通过电极形状操纵位移响应制造技术

技术编号:22974364 阅读:34 留言:0更新日期:2019-12-31 23:18
方法包括获得地平面位移和间隙距离的电容性函数,并使用电容性函数优化优化函数以获得多个片块长度。片块长度对应于第一传感器电极和第二传感器电极之间的多个间隙距离。方法还包括使用片块长度和间隙距离限定传感器电极形状;基于传感器电极形状限定传感器电极图案;以及存储传感器电极图案。

Displacement response controlled by electrode shape

【技术实现步骤摘要】
通过电极形状操纵位移响应
本公开通常涉及电子设备上的力传感器。
技术介绍
诸如触摸板和触摸屏的许多输入设备能够检测力。为了检测力,一些输入设备使用电容性力传感器。电容性力传感器包括力传感器电极、可压缩层和输入表面。力传感器电极、可压缩层和输入表面布置成使得当力施加到表面时,可压缩层压缩。可压缩层的压缩引起要由力传感器电极检测的电容的改变。可压缩层的压缩也可以称为位移。位移量与检测的电容的改变的量之间的关系是位移响应。基于位移响应和检测的电容的改变的量,输入设备可以确定施加到输入表面的力的量并根据用户的输入进行响应。
技术实现思路
通常,在一个方面,一个或多个实施例涉及一种方法,该方法包括:获得地平面位移和间隙距离的电容性函数;以及使用电容性函数优化优化函数以获得多个片块长度。片块长度对应于第一传感器电极和第二传感器电极之间的多个间隙距离。该方法还包括:使用片块长度和间隙距离限定传感器电极形状;基于传感器电极形状限定传感器电极图案;以及存储传感器电极图案。通常,在一个方面,一个或多个实施例涉及一种用于操纵位移响应的系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种方法,包括:/n获得地平面位移和间隙距离的电容性函数;/n使用所述电容性函数来优化优化函数以获得多个片块长度,所述多个片块长度对应于第一传感器电极和第二传感器电极之间的多个间隙距离;/n使用所述多个片块长度和所述多个间隙距离限定传感器电极形状;/n基于所述传感器电极形状限定传感器电极图案;以及/n存储所述传感器电极图案。/n

【技术特征摘要】
20180625 US 16/0174141.一种方法,包括:
获得地平面位移和间隙距离的电容性函数;
使用所述电容性函数来优化优化函数以获得多个片块长度,所述多个片块长度对应于第一传感器电极和第二传感器电极之间的多个间隙距离;
使用所述多个片块长度和所述多个间隙距离限定传感器电极形状;
基于所述传感器电极形状限定传感器电极图案;以及
存储所述传感器电极图案。


2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
针对所述传感器电极图案选择电容性响应函数以获得电容性响应函数;
基于选择的电容性响应函数限定目标函数;以及
执行所述目标函数的优化。


3.根据权利要求2所述的方法,还包括:
获得传感器参数的大小;以及
使用所述传感器参数的所述大小来配置传感器长度约束,其中执行所述优化是要满足所述传感器长度约束。


4.根据权利要求3所述的方法,还包括:
使用传感器长度规则化常数来配置所述传感器长度约束。


5.根据权利要求2所述的方法,还包括:
获得传感器到地距离范围,
其中所述电容性函数使用所述传感器到地距离范围。


6.根据权利要求2所述的方法,还包括:
使用平滑度规则化常数来配置平滑度约束,其中执行所述优化是要满足所述平滑度约束。


7.根据权利要求2所述的方法,还包括:
获得响应信号参数;以及
使用所述响应信号参数来配置响应信号约束,其中执行所述优化是要满足所述响应信号约束。


8.根据权利要求7所述的方法,还包括:
使用响应信号规则化常数来配置所述响应信号约束。


9.根据权利要求1所述的方法,还包括:
根据所述传感器电极图案制造力传感器。


10.一种用于操纵位移响应的系统,包括:
数据存储库,其用于存储地平面位移和间隙距离的电容性函数;以及
计算机处理器,其可操作地连接到所述数据存储库,所述计算机处理器配置成:
获得地平面位移和间隙距离的电容性函数,
使用所述电容性函数来优化优化函数以获得多个片块长度,所述多个片块长度对应于第一传感器电极和第二传感器电极之间的多个间隙距离,
使用所述多个片块长度和所述多个间隙距...

【专利技术属性】
技术研发人员:M布利F施密特
申请(专利权)人:辛纳普蒂克斯公司
类型:发明
国别省市:美国;US

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1