向延伸的多条第二栅线、沿所述第二方向延伸的多条感测线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第二栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条感测线，所述像素电路还具有感测晶体管，所述感测晶体管的栅极连接对应的第二栅线，所述感测晶体管的第一极连接对应的感测线，所述感测晶体管的第二极连接对应的存储电容的第二极；
在所述第一写入阶段和所述第一检测阶段，均向待检测第一栅线所对应的第二栅线的两端提供无效电压。


3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在所述第一写入阶段之前还包括：
在第一重置阶段，向各所述数据线提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向电源端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，向待检测第一栅线对应的第二栅线的两端提供有效电压。


4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，在所述第一写入阶段之前和所述第一重置阶段之后还包括
在第一准备阶段，向各所述数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向各所述感测线提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供无效电压，其中，向所述数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值。


5.根据权利要求2-4任意一项所述的检测方法，其特征在于，还包括：
在第二重置阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供有效电压，向各所述数据线提供地电压，向各所述感测线提供地电压；
在第二写入阶段，向待检测第二栅线的两端提供有效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供有效电压，其中向所述感测线提供的有效电压的绝对值大于向待检测第二栅线的两端提供的有效电压的绝对值；
在第二检测阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各所述感测线提供无效电压，检测待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压，并根据检测结果确定待检测第二栅线是否存在断点不良；
其中，当待检测第二栅线所对应的存储电容第二极上的电压的绝对值均大于第二设定阈值时，则判定待检测第二栅线上不存在断点不良；否则，判定待检测第二栅线上存在断点不良。


6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，在所述第二写入阶段之前以及在所述第二重置阶段之后还包括：
在第二准备阶段，向待检测第二栅线的两端提供无效电压，向待检测第二栅线对应的第一栅线的两端提供无效电压，向各感测线首先提供无效电压然后向各感测线提供有效电压并维持。


7.一种显示基板的检测装置，所述显示基板包括沿相交的第一方向和第二方向排布的多个像素电路、沿所述第一方向延伸的多条第一栅线，沿所述第二方向延伸的多条数据线，沿所述第一方向排布的同一排像素电路对应一条第一栅线，沿所述第二方向排布的同一排像素电路对应一条数据线，所述像素电路具有开关晶体管、驱动晶体管和存储电容，所述开关晶体管的栅极连接对应的第一栅线，所述开关晶体管的第一极连接对应的数据线，所述开关晶体管的第二极连接所述存储电容的第一极以及所述驱动晶体管的栅极，所述驱动晶体管的第一极...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪军，王东方，李广耀，王海涛，王庆贺，苏同上，沈忱，张小宁，甘由鹏，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥鑫晟光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11