一种显示面板测试组件及显示面板制造技术

本发明专利技术公开了一种显示面板测试组件及显示面板，显示面板测试组件包括测试开关组及测试信号输入区；测试信号输入区包括第一测试控制信号线、测试数据信号线、测试电源电压信号线和MUX开关控制部件；第一测试控制信号线用于控制测试开关组的工作状态；测试数据信号线用于向显示面板的数据信号线输入数据信号；测试电源电压信号线用于为显示面板提供工作电压；MUX开关控制部件，用于在面板测试过程中控制MUX开关组中的多个MUX开关处于断开状态。MUX开关控制部件在面板测试过程中将显示面板中的MUX开关组关闭，避免了MUX开关所在的信号线对测试结果的影响，提高了显示面板测试的可靠性。

A display panel test component and display panel

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板测试组件及显示面板
本专利技术涉及显示面板
，尤其涉及一种显示面板测试组件及显示面板。
技术介绍
MUX开关(MUX.switch)方案常被用于小尺寸显示面板的结构设计之中，其特点是，多个显示面板的信号线公用同一个信号输端口接收集成电路(IntegratedCircuit，IC)输出的信号，从而节省了信号输入端口的数量，减少了对显示面板空间的占用。针对任一信号输入端口，每一条与其相连的信号线通过MUX开关与该信号输入端口相连，在向信号线输入信号时，通过时序控制MUX开关的开启与关闭实现每一条信号线的数据输入。在显示面板制程中，往往还需要对显示面板进行测试，以筛选掉不合格的显示面板。然而，在对含有MUX.switch的显示面板进行测试时，常常会出现单色画异的问题，且现象随机无法补偿，使得显示面板测试的可靠性得不到保证。
技术实现思路
本专利技术提供一种显示面板测试组件及显示面板，用以提高显示面板测试的可靠性。本专利技术实施例提供一种显示面板测试组件，应用于包括多个MUX开关组的显示面板，所述测试组件包括测试开关组及测试信号输入区；所述测试信号输入区包括第一测试控制信号线、测试数据信号线、测试电源电压信号线和MUX开关控制部件；所述测试开关组包括多个测试开关，每个测试开关的栅极与所述第一测试控制信号线电连接，每个测试开关的第一电极与所述测试数据信号线电连接，每个测试开关的第二电极与所述显示面板的数据信号线电连接；所述第一测试控制信号线，用于控制所述测试开关组的工作状态；所述测试数据信号线，用于通过所述测试开关组向所述显示面板的数据信号线输入数据信号；所述测试电源电压信号线，用于为所述显示面板提供工作电压；所述MUX开关控制部件，与所述MUX开关组中的多个MUX开关电连接，用于在面板测试过程中控制所述MUX开关组中的多个MUX开关处于断开状态。可选的，所述MUX开关控制部件包括多个断开控制线，每个断开控制线与所述MUX开关组中的一个MUX开关的栅极电连接；每个断开控制线在面板测试过程中外接闭合信号从而控制对应的MUX开关处于断开状态。可选的，所述多个MUX组具有相同数量的MUX开关；针对所述多个MUX开关组中任两个MUX开关组，组内位置相同的两个MUX开关的栅极与同一断开控制线电连接。可选的，所述MUX开关控制部件包括断开开关组；所述断开开关组包括多个断开开关；所述断开开关的数量不少于任一所述MUX开关组中的MUX开关的数量；每个断开开关的栅极与第二测试控制信号线电连接，每个断开开关的第一电极外接闭合信号，所述闭合信号在所述断开开关导通时关闭所述MUX开关；每个断开开关的第二电极与所述MUX开关组内的一个MUX开关的栅极电连接；所述第二测试控制信号线用于控制所述断开开关的工作状态。可选的，所述第二测试控制信号线和所述第一测试控制信号线电连接。可选的，所述闭合信号为所述显示面板正电源电压信号线中的正电源电压信号，或，负电源电压信号线中的负电源电压信号。可选的，所述多个MUX开关组具有相同数量的MUX开关；针对所述多个MUX开关组中任两个MUX开关组，组内位置相同的两个MUX开关的栅极与同一断开开关的第二电极电连接。本专利技术实施例提供一种显示面板，包括像素阵列、信号连接区及位于所述像素阵列与所述信号连接区之间的多个MUX开关组；所述信号连接区用于将驱动电路产生的信号输入所述像素阵列；所述MUX开关组包括多个MUX开关，所述信号连接区包括与所述多个MUX开关组分别对应的数据信号连接点；所述信号连接区还包括控制所述MUX开关组中每个MUX开关工作状态的第一控制信号连接点；所述显示面板还包括如上述任一项所述的显示面板测试组件。可选的，所述面板测试组件包括所述断开开关组时，所述信号连接区还包括第二控制信号连接点，所述第二控制信号连接点的一端与所述第一测试控制信号线电连接；所述控制信号连接点的另一端与每一个断开开关的栅极电连接。可选的，所述显示面板测试组件中的测试电源电压信号线为所述显示面板的电源电压信号线；所述信号连接区还包括电源电压信号连接点，所述电源电压信号连接点与所述电源电压信号线电连接。