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本发明提供了一种SPI量测治具及量测方法，属于SPI量测的技术领域。其技术方案为：一种SPI量测治具，包括底座以及碳棒座，所述底座底部放置在SPI chip上，所述底座顶部设置有所述碳棒座，所述底座端面上设置有电路，所述底座通过所述电路实现...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。

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