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空间电场测量系统技术方案

技术编号:22638761 阅读:78 留言:0更新日期:2019-11-26 15:27
本发明专利技术提出一种空间电场测量系统和方法,其中,系统包括绝缘参考物体和测量子系统,其中,绝缘参考物体位于被测空间电场中;测量子系统,用于采集绝缘参考物体上的电荷,并根据电荷确定被测空间电场的电场。该系统通过测量累积到空间任意位置绝缘体表面的电荷直接获得该处含有空间电荷的空间电场的强度,解决现有技术中只能测量地面的电场,无法准确测量空间任意位置电场的技术问题。

Space electric field measurement system

The invention provides a space electric field measurement system and method, wherein the system includes an insulating reference object and a measurement subsystem, wherein the insulating reference object is located in the space electric field to be measured; the measurement subsystem is used to collect the charge on the insulating reference object and determine the electric field of the space electric field to be measured according to the charge. The system can directly obtain the intensity of the space electric field containing space charge by measuring the charge accumulated on the surface of the insulator at any position in space, so as to solve the technical problem that only the electric field on the ground can be measured in the prior art, and the electric field at any position in space cannot be measured accurately.

【技术实现步骤摘要】
空间电场测量系统
本专利技术涉及高压电
,尤其涉及一种空间电场测量系统和方法。
技术介绍
直流输电线正常工作时,电晕放电难以避免,因而导线周围存在正、负带电粒子,并且直流线路两级导线之间和极导线与大地之间整个空间将会充满因电晕产生的带电离子,这些带电粒子在直流电场作用下定向运动,产生的电场称为离子流场。研究表明,在直流电场作用下,暴露在离子流场中的物体表面会积聚电荷导致诸多危害。首先是影响输电走廊的电磁环境,尤其是电场强度。其次电荷积聚于输电走廊附近的物体上,如温棚的保温膜上,这些电荷会产生较高的电位,如果人接触可能会产生被电击的危险。在此,表面电荷的存在会导致介质表面附近电场畸变,造成局部场强激增。同时,表面电荷可以作为“种子电荷”,使沿面闪络电压降低。对绝缘子的绝缘性能产生影响,造成绝缘性能的下降。因此测试直流输电线路离子流场非常重要。目前的测试直流输电线路离子流场采用旋转伏特计或者振动伏特计,这些测量装置必须接地,因此只能用来测量地面的电场。如果用于测量空间电场,则由于接地引线的存在,导致被测电场畸变严重,无法准确测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种空间电场测量系统,其特征在于,包括:绝缘参考物体和测量子系统,其中,所述绝缘参考物体位于被测空间电场中;/n所述测量子系统,用于采集所述绝缘参考物体上的电荷,并根据所述电荷确定所述被测空间电场的电场。/n

【技术特征摘要】
1.一种空间电场测量系统,其特征在于,包括:绝缘参考物体和测量子系统,其中,所述绝缘参考物体位于被测空间电场中;
所述测量子系统,用于采集所述绝缘参考物体上的电荷,并根据所述电荷确定所述被测空间电场的电场。


2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括:绝缘支撑组件、通电导线和直流供电电源,其中,所述直流供电电源与所述通电导线电连接,
所述绝缘支撑组件,用于支撑所述通电导线位于空间中;
所述直流供电电源,用于为所述通电导线提供直流电压,使所述通电导线产生电晕放电,形成所述被测空间电场。


3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述绝缘参考物体包括至少一个。


4.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述绝缘参考物体包括:
圆形绝缘参考物体。


5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测量子系统,包括:法拉第筒,数字电荷仪以及计算组件,
所述法拉第筒和所述数字电荷仪,用于检测所述绝缘参考物体的表面的总电荷量;
所述计算组件,用于根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:张波何金良刘卓然蒙泳昌肖凤女曾嵘胡军余占清庄池杰
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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