基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质技术

本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。所述基于测试对象的测试向量生成方法包括：根据测试对象获取一个或多个测试文件；对所述测试文件进行处理得到待输出数据；利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。基于本发明专利技术的技术方案，提高了测试向量的生成效率，并且生成的测试向量的可读性高，便于测试向量的在线调试。

Test vector generation method and storage medium based on test object

【技术实现步骤摘要】
基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质
本公开涉及集成电路测试
，尤其涉及一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质。
技术介绍
随着科学技术的发展，集成电路产业得到了快速的提升，制造集成电路产品的质量与可靠性要求也得到进一步提高。为了保证集成电路产品达到使用要求，需要对集成电路进行测试。以IC芯片的测试过程为例，在利用自动化测试设备(ATE，AutomaticTestEquipment)对被测器件进行各项测试时，首先需要生成测试向量，并以生成的测试向量作为激励信号输入到被测器件中，从而根据被测器件的输出响应来检测被测器件是否合格，因此可见测试向量的生成对IC芯片的测试效率及测试结果都至关重要。现有技术中，测试向量的生成过程是由测试工程师将测试需求提交给设计工程师，并由设计工程师使用电子设计自动化(EDA，ElectronicsDesignAutomation)软件仿真得到波形文件，再利用转换工具转换为自动化测试设备ATE使用的测试向量。以上这种使用EDA软件仿真出波形文件再由转换工具转换为测试向量的方式，导致测试向量的生成效率降低，并且转换出的测试向量的可读性差，也不便于测试向量的在线调试。
技术实现思路
本公开提供一种基于测试对象的测试向量生成方法及存储介质，以解决相关技术存在的测试向量的生成效率低，转换出的测试向量的可读性差，也不便于测试向量的在线调试的问题。为解决上述技术问题，本公开实施例的第一方面，提供一种基于测试对象的测试向量生成方法，包括：根据测试对象获取一个或多个测试文件；对所述测试文件进行处理得到待输出数据；利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。在本实施例的一些实施方式中，根据测试对象获取一个或多个测试文件，包括：根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，所述测试文件包括数据文件和/或伪代码；其中，所述数据文件为测试对象可识别的程序文件。在本实施例的一些实施方式中，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，包括：对所述数据文件进行分析处理，和/或对所述伪代码进行编译处理，得到处理后的待输出数据。在本实施例的一些实施方式中，当所述数据文件为多个时，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，还包括：将多个所述数据文件依次载入并进行处理，直至多个所述数据文件被依次处理完成。在本实施例的一些实施方式中，所述测试需求包括对所述测试对象的功能进行测试，所述测试向量包括功能测试向量。在本实施例的一些实施方式中，利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据之前，所述方法还包括：根据所述测试对象的调试端口协议，确定与所述调试端口协议对应的编译器。在本实施例的一些实施方式中，利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量，包括：利用与调试端口协议对应的编译器，将所述待输出数据编译为符合所述调试端口协议要求的波形格式的数据，所述波形格式的数据包括所述调试端口协议的数据波形；对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试向量。在本实施例的一些实施方式中，对所述数据波形执行转化操作，得到所述测试对象的测试向量之后，所述方法还包括：在所述测试向量中添加格式信息以及注释信息，所述格式信息包括可用于自动测试设备的测试向量的格式信息。在本实施例的一些实施方式中，所述测试对象为IC芯片。本公开实施例的第二方面，提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述第一方面中任一项所述方法的步骤。本公开实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：通过根据测试对象获取一个或多个测试文件，并对测试文件进行处理得到待输出数据；利用预定的编译器将待输出数据编译为波形格式的数据，并将波形格式的数据进行转化，以便生成测试对象的测试向量。基于本专利技术的技术方案，无需设计工程师使用EDA软件输出仿真波形文件，再利用转换工具转换为ATE使用的测试向量，而是通过输入测试对象的测试文件，对测试文件进行处理得到待输出数据，最后直接将待输出数据编译、转化为测试对象的测试向量，从而提高了测试向量的生成效率，并且生成的测试向量的可读性高；另外，由于无需通过测试工程师将测试需求提交给设计工程师，也无需将测试向量的调试结果反馈给设计工程师，因此也极大方便了测试向量的在线调试。附图说明为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为相关技术中功能测试向量的生成及调试过程的流程图；图2为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成方法的流程示意图；图3为本公开实施例中功能测试向量的生成及调试过程的流程图；图4为本公开实施例提供的一种基于测试对象的测试向量生成装置的结构示意图；图5为本公开实施例中SWD协议数据波形图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本公开实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。集成电路测试是集成电路生产制造过程中的重要环节，通过对集成电路的测试，可以检测生产出的集成电路的精确度及稳定性。对集成电路的测试通常需要利用自动化测试设备ATE来完成，而通过ATE对集成电路进行测试时，需要输入测试向量作为激励信号输入到被测器件中，继而完成对被测器件的检测。对于简单的集成电路(如门电路)，其ATE测试向量一般可以按照ATE向量格式手工完成；而对于一些集成度高，功能复杂的集成电路(如IC芯片)而言，其测试向量数据庞大，一般不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量，因此，有必要探寻一种高效快捷的方法，完成测试向量的生成。需要说明的是，本公开是以集成电路中的IC芯片作为被测器件而言的，即本专利技术中测试对象可以为IC芯片，IC芯片测试包括对IC芯片的基本参数、功能、性能等指标进行的测试，不同的测试所需要的测试向量不尽相同，本专利技术以下实施例是以IC芯片的功能测试作为具体应用场景来说的，此时，生成的测试向量为功能测试向量。由于IC芯片也可以仅用IC来表示，因此，以下实施例中的IC与IC芯片具有相同意义。图1为相关技术中功能测试向量的生成及调试过程的流程图。在功能测试向量的生成及调试过程中，首先是由测试工程师(ICtestengineer)将测试需求(Demand)提交给设计工程师(Designer本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于测试对象的测试向量生成方法，其特征在于，包括：/n根据测试对象获取一个或多个测试文件；/n对所述测试文件进行处理得到待输出数据；/n利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于测试对象的测试向量生成方法，其特征在于，包括：
根据测试对象获取一个或多个测试文件；
对所述测试文件进行处理得到待输出数据；
利用预定的编译器将所述待输出数据编译为波形格式的数据，并将所述波形格式的数据进行转化，以便生成所述测试对象的测试向量。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据测试对象获取一个或多个测试文件，包括：
根据测试对象的测试需求确定一个或多个测试文件，所述测试文件包括数据文件和/或伪代码；其中，所述数据文件为测试对象可识别的程序文件。


3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，包括：
对所述数据文件进行分析处理，和/或
对所述伪代码进行编译处理，得到处理后的待输出数据。


4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述数据文件为多个时，对所述测试文件进行处理得到待输出数据，还包括：
将多个所述数据文件依次载入并进行处理，直至多个所述数据文件被依次处理完成。


5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试需求包括对所述测试对象的功能进行测试，所述测试向量包括功能测试向量。
<...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘超，孙阳，余景亮，
申请(专利权)人：珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44