显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统技术方案

本申请实施例公开了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照装置的焦距调整为目标焦距；将拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测显示面板的缺陷，其中，目标拍照点在显示面板上的投影与待拍照点重合。本申请根据待拍照点的位置直接确定拍照装置的焦距，能够避免在每个待拍照点都自动聚焦，从而降低聚焦时间，提高拍照效率；并且可以在将拍照装置移动至目标拍照点的过程中或之前调整焦距，提高拍照效率。

Defect detection method and system of display panel

【技术实现步骤摘要】
显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统
本申请涉及显示
，具体涉及一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统。
技术介绍
目前对显示面板的缺陷检测主要是通过拍照方式进行。拍照大多使用自动调焦方式，在进行拍照时，相机需要先移动至待拍照点的上方，然后进行自动聚焦，聚焦完成后再拍照。若在对多个不同的待拍照点进行拍照时，需要针对每个拍照点重复进行聚焦动作，拍照倍率越高，聚焦时间越长，增加整体聚焦时间，影响设备效率及节拍时间。也即，现有技术中显示面板的缺陷检测方法存在聚焦时间长、效率不高的问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，能够减少聚焦时间，提高检测效率。为解决上述问题，第一方面，本申请提供一种显示面板的缺陷检测方法，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：获取所述待拍照点的位置；根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；将所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：/n获取所述待拍照点的位置；/n根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；/n将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；/n将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的缺陷检测方法，其特征在于，应用于缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括拍照装置，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述缺陷检测方法包括：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，以检测所述显示面板的缺陷，其中，所述目标拍照点在所述显示面板上的投影与所述待拍照点重合。


2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板的表面被划分为多个区域，所述多个区域对应不同的焦距，所述根据所述待拍照点的位置确定目标焦距，包括：
获取预存的区域和焦距的对应关系；
根据所述待拍照点的位置确定目标区域，其中，所述目标区域为所述待拍照点所处的区域；
根据所述目标区域、所述预存的区域和焦距的对应关系，确定所述目标焦距。


3.根据权利要求1或2所述的缺陷检测方法，其特征在于，
所述获取所述待拍照点的位置，包括：
在所述显示面板的表面建立直角坐标系，所述直角坐标系包括横轴和纵轴；
扫描所述显示面板，以获取所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标；
将所述显示面板上缺陷点的横坐标和纵坐标，作为所述待拍照点的横坐标和纵坐标，以确定所述待拍照点的位置。


4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述将所述拍照装置移动至目标拍照点进行拍照，包括：
获取所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标；
根据所述拍照装置的当前横坐标和当前纵坐标、所述待拍照点的横坐标和纵坐标，得到横轴移动距离和纵轴移动距离；
将所述拍照装置沿所述横轴移动所述横轴移动距离，将所述拍照装置沿所述纵轴移动所述纵轴移动距离。


5.一种缺陷检测系统，其特征在于，所述缺陷检测系统包括拍照装置和控制器，所述拍照装置在平行于所述显示面板表面的检测面上平动，所述拍照装置用于拍照，所述控制器用于：
获取所述待拍照点的位置；
根据所述待拍照点的位置确定目标焦距；
将所述拍照装置的焦距调整为所述目标焦距；
将所述拍照装置移动至所述目标拍照点进行拍照，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王珂，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44