均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法技术

本发明专利技术公开了一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；使用高光谱相机通过显微镜对岩矿样品薄片进行自动拍摄，测量图像中每种均质矿物的高光谱透射率波谱曲线，建立均质矿物的高光谱透射率波谱数据库，作为均质矿物自动识别的标准；将待测岩矿样品薄片放置于光学显微镜下进行矿物光学显微透射高光谱图像的自动拍摄和存储，提取其中的均质矿物颗粒，测量其高光谱透射率波谱曲线；根据图像中矿物颗粒的高光谱透射率曲线，以已经建立好的均质矿物透射高光谱数据库为标准对其进行识别，并将识别出来的不同种矿物着上不同的伪彩色以示区别，由此完成均质矿物的识别。本发明专利技术能够准确、有效的识别岩矿样品薄片的均质矿物。

Automatic recognition of microspectral images of homogeneous minerals

【技术实现步骤摘要】
均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法
本专利技术涉及一种岩矿样品中透明矿物的自动识别，尤其涉及一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法。
技术介绍
目前，对于岩矿鉴定而言，流行的研究方法为：(1)肉眼观察+显微镜下薄片鉴定，但是这种方法对于细粒、微粒矿物的准确有效识别率较低；(2)利用X射线衍射、电子显微探针的手段对需检测的样品进行分析，虽然精确但样品处理复杂且费用高。为提高岩矿样品中矿物的鉴定识别效率和地质工作智能化程度，利用数字图像分析技术自动识别岩矿样品中的矿物逐渐成为研究的热点。目前用来识别矿物的图像分析技术多是基于反射率开发研究的，即：将由光谱仪拍摄的岩矿样品的矿物反射波谱量化，然后利用不同矿物的反射波谱特征差异来区别和鉴定矿物。与反射光相比，透射光可以通过矿物晶体内部，携带的矿物晶体结构信息较反射光更丰富，因此通过利用透射光波谱特征识别矿物，准确率将大大提高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，该方法采用波谱匹配技术用于自动识别岩矿样品中均质矿物。<本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，其特征在于，包括：/n步骤1、将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；/n步骤2、将高光谱相机与光学显微镜相连，打开光学显微镜电源和高光谱相机，按光学显微镜操作规范进行样品光片的聚焦；/n步骤3、聚焦完成后，使用高光谱相机对岩矿样品进行自动拍摄，将拍摄的显微透射高光谱图像存储于计算机中；/n步骤4、打开拍摄的高光谱图像，测量其中每种均质矿物的显微透射高光谱波谱曲线，建立均质矿物的显微高光谱透射率波谱数据库，并将其植入由Python开发的矿物自动识别系统中，作为均质矿物自动识别的标准；/n步骤5、将待测岩矿样品薄片放置于光学显微镜下...

【技术特征摘要】
1.一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，其特征在于，包括：
步骤1、将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；
步骤2、将高光谱相机与光学显微镜相连，打开光学显微镜电源和高光谱相机，按光学显微镜操作规范进行样品光片的聚焦；
步骤3、聚焦完成后，使用高光谱相机对岩矿样品进行自动拍摄，将拍摄的显微透射高光谱图像存储于计算机中；
步骤4、打开拍摄的高光谱图像，测量其中每种均质矿物的显微透射高光谱波谱曲线，建立均质矿物的显微高光谱透射率波谱数据库，并将其植入由Python开发的矿物自动识别系统中，作为均质矿物自动识别的标准；
步骤5、将待测岩矿样品薄片放置于光学显微镜下进行矿物光...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄映聪，刘静，宋志杰，刘成东，何月顺，吴伟成，周万蓬，姜勇彪，
申请(专利权)人：东华理工大学，
类型：发明
国别省市：江西;36