一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片制造方法及图纸

本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片，该测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口，通用数字测试机台与射频信号发生器连接，通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接，射频信号发生器与射频接口通信连接。本申请的非接触卡芯片中包括射频接口和接触式双向数字通信接口，射频接口用于获取电源信号和时钟信号，接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。通过本申请能够提高芯片测试效率，提高测试过程中的抗干扰能力以及降低测试成本。

A test device for contactless card chip and contactless card chip

The application discloses a non-contact card chip test device and a non-contact card chip, the test device includes: a universal digital test machine, a radio frequency signal generator and a contact bidirectional digital communication interface, a universal digital test machine is connected with a radio frequency signal generator, a universal digital test machine is connected with a contact bidirectional digital communication interface, and a radio frequency signal generator is connected with a radiation Frequency interface communication connection. The non-contact card chip of the application includes a radio frequency interface and a contact bidirectional digital communication interface, wherein the radio frequency interface is used for obtaining a power signal and a clock signal, and the contact bidirectional digital communication interface is used for transmitting a baseband signal. The application can improve the chip test efficiency, improve the anti-interference ability in the test process and reduce the test cost.

【技术实现步骤摘要】
一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片
本申请涉及芯片测试
，特别是涉及一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片。
技术介绍
非接触卡芯片是一类通过天线和电磁场获取电源，并与读卡机进行通信的芯片。对于非接触卡生产商来说，为确保非接触卡芯片的出厂质量，需要在出厂前测试非接触卡芯片的功能是否正常，这就用到非接触卡芯片的测试设备。目前的非接触卡测试设备通常为专用射频测试机台，专用射频测试机台采用调制射频的方式发送命令给待测芯片并接收待测芯片的返回信息，待测芯片的基带信号和时钟、能量均通过射频接口获取。采用专用射频测试机台对非接触卡芯片进行测试的方法可以参见图1。由图1可知，专用射频测试机台通过天线1为待测芯片同时提供能量、时钟、命令和数据。待测芯片通过天线2经由射频接口接收能量、时钟、命令和数据，且两者之间进行数据交互，根据待测芯片返回的数据判断待测芯片的性能是否合格，从而实现对待测芯片的性能测试。然而，目前的非接触卡测试设备中，由于待测芯片需要通过射频接口同时向待测芯片提供能量、时钟、命令和数据，且射频信号波形远比简单的数字信号复杂，因此，专用射频测试机台发送射频信号时需要对载波幅度、载波上升和下降时间进行精确控制，接收射频信号时需要先对载波进行解调，对测试灵敏度要求较高，目前的测试设备存在抗干扰性不够高的问题，从而导致测试结果不够准确。而且，目前的测试设备中射频频率较高，测试设备操作较复杂，导致测试时间较长，测试效率不够高。
技术实现思路
本申请提供了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片，以解决现有技术中测试时间较长、测试过程中抗干扰能力较差的问题。为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：一种非接触卡芯片测试装置，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。可选地，所述接触式双向数字通信接口具体包括：设置于所述非接触卡芯片上的输入输出引脚。可选地，所述射频信号发生器的频率与所述非接触卡芯片的工作频率相同。可选地，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器之间为通信连接或电连接。一种非接触卡芯片，所述非接触卡芯片中包括：射频接口和接触式双向数字通信接口，所述射频接口用于传输电源信号和时钟信号，所述接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。可选地，所述非接触卡芯片包括：低频非接触卡芯片、高频非接触卡芯片或者超高频非接触卡芯片。本申请的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：本申请提供一种非接触卡芯片测试装置，该测试装置主要包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和一接触式双向数字通信接口，其中，接触式双向数字通信接口设置于非接触卡芯片上。通用数字测试机台与射频信号发生器连接，从而使得通用数字测试机台能够控制射频信号发生器发送一定频率的载波；通用数字测试机台与非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，用于传输基带信号；射频信号发生器与非接触卡芯片的射频接口通信连接，用于传输电源信号和时钟信号。本实施例中接触式双向数字通信接口的设置，使得基带信号不再通过射频接口传输至非接触卡芯片，射频接口只需要提供电源信号和时钟信号即可，因此不需要对基带信号进行任何调制，使得测试操作更加简单，能够大大节省测试时间，从而有效提高测试效率。而且由于采用该测试装置能够避免对基带信号进行调制，使得测试过程对测试灵敏度要求较低，从而避免抗干扰的问题，因此，这种测试装置结构设置还有利于大大提高测试装置的抗干扰能力。另外，通过设置接触式双向数字通信接口，使得基带信号有专门的传输接口，不需要对射频发生器的载波进行控制，只需要普通的通用数字测试机台和射频信号发生器即可满足芯片的测试需求，有利于大幅降低芯片的测试成本。本申请还提供一种非接触卡芯片，该非接触卡芯片中设置有射频接口和接触式双向数字通信接口，射频接口用于获取电源信号和时钟信号，接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。该非接触卡芯片通过设置接触式双向数字通信接口专门用于传输基带信号，能够将基带信号与电源信号、时钟信号分开传输，从而避免信号调制，有利于提高信号传输效率，接触式双向数字通信接口的设置，使得非接触卡芯片能够兼容接触卡芯片的部分功能，有利于提高非接触卡芯片的适用范围。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为
技术介绍
中对非接触卡芯片的测试原理示意图；图2为本申请实施例所提供的非接触卡芯片测试装置的结构示意图；图3为本申请实施例中对非接触卡芯片的测试原理示意图。具体实施方式为了使本
的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。为了更好地理解本申请，下面结合附图来详细解释本申请的实施方式。参见图2，图2为本申请实施例所提供的非接触卡芯片测试装置的结构示意图。由图2可知，该非接触卡芯片测试装置主要包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口三部分。其中，接触式双向数字通信接口设置于非接触卡芯片上。通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，通用数字测试机台用于控制射频信号发生器发送一定频率的载波，通用数字测试机台控制射频信号发生器的开启和关闭。通用数字测试机台与非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，用于传输基带信号，本实施例中的基带信号为数字测试机台与非接触卡芯片之间双向传输的信号。基带信号包括：命令、第一数据和第二数据，其中，命令为通用数字测试机台向非接触卡芯片发送的测试命令，第一数据为通用数字测试机台发出的测试数据，第二数据为非接触卡芯片返回的测试数据。通用数字测试机台与射频信号发生器之间的连接方式可以采用通信连接或电连接，即：通用数字测试机台可以采用电连接的方式控制射频信号发生器的开启和关闭，也可以通过通信信号控制射频信号发生器的开启和关闭。继续参见图2可知，射频信号发生器与非接触卡芯片的射频接口通信连接，用于传输电源信号和时钟信号，电源信号和时钟信号是射频信号发生器向非接触卡芯片发送的单向传输本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。


2.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述接触式双向数字通信接口具体包括：设置于所述非接触卡芯片上的输入输出引脚。


3.根据权利要求1所述的一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述射...

【专利技术属性】
技术研发人员：王光春，曾为民，李向宏，
申请(专利权)人：山东华翼微电子技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37