【技术实现步骤摘要】
一种SPI量测治具及量测方法
本专利技术涉及SPI量测的
，尤其涉及一种SPI量测治具及量测方法。
技术介绍
SPI是SerialPeripheralInterface的缩写,中文意思是串行外围接口,由于具备有低接脚数，结构简单，传输速度快，简单易用等特性，目前已经成为业界惯用标准。量测SPI时，有许多8PIN脚的Chip，为了确保信号完整性，所以在做产品开发时需要针对每一个这类的Chip做信号测试，由于一套系统动则数十颗Chip，所以需耗费许多的时间、设备及人力等资源，现阶段都是使用烙铁重复的焊接，然后架上探棒去进行量测，所以在进行SPI量测时，要不断重复使用烙铁探棒的地线以及架设探棒去量测这些Chip，这种量测方法比较费时费力。
技术实现思路
本专利技术针对上述技术问题，提供了一种既能节省量测步骤，又能降低量测低速讯号时易造成风险和错误的SPI量测治具及量测方法。本专利技术是通过如下技术方案实现的：一种SPI量测治具，包括底座以及碳棒座，所述底座底部放置在SPIchip上，所述底...
【技术保护点】
1.一种SPI量测治具，其特征在于，包括底座以及碳棒座，所述底座底部放置在SPIchip上，所述底座顶部设置有所述碳棒座，所述底座端面上设置有电路，所述底座通过所述电路实现与所述碳棒座的连接，通过碳棒座实现对SPI chip的信号测试。/n
【技术特征摘要】
1.一种SPI量测治具，其特征在于，包括底座以及碳棒座，所述底座底部放置在SPIchip上，所述底座顶部设置有所述碳棒座，所述底座端面上设置有电路，所述底座通过所述电路实现与所述碳棒座的连接，通过碳棒座实现对SPIchip的信号测试。
2.根据权利要求1所述的SPI量测治具，其特征在于，所述碳棒座上设置有探针，所述探针贯穿所述碳棒座，一端设置在所述碳棒座上部，另一端设置在所述碳棒座底部。
3.根据权利要求2所述的SPI量测治具，其特征在于，所述探针在所述碳棒座上为两行三列式排布，每列的所述探针为一组，所述探针为三组。
4.根据权利要求3所述的SPI量测治具，其特征在于，所述底座为感光电路板。
5.根据权利要求4所述的SPI量测治具，其特征在于，所述电路包括接口、导线以及探针孔，所述接口内设置有所述SPIchip上的pin脚，所述探针孔也为两行三列式排布，所述探针孔内均设置有所述探针。
6.根据权利要求5所述的SPI量测治具，其特征在于，所述pin脚包括讯号脚以及接地脚。
7.根据权利要求6所述的SPI量测治具，其特征在于，所述接口包括一号接口、四号接口、五号接口以及六号接口，所述一号接口对应所述SPIchip上的CS讯号脚，所述四号接口对应所述SPIchip上的GND接地脚,所述五号接口对应所述SPIchip上DATA讯号脚，...
【专利技术属性】
技术研发人员：简晓帆，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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