一种按键测试方法及按键测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术属于按键测试技术领域，主要提供了一种按键测试方法及按键测试装置中，通过获取按键配置信息，并根据所述按键配置信息将电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源，并对电路板进行信号采样得到对应的多个采样电压信号，最后根据多个采样信号与所述按键配置信息生成对应的测试结果，从而达到对电路板上的按键进行自动测试的目的，测试速度快，效率高，并且方便电路板的管理和维修，解决了目前很多测试场景通常采用人工插板进行逐个按压进行测试，需要投入大量人力进行频繁的重复性的一系列按键点击动作，具有测试效率低，容易出现漏测或者测错的问题。

A key test method and device

The invention belongs to the technical field of key test, mainly providing a key test method and a key test device, through obtaining key configuration information, and according to the key configuration information, a plurality of corresponding buttons to be tested on the circuit board are connected to the reference voltage signal source in sequence, and the signal of the circuit board is sampled to obtain a plurality of corresponding sampling voltage signals, finally according to a plurality of sampling voltage signals The sampling signal and the key configuration information generate the corresponding test results, so as to achieve the purpose of automatic test of the key on the circuit board, which is fast and efficient, and convenient for the management and maintenance of the circuit board. It solves the problem that many test scenarios usually use the human plugboard to press one by one for testing, which requires a lot of manpower to carry out frequent repetitive test A series of button click actions, with low test efficiency, easy to miss or wrong test problems.

【技术实现步骤摘要】
一种按键测试方法及按键测试装置
本专利技术属于按键测试
，尤其涉及一种按键测试方法及按键测试装置。
技术介绍
对电视等电子产品而言，按键一直是控制电视工作的主要途径，在电视产品测试过程中，对电视遥控器按键或电视机上的主板按键的一系列操作是必不可少的。然而目前很多测试场景通常采用人工插板进行逐个按压进行测试，需要投入大量人力进行频繁的重复性的一系列按键点击动作，不仅测试效率低，而且容易出现漏测或者测错的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种按键测试方法及按键测试装置，旨在解决目前很多测试场景通常采用人工插板进行逐个按压进行测试，需要投入大量人力进行频繁的重复性的一系列按键点击动作，存在测试效率低，容易出现漏测或者测错的问题。本申请提供了一种按键测试方法，应用于设有多个按键的电路板，所述按键测试方法包括：获取按键配置信息，并根据所述按键配置信息将所述电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源；对所述电路板进行信号采样得到多个采样电压信号；根据多个所述采样电压信号与本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种按键测试方法，应用于设有多个按键的电路板，其特征在于，所述按键测试方法包括：/n获取按键配置信息，并根据所述按键配置信息将所述电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源；/n对所述电路板进行信号采样得到多个采样电压信号；/n根据多个所述采样电压信号与所述按键配置信息生成对应的测试结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种按键测试方法，应用于设有多个按键的电路板，其特征在于，所述按键测试方法包括：
获取按键配置信息，并根据所述按键配置信息将所述电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源；
对所述电路板进行信号采样得到多个采样电压信号；
根据多个所述采样电压信号与所述按键配置信息生成对应的测试结果。


2.如权利要求1所述的按键测试方法，其特征在于，所述根据所述按键配置信息将所述电路板上对应的多个待测试按键依序接入参考电压信号源，包括：
根据所述按键配置信息确定待测试按键信息；
根据所述待测试按键信息将多个所述待测试按键依序接入参考电压信号源；
其中，所述待测试按键信息包括待测试按键的编码、待测试按键的个数以及待测试按键的测试顺序中的一项或者多项。


3.如权利要求2所述的按键测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试按键信息将多个所述待测试按键依序接入参考电压信号源，包括：
根据所述待测试按键信息依序将多个所述待测试按键对地短接。


4.如权利要求1所述的按键测试方法，其特征在于，所述根据多个所述采样电压信号与所述按键配置信息生成对应的测试结果，包括：
将多个所述采样电压信号分别转换为对应的字符串测试信息；
将多个所述字符串测试信息与所述按键配置信息进行比对，生成对应的测试结果。


5.如权利要求4所述的按键测试方法，其特征在于，所述将多个所述字符串测试信息与所述按键配置信息进行比对，生成对应的测试结果，包括：
根据所述字符串测试信息从所述按键配置信息中查找对应的字符串信息；
若查找到对应的所述字符串信息，则判定对应的待测试按键正常；
若无法查到到对应的字符串信息，则判定对应的待测试按键异常。

【专利技术属性】
技术研发人员：覃泰瑾，吴子明，李勇，丁敏杰，
申请(专利权)人：深圳市金锐显数码科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44