测试装置与测试系统制造方法及图纸

技术编号:23076567 阅读:16 留言:0更新日期:2020-01-10 22:47
本申请公开了一种测试装置与测试系统,该测试装置具有图像传输接口,测试装置通过图像传输接口接收图像信号并将图像信号提供给被测装置,其特征在于,测试装置还具有第一接口与第二接口,测试装置包括:控制器,通过第一接口接收测试参数,并且通过第二接口向检测装置发送第二测试参数;以及处理器,与控制器连接,根据第一测试参数产生测试信号与控制信号,并将测试信号提供给被测装置,被测装置根据图像信号与测试信号产生显示信号。与现有技术相比,本实用新型专利技术不再需要分别对测量装置与检测装置分别进行手动的参数设置,只需要进行一次参数设置,提高了测试效率。

Test device and test system

【技术实现步骤摘要】
测试装置与测试系统
本技术涉及显示
,更具体地,涉及一种测试装置与测试系统。
技术介绍
液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay,LCD)具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点,因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛地应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。通常,LCD在经过出厂之前都必须经过电磁干扰、射频(RadioFrequency,RF)等测试,测量LCD对天线射频的影响以及外界对LCD的噪声干扰程度。图1示出了现有技术检测LCD噪声的原理示意图,控制终端10需要通过测量装置20中的DP接口向显示装置30提供图像信号,在测量装置20中手动设置测试参数,测量装置20根据手动设置的测试参数产生测量信号并提供给显示装置30,显示装置30根据图像信号与测量信号产生显示信号并提供给频谱分析仪40,在频谱分析仪40中手动设置测试参数,频谱分析仪40根据手动设置的测试参数与显示信号产生测量结果,最终将测量结果发送给控制终端10完成测试,工作人员根据显示装置显示信号的噪声程度判断是否满足标准规格,如果不满足,则需要通过降噪的方法对显示装置30进行调试。然而,在现有技术中,每次测量前都需要分别对测量装置20与频谱测量仪40分别进行手动的参数设置,影响测试与后续调试的效率。
技术实现思路
本技术针对现有技术中所存在的上述问题提供了一种测试装置与测试系统,解决了上述问题。根据本技术实施例的一方面,提供了一种测试装置,具有图像传输接口,所述测试装置通过所述图像传输接口接收图像信号并将所述图像信号提供给被测装置,其特征在于,所述测试装置还具有第一接口与第二接口,所述测试装置包括:控制器,通过所述第一接口接收测试参数,并且经由所述第二接口向检测装置发送所述测试参数;以及处理器,与所述控制器连接,接收由所述控制器提供的所述测试参数,根据所述测试参数产生测试信号与控制信号,并将所述测试信号提供给所述被测装置,所述被测装置根据所述图像信号与所述测试信号产生显示信号。优选地,所述控制信号包括开关信号,所述测试装置还包括:开关器,与所述处理器相连以接收所述开关信号;以及连接器,分别与所述图像接口、所述处理器以及所述开关器连接,其中,当所述开关信号为第一状态时,所述开关器控制所述连接器将所述图像信号与所述测试信号提供给所述被测装置,当所述开关信号第二状态时,所述开关器控制所述连接器停止向所述被测装置提供所述图像信号与所述测试信号。优选地,所述控制信号还包括时钟控制信号,所述测试装置还包括时钟器,与所述处理器相连,以接收所述时钟控制信号,其中,所述时钟器用于根据所述时钟控制信号控制所述测试装置的测量时间与测量次数。优选地,所述图像传输接口包括DP接口。优选地,所述第一接口与所述第二接口包括均包括RJ45接口。优选地,所述控制器包括以太网桥接芯片。优选地,所述处理器包括ARM处理器,所述ARM处理器包括简化媒体独立接口,所述ARM处理器通过所述简化媒体独立接口接收所述测试参数。根据本技术实施例的另一方面,提供了一种测试系统,包括:如上所述的测试装置;以及控制终端,具有终端图像接口与终端网络接口,所述终端图像接口与所述图像传输接口相连,所述终端网络接口与所述第一接口相连,被配置为向所述测试装置提供所述图像信号与所述测试参数。优选地,还包括所述检测装置,与所述被测装置相连以接收所述显示信号,并通过所述第二接口与所述测试装置相连以接收所述测试参数,其中,所述测试装置根据所述测试参数与所述显示信号产生测试结果,并将所述测试结果依次经所述第二接口、所述第一接口以及所述终端网络接口传递至所述控制终端。优选地,所述检测装置包括EMI仪器。根据本技术实施例提供的测试装置与测试系统,通过在测试装置中设置第一接口、第二接口以及控制器,控制器经第一接口接收测试参数,将测试参数经第二接口提供至检测装置中,并直接将测试参数提供至测试装置的处理器中,与现有技术相比,本技术不再需要分别对测量装置与检测装置分别进行手动的参数设置,只需要进行一次参数设置,提高了测试效率。