综上所述，本专利技术实施例提供一种显示面板测试组件及显示面板，其中，显示面板测试组件应用于包括多个MUX开关组的显示面板，测试组件包括测试开关组及测试信号输入区；测试信号输入区包括第一测试控制信号线、测试数据信号线、测试电源电压信号线和MUX开关控制部件；测试开关组包括多个测试开关，每个测试开关的栅极与第一测试控制信号线电连接，每个测试开关的第一电极与测试数据信号线电连接，每个测试开关的第二电极与显示面板的数据信号线电连接；第一测试控制信号线，用于控制测试开关组的工作状态；测试数据信号线，用于通过测试开关组向显示面板的数据信号线输入数据信号；测试电源电压信号线，用于为显示面板提供工作电压；MUX开关控制部件，与MUX开关组中的多个MUX开关电连接，用于在面板测试过程中控制MUX开关组中的多个MUX开关处于断开状态。显示面板测试组件中的MUX开关控制部件在面板测试过程中，可以将显示面板中的MUX开关组关闭，避免了MUX开关所在的信号线中干扰信号对测试结果的影响，使得显示面板在测试过程中可以只根据测试数据信号线中的数据信号进行显示，进而便可以根据显示面板对数据信号的显示情况获得显示面板的测试结果，因此，本专利技术实施例所提供的显示面板测试组件及显示面板能够提高显示面板测试的可靠性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为一种现有的显示面板结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种显示面板结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种可行的显示面板结构示意图之一；图4为本专利技术实施例提供的一种可行的显示面板结构示意图之二；图5为本专利技术实施例提供的一种可行的显示面板结构示意图之三。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。在显示面板制程中，在覆晶薄膜(ChipOnFilm，COF)绑定(bonding)工艺之前往往还需要先对显示面板进行测试，以筛选掉不合格的显示面板，只对合格的显示面板进行COF绑定。图1为一种现有的显示面板结构示意图，如图1所示，显示面板包括COF绑定点、面板测试点、测试开关组、多个MUX开关组及像素阵列。其中，像素阵列包括P1、本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板测试组件，其特征在于，应用于包括多个MUX开关组的显示面板，所述测试组件包括测试开关组及测试信号输入区；/n所述测试信号输入区包括第一测试控制信号线、测试数据信号线、测试电源电压信号线和MUX开关控制部件；/n所述测试开关组包括多个测试开关，每个测试开关的栅极与所述第一测试控制信号线电连接，每个测试开关的第一电极与所述测试数据信号线电连接，每个测试开关的第二电极与所述显示面板的数据信号线电连接；/n所述第一测试控制信号线，用于控制所述测试开关组的工作状态；/n所述测试数据信号线，用于通过所述测试开关组向所述显示面板的数据信号线输入数据信号；/n所述测试电源电压信号线，用于为所述显示面板提供工作电压；/n所述MUX开关控制部件，与所述MUX开关组中的多个MUX开关电连接，用于在面板测试过程中控制所述MUX开关组中的多个MUX开关处于断开状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试组件，其特征在于，应用于包括多个MUX开关组的显示面板，所述测试组件包括测试开关组及测试信号输入区；
所述测试信号输入区包括第一测试控制信号线、测试数据信号线、测试电源电压信号线和MUX开关控制部件；
所述测试开关组包括多个测试开关，每个测试开关的栅极与所述第一测试控制信号线电连接，每个测试开关的第一电极与所述测试数据信号线电连接，每个测试开关的第二电极与所述显示面板的数据信号线电连接；
所述第一测试控制信号线，用于控制所述测试开关组的工作状态；
所述测试数据信号线，用于通过所述测试开关组向所述显示面板的数据信号线输入数据信号；
所述测试电源电压信号线，用于为所述显示面板提供工作电压；
所述MUX开关控制部件，与所述MUX开关组中的多个MUX开关电连接，用于在面板测试过程中控制所述MUX开关组中的多个MUX开关处于断开状态。


2.如权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述MUX开关控制部件包括多个断开控制线，每个断开控制线与所述MUX开关组中的一个MUX开关的栅极电连接；每个断开控制线在面板测试过程中外接闭合信号从而控制对应的MUX开关处于断开状态。


3.如权利要求2所述的测试组件，其特征在于，所述多个MUX开关组具有相同数量的MUX开关；
针对所述多个MUX开关组中任两个MUX开关组，组内位置相同的两个MUX开关的栅极与同一断开控制线电连接。


4.如权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述MUX开关控制部件包括断开开关组；
所述断开开关组包括多个断开开关；所述断开开关的数量不少于任一所述MUX开关组中的MUX开关的数量；
每个断开开关的栅极与第二测试控制信号线电连接，每个断开开关的第一电极外接闭合信号，所述闭合信号在所述断开开关导通时关闭所述MUX...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖丽娜，曾迎祥，
申请(专利权)人：上海和辉光电有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31