一种测试探针制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是，OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。

A test probe

The utility model discloses a test probe. By designing the probe body in the form of a flat top, the pressure caused by the test probe is small, so as to avoid the occurrence of the test probe crushing the product to be tested. At the same time, the contact area between the probe body and the product to be tested is increased, the conductivity of the probe body is enhanced, and the possibility of poor contact of the probe is reduced The problem is that the OGS touch screen is often damaged by the ink at the tip of the existing test probe during the test, resulting in poor light transmission.

【技术实现步骤摘要】
一种测试探针
本技术涉及测试
，尤其涉及一种测试探针。
技术介绍
在触摸屏线路流程制作完成后，会进行功能测试的环节；目前OGS（oneglasssolution,即单片玻璃制程，在一片玻璃上直接形成ITO导电膜及传感器技术）型号在测试时经常出现测试接触的探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。
技术实现思路
本技术提供一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性。本技术的上述技术目的是通过以下技术方案实现的：一种测试探针，包括针体、套体；所述针体的尾端连接于套体内部；所述套体包括侧壁、底面；所述套体与针体之间设有弹簧，所述弹簧一端固定连接在套体的底面，一端固定连接在针体的尾部；所述针体的顶部为平面。采用上述结构，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生。进一步优化为，所述针体是边缘设有倒角的圆柱形。采用上述结构，针体边缘设有倒角，防止顶部为平面的针体边缘划伤待测试产品。进一步优化为，所述弹簧的劲度系数为10N/mm。采用上述结构，弹簧的劲度系数从25N/mm降低到10N/mm，防止弹簧造成的压力过大，使得测试探针压伤待测试产品。进一步优化为，所述针体周围设有定位套筒，所述定位套筒与套体固定连接。采用上述结构，定位套筒使得针体的上下移动更精细，不发生左右偏移，同时，起到保护针体的作用，防止探针的撞击导致针体折断。进一步优化为，所述测试探针是用于触摸屏测试的测试探针。采用上述结构，触摸屏造价昂贵容易压伤，使用本测试探针防止触摸屏被压伤。进一步优化为，所述针体是铜针体。采用上述结构，铜针体的电阻率较高，适合作为测试探针的原材料，同时，铜不易被腐蚀，使用时间长。进一步优化为，所述套体与外部测试机构连接，控制套体的上下移动。综上所述，本技术具有以下有益效果：本技术提供一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是，OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。附图说明图1是现有技术中的测试探针的示意图。图2是本技术的一个实施例中测试探针的示意图。附图标记：1、套体；2、针体；201、倒角；3、弹簧；4、定位套筒。具体实施方式为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施例对本技术进行进一步地详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是，本技术还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本技术的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例和附图对现有技术的测试探针及本技术的测试探针作进一步详述。现有技术：如图1所示，目前，测试探针包括针体2与套体1；针体1的尾部具有一子弹头型的尖端，OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良，弹簧的劲度系数为25N/mm。下面介绍本技术的实施例。实施例如图2所示，一种测试探针，包括针体2、套体1；所述针体2的尾端连接于套体1内部；所述套体1包括侧壁、底面；所述套体1与针体2之间设有弹簧3，所述弹簧3一端固定连接在套体1的底面，一端固定连接在针体2的尾部；所述针体2的顶部为平面；通过将针体2设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生。优选的，所述针体2是边缘设有倒角201的圆柱形；针体2边缘设有倒角201，防止顶部为平面的针体2边缘划伤待测试产品。优选的，所述弹簧3的劲度系数为10N/mm；弹簧3的劲度系数从现有技术中的25N/mm降低到10N/mm，防止弹簧3造成的压力过大，使得测试探针压伤待测试产品。优选的，所述针体2周围设有定位套筒4，所述定位套筒4与套体1固定连接。定位套筒4使得针体2的上下移动更精细，不发生左右偏移，同时，起到保护针体2的作用，防止探针的撞击导致针体2折断。优选的，所述测试探针是用于触摸屏测试的测试探针；触摸屏造价昂贵容易压伤，使用本测试探针防止触摸屏被压伤。优选的，所述针体2是铜针体。铜针体的电阻率较高，适合作为测试探针的原材料，同时，铜不易被腐蚀，使用时间长。优选的，所述套体1与外部测试机构（图中未示出）连接，控制套体1的上下移动。本技术提供一种测试探针，通过将针体设计成顶部为平面的形式，使得测试探针造成的压强较小，从而可以避免测试探针压坏待测试产品的情况发生，同时增大针体与待测试产品的接触面积，增强针体的导电性能，降低探针出现接触不良的可能性；解决的问题是，OGS型号触摸屏在测试时经常出现被现有的测试探针尖端位置扎坏油墨造成透光不良。上述具体实施例仅仅是对本技术的解释，其并不是对本技术的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例和实施方式做出没有创造性贡献的修改，但只要在本技术的权利要求范围内都受到专利法的保护。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探针，其特征在于，包括针体、套体；所述针体的尾端连接于套体内部；所述套体包括侧壁、底面；所述套体与针体之间设有弹簧，所述弹簧一端固定连接在套体的底面，一端固定连接在针体的尾部；所述针体的顶部为平面。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试探针，其特征在于，包括针体、套体；所述针体的尾端连接于套体内部；所述套体包括侧壁、底面；所述套体与针体之间设有弹簧，所述弹簧一端固定连接在套体的底面，一端固定连接在针体的尾部；所述针体的顶部为平面。


2.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述针体是边缘设有倒角的圆柱形。


3.根据权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述弹簧的劲度系数为10N/mm。

【专利技术属性】
技术研发人员：郑运松，张杰，曾一鑫，
申请(专利权)人：信元光电有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44