通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统，其中，方法包括以下步骤：提供电源、电子设备及检测装置，将所述电源及所述电子设备串联并形成串联回路；将所述检测装置连接于所述电子设备，所述串联回路连通使所述电源向所述电子设备供电，所述检测装置对所述电子设备进行第一测试，若所述第一测试通过，则判断所述电子设备与所述检测装置连通，所述电子设备良好；保持所述检测装置连接于所述电子设备不变，所述串联回路先断路后连通以重启所述电子设备，所述检测装置对所述电子设备进行第二测试，若所述第二测试通过，则判断所述电子设备与检测装置连通。利用检测装置多次检测电子设备以判断电子设备状况，操作简单且实用性强。

The method and system of judging the condition of electronic equipment by detecting device

【技术实现步骤摘要】
通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统
本专利技术涉及电子设备测试领域，尤其涉及一种通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统。
技术介绍
常规的电子设备生产测试流程中，主板完成软件下载和单板SN(SerialNumber)号写入后，后面就进入检测工位，进行参数写入和指标测试，确保生产的电子设备的网络信号连接性能指标。电子设备需要在检测装置测试通过后，才能准确高效的进行参数写入指标和测试。因此电子设备和检测装置的有效连接是保证电子设备生产良率和效率的关键因素。以手机为例，目前的手机主板由于测试量大、测试时间长、测试夹具压合力大、测试夹具磨损频繁等问题，主板和夹具接触不良的造成的误测时常发生。通常生产工程人员遇到主板误测，分析是否是由于主板和夹具接触不良的的原因，往往通过主板重复测试验证、更换夹具配件对比、维修和更换设备等方式进行判断。但由于接触不良的现象是属于不稳定状态，同一个主板反复测试，不是每次都会出现接触不良现象。尤其在主板试产阶段，主板的软件和工具等不稳定因素，也会导致出现误测现象。多种因素的叠加，使得对夹具接触状况的的判断更加困难。此种判断方式效率低、误判率高、验证繁琐，从而降低了生产效率和生产的主板性能。鉴于此，实有必要提供一种通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统以克服上述缺陷。
技术实现思路
本专利技术的目的是一方面提供一种操作简单、实用性强且节省时间的通过检测装置判断电子设备状况的方法；另一方面提供一种通过检测装置判断电子设备状况的系统。为了实现上述目的，本专利技术提供一种通过检测装置判断电子设备状况的方法，包括以下步骤：提供电源、电子设备及检测装置，将所述电源及所述电子设备串联并形成串联回路；将所述检测装置连接于所述电子设备，所述串联回路连通使所述电源向所述电子设备供电，所述检测装置对所述电子设备进行第一测试，若所述第一测试通过，则判断所述电子设备与所述检测装置连通，所述电子设备良好；若所述第一测试不通过，则进入下一步骤；保持所述检测装置连接于所述电子设备不变，所述串联回路先断路后连通以重启所述电子设备，所述检测装置对所述电子设备进行第二测试，若所述第二测试通过，则判断所述电子设备与检测装置连通。在一个优选实施方式中，若第二测试不通过，控制所述检测装置与所述电子设备先断开再重新连接，由所述检测装置对所述电子设备进行第三测试；若所述第三测试通过，则判断检测装置与电子设备未连通。在一个优选实施方式中，若所述第三测试不通过，则判断所述电子设备不良。在一个优选实施方式中，所述串联回路连通，所述电源为所述电子设备供电时，电子设备的程序自动运行。本专利技术还提供一种通过检测装置判断电子设备状况的系统，包括电子设备、检测装置及电源；所述电源与所述电子设备串联连接形成串联回路；所述串联回路连通时，所述电源向电子设备供电，所述检测装置对所述电子设备进行第一测试，若所述第一测试通过，则判断所述电子设备与所述检测装置连通；若所述第一测试不通过，保持所述检测装置连接于所述电子设备不变，所述串联回路先断路后连通以重启所述电子设备，所述检测装置对所述电子设备进行第二测试，若所述第二测试通过，则判断所述检测装置与所述电子设备连通。在一个优选实施方式中，所述系统还包括控制机构，所述电子设备在所述控制机构的作用下与所述检测装置断开或者连接；若所述第二测试不通过，所述控制机构控制所述检测装置与所述电子设备先断开再重新连接，由所述检测装置对所述电子设备进行第三测试；若所述第三测试通过，则判断所述检测装置与所述电子设备接触不良。在一个优选实施方式中，若所述第三测试不通过，则判断所述电子设备不良。在一个优选实施方式中，所述控制机构使所述检测装置断开与电子设备的连接，所述串联回路断路；然后所述控制机构使所述检测装置与所述电子设备再次连接时，所述串联回路连通，以重启所述电子设备。在一个优选实施方式中，所述系统还包括能够使串联回路断路或者连通的开关。在一个优选实施方式中，所述电子设备包括第一连接模块，所述检测装置包括与所述第一连接模块对应的第二连接模块；所述第一连接模块与所述第二连接模块连接进而实现所述电子设备与所述检测装置的连接。本专利技术提供的通过检测装置判断电子设备状况的方法，在串联回路中设置能够使串联回路断路与连通的开关，使用检测装置对电子设备进行测试时，若测测试未通过，通过控制串联回路的断路与连通重启电子设备，再次进行测试，根据测试结果快速判断所述电子设备与所述检测装置接触状况。本专利技术提供的通过检测装置判断电子设备状况的方法与系统，操作简单、步骤少且准确率高。【附图说明】图1为本专利技术提供的通过检测装置判断电子设备状况的方法的流程图。图2为图1所示的通过检测装置判断电子设备状况的方法的子流程图。图3为本专利技术提供的通过检测装置判断电子设备状况的系统的结构示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本专利技术，并不是为了限定本专利技术。请参照图1及图2，本专利技术提供一种通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S01，提供电源、电子设备及检测装置，将电源及电子设备串联并形成串联回路。本步骤中，电源为电子设备供电时，电子设备的程序自动运行；检测装置对电子设备进行参数写入和指标测试，实现对电子设备的测试。串联回路中还设置有能够使串联回路断路或连通的开关。本实施方式中，开关可以为实体的压合开关，也可以为虚拟的电信号开关。开关使串联回路断路时，电子设备的程序停止运行；开关使串联回路连通时，电子设备的程序自动运行。步骤S02，将检测装置连接于电子设备，串联回路连通使电源向电子设备供电，检测装置对电子设备进行第一测试，若第一测试通过，则判断电子设备与检测装置连通，电子设备良好；若第一测试不通过，则进入步骤S03。本步骤中，将检测装置与电子设备连接，并能够对电子设备进行第一测试。第一测试中，检测装置能够显示电子设备的参数，则说明检测装置与电子设备的连通。进一步的，电子设备的参数在预设范围内，则说明电子设备性能良好、质量合格；反之则说明电子设备性能未达到合格标准。第一测试中，若检测装置未能够显示电子设备的参数，则电子设备在第一测试中不通过，进入步骤S03继续测试。其中，检测装置连接于电子设备，仅仅是一种动作关系，并不代表检测装置与电子设备的连接是有效连接；电子设备与检测装置连通，是一种状态，表明检测装置与电子设备处于有效连接状态。步骤S03，保持检测装置连接于电子设备不变，串联回路先断路后连通以重启电子设备，检测装置对电子设备进行第二测试，若第二测试通过，则判断电子设备与检测装置连通；若第二测试不通过，则进入到步骤S04。本步骤中，电子设备在检测装置中测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n提供电源、电子设备及检测装置，将所述电源及所述电子设备串联并形成串联回路；/n将所述检测装置连接于所述电子设备，所述串联回路连通使所述电源向所述电子设备供电，所述检测装置对所述电子设备进行第一测试，若所述第一测试通过，则判断所述电子设备与所述检测装置连通，所述电子设备良好；若所述第一测试不通过，则进入下一步骤；/n保持所述检测装置连接于所述电子设备不变，所述串联回路先断路后连通以重启所述电子设备，所述检测装置对所述电子设备进行第二测试，若所述第二测试通过，则判断所述电子设备与检测装置连通。/n

