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本申请实施例公开了一种显示面板的缺陷检测方法及缺陷检测系统，该缺陷检测方法应用于缺陷检测系统，缺陷检测系统包括拍照装置，拍照装置在平行于显示面板表面的检测面上平动，缺陷检测方法包括：获取待拍照点的位置；根据待拍照点的位置确定目标焦距；将拍照...
该专利属于深圳市华星光电半导体显示技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电半导体显示技术有限公司授权不得商用。

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