The invention provides a method for measuring the radiation sensitive parameters of the operational amplifier, solves the problems brought by the coupling of the radiation sensitive parameters of the operational amplifier to the traditional measurement technology, and improves the accurate measurement of the parameters of the operational amplifier in the ionizing radiation environment. A method for measuring the radiation sensitive parameters of an operational amplifier includes the following steps: Step 1: install the operational amplifier under test; connect the VCC at the power end and the vee at the ground end of the operational amplifier under test to a constant voltage source, the VIN + at the positive phase input end to a scanning voltage source, the VIN \u2011 at the negative phase input end to a constant voltage source, and the Vout at the output end to a voltage monitoring end; step 2: set up the measurement Parameters: set the output value of the constant voltage source connected with the negative phase input end VIN \u2011 to 0V or the specified value; set the scanning voltage range of the scanning voltage source according to the device manual of the operational amplifier under test and the offset voltage drift after irradiation; step 3: test the operational amplifier under test; step 4: extract the sensitive parameters.
【技术实现步骤摘要】
一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法
本专利技术涉及电子元器件辐射效应测试领域，具体涉及一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法。
技术介绍
运算放大器是航天空间电子器件中不可或缺的一部分，而空间电子器件的电性能测试是必不可少的环节，通常空间电子器件在空间的抗辐射能力通过地面模拟试验来考核验证。目前，运算放大器常采用辅助运放法进行电特性测试，此种测量方法在常规测试中有较好的测试精度和速度，然而运算放大器在电离辐射环境中会受到辐射作用，辐照后运算放大器各性能参数发生不同程度的退化，此时退化参数之间的耦合以及辐照后较宽范围的测试需求，对现有运算放大器参数测试测量方法的适用性提出了新的挑战。传统的运算放大器电特性测量采用辅助运放将被测器件的电特性参数进行放大，随后通过测量辅助运算放大器的输出，再结合计算获得被测样品的性能参数值。在常规性能测量及工程筛选过程中，该方法并无不妥，不仅可以快速鉴别器件的好坏，且较高的测试速度和精度。然而，在运算放大器辐射效应及损伤机制研究过程中，该方法却表现出一定的弊端，主要问题有以下几点：1)辅助...
【技术保护点】
1.一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一、安装被测运算放大器/n将被测运算放大器的电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源，正相输入端Vin+连接扫描电压源，负相输入端Vin-连接恒定电压源，输出端Vout连接电压监测端；/n步骤二、设置测量参数/n设定与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出值为0V或规定值；/n依据被测运算放大器的器件手册和辐照后失调电压的漂移量，设置扫描电压源的扫描电压范围；/n步骤三、测试被测运算放大器/n3.1)与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出0V或规定值，扫描电压源依照步骤二确定的扫描电压范围输出扫描...
【技术特征摘要】
1.一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一、安装被测运算放大器
将被测运算放大器的电源端VCC和接地端VEE连接恒定电压源，正相输入端Vin+连接扫描电压源，负相输入端Vin-连接恒定电压源，输出端Vout连接电压监测端；
步骤二、设置测量参数
设定与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出值为0V或规定值；
依据被测运算放大器的器件手册和辐照后失调电压的漂移量，设置扫描电压源的扫描电压范围；
步骤三、测试被测运算放大器
3.1)与负相输入端Vin-连接的恒定电压源输出0V或规定值，扫描电压源依照步骤二确定的扫描电压范围输出扫描电压；
3.2)实时监测正相输入端Vin+的电流值、负相输入端Vin-电流值，电源端VCC和接地端VEE的电流值、输出端Vout的电压值；
3.3)根据步骤3.2)得到的监测值，获得输出端Vout电压值随扫描电压的变化曲线、正相输入端Vin+电流值随扫描电压的变化曲线、负相输入端Vin-电流值随扫描电压的变化曲线；
步骤四、提取敏感参数
敏感参数包括偏置电流Iib、失调电流Iio、电源电流ICC、失调电压Vio、输入高电平VOH、输出低电平VOL；
偏置电流
失调电流Iio＝|Iib_+Iib+|；
电源电流ICC为电源端VCC和接地端VEE的电流值；
失调电压V...
【专利技术属性】
技术研发人员：马武英，姚志斌，董观涛，何宝平，王祖军，盛江坤，薛院院，
申请(专利权)人：西北核技术研究院，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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