一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，包括频谱分析仪、噪声源、射频同轴线、转接器、射频探针、在片插入损耗补偿系统、自动化测试系统组成,在片插入损耗补偿系统包括信号源、双定向耦合器、接收机、射频同轴线、转接器、射频探针、同轴校准件和在片校准件；本发明专利技术提供一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，实现噪声系数测试时精确补偿放大器输入端引入的损耗，提高了测试精度。

An automatic on chip test system for noise coefficient of low noise amplifier chip

The invention discloses an automatic on-chip test system for noise coefficient of low-noise amplifier chip, which comprises a spectrum analyzer, a noise source, a radio frequency coaxial line, a adapter, a radio frequency probe, an on-chip insertion loss compensation system and an automatic test system. The on-chip insertion loss compensation system comprises a signal source, a double directional coupler, a receiver, a radio frequency coaxial line, a adapter, a radio frequency probe The invention provides a low noise amplifier chip noise coefficient automatic on-chip test system, which can accurately compensate the loss introduced by the input end of the amplifier during the noise coefficient test and improve the test accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统
本专利技术涉及集成电路芯片电性能测试领域，更具体的说，它涉及一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统。
技术介绍
低噪声放大器芯片是通信及雷达系统中的关键部件。低噪声放大器芯片的噪声系数直接影响通信及雷达系统的接收机灵敏度，准确测量低噪声放大器芯片的噪声系数具有重要意义。低噪声放大器芯片噪声系数测试一般采用Y系数法和冷源法，分别对应频谱分析仪和矢量网络分析仪。然而配置有噪声系数分析的矢量网络分析仪价格及其昂贵，考虑测试成本，基于高端矢量网络分析仪的噪声系数测试系统并不适合用于大批量的低噪声放大器芯片生产测试。因此一般采用Y系数法测试低噪声放大器芯片的噪声系数，常用设备为频谱分析仪。低噪声放大器芯片在片测试噪声系数时，放大器输入端须要连接射频转接器、用于改善匹配的衰减器、射频探针和射频同轴线等器件，输入端引入的损耗对放大器芯片的噪声系数测量结果有直接影响。普通的测试系统，只能根据厂家提供的射频探针插入损耗和测试得到的射频转接器、同轴线等器件的插损，进行简单的相加，用于噪声系数测试时的输入端插入损耗本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，其特征在于，包括频谱分析仪、噪声源、射频同轴线、转接器、射频探针、在片插入损耗补偿系统、自动化测试系统组成,在片插入损耗补偿系统包括信号源、双定向耦合器、接收机、射频同轴线、转接器、射频探针、同轴校准件和在片校准件；/n频谱分析仪和在片插入损耗补偿系统与自动化测试系统电性连接，并受其控制；噪声源与频谱分析电性连接，并受其控制；噪声源、射频同轴线、转接器和射频探针信号线依次连接；/n信号源、接收机与在片插入损耗补偿系统电性连接，并受其控制；信号源、接收机、转接器与双定向耦合器电性连接；转接器与射频同轴线、同轴校准件电性连接，射频探针和在片校准件信号线...

【技术特征摘要】
1.一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，其特征在于，包括频谱分析仪、噪声源、射频同轴线、转接器、射频探针、在片插入损耗补偿系统、自动化测试系统组成,在片插入损耗补偿系统包括信号源、双定向耦合器、接收机、射频同轴线、转接器、射频探针、同轴校准件和在片校准件；
频谱分析仪和在片插入损耗补偿系统与自动化测试系统电性连接，并受其控制；噪声源与频谱分析电性连接，并受其控制；噪声源、射频同轴线、转接器和射频探针信号线依次连接；
信号源、接收机与在片插入损耗补偿系统电性连接，并受其控制；信号源、接收机、转接器与双定向耦合器电性连接；转接器与射频同轴线、同轴校准件电性连接，射频探针和在片校准件信号线电性连接。


2.根据权利要求1所述的一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，其特征在于，频谱分析仪功能为：使用Y系数法精确测试低噪声放大器芯片噪声系数，控制噪声源产生冷热两种状态下的热噪声，根据输入端插入损耗实现去嵌入，精确测试噪声系数；
噪声源功能为：用于噪声系数测试时，提供冷热两种状态下的不同噪声功率；
射频同轴线功能为：用于连接噪声源与射频探针；射频探针功能为：
用于噪声放大器芯片的在片测试，完成同轴至共面波导的转换；
连接器功能为：用于噪声源、射频同轴线和射频探针之间的连接。


3.根据权利要求1所述的一种低噪放芯片噪声系数自动化在片测试系统，其特征在于，
在片插入损耗补偿系统，包括：计算机、在片插入损耗补偿控制程序、接收机、信号源、双定向耦合器、连接器、射频同轴线、射频探针、同轴校准件和在片校准件；
在片插入...

【专利技术属性】
技术研发人员：郁发新，宣银良，丁旭，王立平，
申请(专利权)人：浙江铖昌科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33