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本发明公开了一种均质矿物显微透射高光谱图像的自动识别方法，将制备完成的岩矿样品薄片，放置于光学显微镜的载物台上；使用高光谱相机通过显微镜对岩矿样品薄片进行自动拍摄，测量图像中每种均质矿物的高光谱透射率波谱曲线，建立均质矿物的高光谱透射率波谱...
该专利属于东华理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过东华理工大学授权不得商用。

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