动量空间光学相位测量系统技术方案

本发明专利技术涉及一种动量空间光学相位测量系统，包括：物镜，置于待测样品的后方；第一分束器，置于物镜的后方；两个透镜，以一定间距置于第一分束器的后方；光电探测设备，置于的两个透镜的后方；以及光束发射装置，用于形成光束；其中，光束被分成射向待测样品的第一路光束和射向第一分束器的第二路光束；第一路光束经过待测样品和物镜而进入第一分束器并与第二路光束合束形成汇合光束，汇合光束依次通过的两个透镜并射入光电探测设备。本发明专利技术采用光束分成经过样品和不经过样品的两路光束传播，而后在样品的动量空间中重新叠加，进而利用光学探测设备测量叠加信号的强度，从中提取出样品在动量空间中的光学相位响应信息。

Optical phase measurement system in momentum space

【技术实现步骤摘要】
动量空间光学相位测量系统
本专利技术涉及光学相位测量的
，特指一种动量空间光学相位测量系统。
技术介绍
光作为一种电磁波，其相位信息非常重要，相位的不同会引起强度的不同分布。当相同频率、相同振幅的两束光叠加时，它们之间不同的相位关系会产生截然不同的效果：当两束光具有完全相同的相位时，它们的叠加强度为各自强度的累加；当两束光的相位相差半个周期时，它们的叠加强度为零。光的干涉、衍射等效应都源于此。除了强度，相位对光的偏振态也有着很大影响。两个垂直偏振矢量的相位关系不同会形成完全不同的偏振态：当两者的相位完全相同时，随着时间的变化电场矢量的矢端在平面内绘制出一条直线，即为线偏振光；当两者相位相差90°时，随着时间的变化电场矢量的矢端在平面内描绘出一个(椭)圆形，即为(椭)圆偏振光；另外根据相位差为+90°和-90°，还可以进一步分为左旋(椭)圆偏振和右旋(椭)圆偏振态。因此，相位是调制光场性质、光波传输的一个十分重要的维度。为了对光进行更好的调制与性质研究，人们设计制作出光子晶体、表面等离激元、超材料等新型人工光子材料。这种材料往往具有本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种动量空间光学相位测量系统，其特征在于，包括：/n物镜，置于待测样品的后方；/n第一分束器，置于所述物镜的后方；/n两个透镜，以一定间距置于所述第一分束器的后方；/n光电探测设备，置于所述的两个透镜的后方；以及/n光束发射装置，用于形成光束；/n其中，所述光束发射装置形成的光束被分成射向所述待测样品的第一路光束和射向所述第一分束器的第二路光束；/n所述第一路光束经过所述待测样品和所述物镜而进入所述第一分束器并与所述第二路光束经所述第一分束器合束形成汇合光束，所述汇合光束依次通过所述的两个透镜并射入所述光电探测设备，所述光电探测设备用于从所述汇合光束中测得所述待测样品在动量空间中的光学相位...

【技术特征摘要】
1.一种动量空间光学相位测量系统，其特征在于，包括：
物镜，置于待测样品的后方；
第一分束器，置于所述物镜的后方；
两个透镜，以一定间距置于所述第一分束器的后方；
光电探测设备，置于所述的两个透镜的后方；以及
光束发射装置，用于形成光束；
其中，所述光束发射装置形成的光束被分成射向所述待测样品的第一路光束和射向所述第一分束器的第二路光束；
所述第一路光束经过所述待测样品和所述物镜而进入所述第一分束器并与所述第二路光束经所述第一分束器合束形成汇合光束，所述汇合光束依次通过所述的两个透镜并射入所述光电探测设备，所述光电探测设备用于从所述汇合光束中测得所述待测样品在动量空间中的光学相位信息。


2.如权利要求1所述的动量空间光学相位测量系统，其特征在于，所述光束发射装置包括置于所述第一分束器第一侧的光源和置于所述第一分束器与第一侧相对的第二侧的反射镜；
所述光源产生的光束经所述第一分束器分成所述第一路光束和所述第二路光束；
其中，所述第一路光束经过所述物镜入射至所述待测样品并经所述待测样品反射而进入所述第一分束器；
所述第二路光束经过所述反射镜反射而进入所述第一分束器。


3.如权利要求2所述的动量空间光学相位测量系统，其特征在于，所述反射镜至所述第一分束器的光程满足以下条件：



其中，l1表示所述反射镜至所述第一分束器的光程，l0表示所述光源的相干长度，l2表示所述待测样品至所述第一分束器的光程。


4.如权利要求2所述的动量空间光学相位测量系统，其特征在于，所述的两个透镜之间设有光阑。


5.如权利要求4所述的动量空间光学相位测量系统，其特征在于，所述光阑位于所述的两个透镜之间的像面处。


6.如权利要求1所述的动量空间光学相位测量系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张译文，石磊，资剑，殷海玮，胡松婷，
申请(专利权)人：上海复享光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31