显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统技术方案

本申请实施例公开了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。

Defect detection method and system of display panel

【技术实现步骤摘要】
显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统
本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统。
技术介绍
目前对显示面板的缺陷检测主要是通过拍照方式进行。拍照大多使用自动调焦方式，在进行拍照时，相机需要先移动至待拍照点的上方，然后进行自动聚焦，聚焦完成后再拍照。若在对多个不同的待拍照点进行拍照时，需要针对每个拍照点重复进行聚焦动作，拍照倍率越高，聚焦时间越长，增加整体聚焦时间，影响设备效率及节拍时间。也即，现有技术中显示面板的缺陷检测方法存在聚焦时间长、效率不高的问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，能够减少聚焦时间，提高检测效率。为解决上述问题，第一方面，本申请提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：获取所述待拍照点的位置；根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。其中，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：获取预存的区域和焦距的对应关系；根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；r>根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。其中，所述获取所述待拍照点的位置，包括：在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。其中，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。为解决上述问题，第二方面，本申请提供一种缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：获取所述待拍照点的位置；根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。其中，所述控制器具体用于：获取预存的区域和焦距的对应关系；根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。其中，所述缺陷检测系统还包括扫描装置，所述扫描装置用于：在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；所述控制器具体用于将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。其中，所述缺陷检测系统还包括第一驱动装置以及第二驱动装置，所述控制器用于获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；所述第一驱动装置用于将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，所述第二驱动装置用于将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。其中，所述缺陷检测系统还包括第一导轨以及第二导轨，所述第一导轨沿所述横轴延伸，所述第二导轨沿所述纵轴延伸，所述第一导轨与所述第二导轨活动连接，所述拍照装置设置在所述第二导轨上，所述第一驱动装置用于驱动所述第二导轨在所述第一导轨上沿所述横轴滑动，以使所述拍照装置沿所述横轴滑动；所述拍照装置与所述第二导轨活动连接，所述第二驱动装置用于驱动所述拍照装置在所述第二导轨上沿所述纵轴滑动。其中，所述缺陷检测系统包括承载平台，所述承载平台用于承载所述显示面板，所述第一导轨的数量为两个，两个所述第一导轨位于所述承载平台的两侧，所述第二导轨的两端分别与所述第一导轨的两端活动连接。有益效果：本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请实施例提供一种缺陷检测系统的一个实施例结构示意图；图2是图1缺陷检测系统的一个具体实施例结构示意图；图3是显示面板上的区域划分方式一实施例示意图；图4是本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法的一个实施例流程示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或装置必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：/n获取所述待拍照点的位置；/n根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；/n将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；/n将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。


2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。


3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述获取所述待拍照点的位置，包括：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。


4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：
获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；
根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。


5.一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王珂，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44