阵列式发光单元的量测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术关于一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其包括：一承载平台，其包括一承载该复数发光单元的透光部；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。

【技术实现步骤摘要】
阵列式发光单元的量测装置
本技术有关于一种阵列式发光单元的量测装置。
技术介绍
为了保持发光二极管的良率及品质，往往会对发光二极管进行光性的检测。已知技术的发光二极管量测装置，为在发光二极管下方设有积分球，通过积分球接收发光二极管的光以进行光性量测。然而，已知技术由于通过积分球一次只能量测单一颗发光二极管，造成量测时间长，有量测效率不佳的问题。再者使用积分球用于收集光及量测光会有反射光线而造成光量逸散的问题，导致量测不精确。因此，有必要提供一种新颖且具有进步性的阵列式发光单元的量测装置，以解决上述的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种阵列式发光单元的量测装置，可以两个影像式光接收器量测复数发光单元的光性，以提升量测效率。为达成上述目的，本技术提供一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，该阵列式发光单元的量测装置包括：一承载平台，其包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；一量测组件，其包括一第一影像本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其特征在于，该阵列式发光单元的量测装置包括：/n一承载平台，包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；/n复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；/n一量测组件，包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。/n

【技术特征摘要】
1.一种阵列式发光单元的量测装置，用于测量呈阵列式排列的复数发光单元，其特征在于，该阵列式发光单元的量测装置包括：
一承载平台，包括一透光部，该透光部承载该复数发光单元；
复数探针组，分别可供选择地电性接触该复数发光单元的复数待测发光单元；
一量测组件，包括一第一影像式光接收器及一第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别位于该承载平台的一侧，该第一影像式光接收器可与该透光部可相对移动，该第二影像式光接收器可与该透光部可相对移动，以选择地使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部以接收该复数待侧发光单元所产生的光。


2.如权利要求1所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器可同时相对该承载平台移动，使该第一影像式光接收器或该第二影像式光接收器对应该透光部；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器为两个测量不同的光性的量测器。


3.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧。


4.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置。


5.如权利要求4述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应。


6.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算。


7.如权利要求1或2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组。


8.如权利要求2所述的阵列式发光单元的量测装置，其特征在于，该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器分别为一亮度、色度或光谱侦测器；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器位于该承载平台的同一侧；该第一影像式光接收器与该第二影像式光接收器各设有复数光接收单元，该复数光接收单元形成阵列排列，各该光接收单元的位置对应其中一该发光单元的位置；该复数光接收单元的数量对应该复数发光单元的数量，该复数光接收单元的位置与该复数发光单元的位置为一对一相互对应；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光分析装置，该光分析装置分别通联该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器，该第一影像式光接收器及该第二影像式光接收器分别接收该复数待测发光单元的光而产生光性资讯，该光分析装置接收并整合该第一影像式光接收器的光性资讯及该第二影像式光接收器的光性资讯以进行分析及计算；该阵列式发光单元的量测装置另包括一光衰减元件，该光衰减元件设于该透光部与该量测组件之间；各该发光单元包括一发光面及一电极面，该电极面设有两个电极，各该探针组包括两个探针，该两个探针分别电性接触该两个电极，该复数探针组与该量测组件分别位于该承载平台的相对侧，该发光面朝向该量测组件，该电极面朝向该复数探针组；该承载平台为一石英玻璃平台；各该发光单元为覆晶式发光二极管；该复数探针组可相对该透光部平移；该光分析装置另包...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐秋田，林奕良，
申请(专利权)人：惠特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71