【技术特征摘要】
1.一种通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供电源、电子设备及检测装置，将所述电源及所述电子设备串联并形成串联回路；
将所述检测装置连接于所述电子设备，所述串联回路连通使所述电源向所述电子设备供电，所述检测装置对所述电子设备进行第一测试，若所述第一测试通过，则判断所述电子设备与所述检测装置连通，所述电子设备良好；若所述第一测试不通过，则进入下一步骤；
保持所述检测装置连接于所述电子设备不变，所述串联回路先断路后连通以重启所述电子设备，所述检测装置对所述电子设备进行第二测试，若所述第二测试通过，则判断所述电子设备与检测装置连通。


2.如权利要求1所述的通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于：
若第二测试不通过，控制所述检测装置与所述电子设备先断开再重新连接，由所述检测装置对所述电子设备进行第三测试；若所述第三测试通过，则判断检测装置与电子设备未连通。


3.如权利要求2所述的通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于：若所述第三测试不通过，则判断所述电子设备不良。


4.如权利要求3所述的通过检测装置判断电子设备状况的方法，其特征在于：所述串联回路连通，所述电源为所述电子设备供电时，电子设备的程序自动运行。


5.一种通过检测装置判断电子设备状况的系统，其特征在于：包括电子设备、检测装置及电源；所述电源与所述电子设备串联连接形成串联回路；所述串联回路连通时，...

【专利技术属性】
技术研发人员：尚闪闪，
申请(专利权)人：闻泰科技无锡有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32