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本发明提供一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，解决运算放大器辐射敏感参数耦合对传统测量技术带来的问题，提高了运算放大器在电离辐射环境中参数的准确测量。一种运算放大器辐射敏感参数的测量方法，包括以下步骤：步骤一、安装被测运算放大器；将被测运...
该专利属于西北核技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究院授权不得商用。

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