附图说明通过以下参照附图对本技术实施例的描述,本技术的上述以及其他目的特征和优点将更为清楚。图1示出了现有技术检测LCD噪声的原理示意图。图2示出了本技术测试系统的示意图。图3示出了本技术测试步骤的示意图。具体实施方式以下将参照附图更详细地描述本技术。在各个附图中,相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。此外,可能未示出某些公知的部分。在下文中描述了本技术的许多特定的细节,以便更清楚地理解本技术。但正如本领域的技术人员能够理解的那样,可以不按照这些特定的细节来实现本技术。图2示出了本技术测试系统的示意图。如图2所示,本技术测试系统包括:控制终端100、测试装置200以及检测装置300。控制终端100具有终端图像接口101与终端网络接口102,测试装置200具有第一接口201、第二接口202以及图像传输接口203,终端图像接口101与图像传输接口203相连,终端网络接口102与第一接口201相连,检测装置300与被测装置50相连并通过第二接口202与测试装置200相连。在本实施例中,测试装置200包括:控制器210、处理器220、开关器230、连接器240以及时钟器250。第一接口201与第二接口202分别与控制器210相连,处理器220分别与控制器210、开关器230、连接器240以及始终器250相连,连接器240分别与图像传输接口203以及开关器230相连。其中,测试装置200通过连接器240与被测装置50相连,处理器220与时钟器250通过I2C总线连接。在本实施例中,第一接口201与第二接口202优选为RJ45接口,图像传输接口203优选为DP接口,控制器210优选为以太网桥接芯片,处理器220优选为包括简化媒体独立接口(ReducedMediaIndependentInterface,RMII)的ARM处理器,开关器230优选为继电器,时钟器250优选为实时时钟芯片(Real-TimeClock,RTC),检测装置300优选为EMI仪器。控制终端100优选为个人电脑。图3示出了本技术测试步骤的示意图。下面将结合图2与图3对本技术实施例测试系统的工作原理进行详细说明。在步骤S01中,在控制终端100的软件环境中设置图像信号photo与测试参数。其中,测试参数包括测试次数、测试时间、用于形成脉冲宽度调制信号PWM的参数等。在步骤S02中,点击软件中的开始测量按钮。在步骤S03中,控制终端100将测试参数与图像信号photo发送到测试装置200中、测试装置200向被本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试装置,具有图像传输接口,所述测试装置通过所述图像传输接口接收图像信号并将所述图像信号提供给被测装置,其特征在于,所述测试装置还具有第一接口与第二接口,所述测试装置包括:/n控制器,通过所述第一接口接收测试参数,并且经由所述第二接口向检测装置发送所述测试参数;以及/n处理器,与所述控制器连接,接收由所述控制器提供的所述测试参数,根据所述测试参数产生测试信号与控制信号,并将所述测试信号提供给所述被测装置,所述被测装置根据所述图像信号与所述测试信号产生显示信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试装置,具有图像传输接口,所述测试装置通过所述图像传输接口接收图像信号并将所述图像信号提供给被测装置,其特征在于,所述测试装置还具有第一接口与第二接口,所述测试装置包括:
控制器,通过所述第一接口接收测试参数,并且经由所述第二接口向检测装置发送所述测试参数;以及
处理器,与所述控制器连接,接收由所述控制器提供的所述测试参数,根据所述测试参数产生测试信号与控制信号,并将所述测试信号提供给所述被测装置,所述被测装置根据所述图像信号与所述测试信号产生显示信号。


2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述控制信号包括开关信号,所述测试装置还包括:
开关器,与所述处理器相连以接收所述开关信号;以及
连接器,分别与所述图像传输接口、所述处理器以及所述开关器连接,
其中,当所述开关信号为第一状态时,所述开关器控制所述连接器将所述图像信号与所述测试信号提供给所述被测装置,
当所述开关信号第二状态时,所述开关器控制所述连接器停止向所述被测装置提供所述图像信号与所述测试信号。


3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述控制信号还包括时钟控制信号,所述测试装置还包括时钟器,与所述处理器相连,以接收所述时钟控制信号,
其中,所述时钟器用于根据所述时钟控制信号控制所述测试装置的测量时间与测量次数。


4.根据权利要求1-...

【专利技术属性】
技术研发人员:荀文东陶子英
申请(专利权)人:昆山龙腾光电股份有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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