共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜技术方案

本发明专利技术提供共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜。安装在显微镜的共聚焦扫描仪包括：线状光源，射出线状光；线状检测器，具有将入射的光按照每行进行检测的线状的检测部；以及移动机构，使线状光源与线状检测器相对于显微镜并进移动，所述线状光源与所述线状检测器分别配置在相对于所述显微镜的焦平面位于共轭的位置的成像面内的相互对应的位置关系上。

Confocal scanner, microscope system and confocal microscope

The invention provides a confocal scanner, a microscope system and a confocal microscope. The confocal scanner installed in the microscope includes: linear light source, outgoing light; linear detector, which has a linear detection unit to detect the incident light according to each line; and a moving mechanism to move the linear light source and the linear detector in parallel with the microscope. The linear light source and the linear detector are respectively arranged on the focal plane relative to the microscope The corresponding position relationship in the imaging plane of the conjugate position.

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜
本专利技术涉及共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜。
技术介绍
已知有线式扫描型的共聚焦显微镜。例如，在专利文献1中公开了一种扫描例子，将线状的照明光投影到观察对象上，通过线状的检测器检测来自观察对象的返回光，通过扫描镜将线状的照明光对观察对象进行扫描。此外，在专利文献2中公开了另外的线式扫描型的共聚焦显微镜的例子。这个例子虽然与专利文献1公开的例子相同，将线状的照明光投影到观察对象上，并通过线状的检测器检测来自观察对象的返回光，但是其是相对于观察对象使光学系统整体向1个方向并进移动并进行扫描的例子。此外，在专利文献3以及专利文献4中公开了在物镜与光分束装置以及成像透镜之间设置狭缝阵列，通过使该狭缝阵列往复运动而进行扫描的例子。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利第4905356号公报专利文献2：日本专利第2660613号公报专利文献3：日本特开2001-13445号公报专利文献4：日本特开2003-247817号公报但是，虽然在专利文献1中使用的扫描镜能够进行高速扫描，可是一般来说高额的较多，所以存在的缺点是导致系统高额。此外，在配置扫描镜的情况下，一般优选配置在物镜的瞳位置，但是物镜的瞳位置位于物镜的内部或安装位置附近，所以不适合配置扫描镜。因此，一般来说扫描镜需要通过中继透镜来转送物镜的瞳位置，所以存在的缺点是光学系统整体变大。此外，按照在专利文献2中公开的技术，作为扫描方式需要将光学系统整体并进移动，所以难以安装到已有的手动的显微镜等上，因此缺点是需要特殊的显微镜。此外，在专利文献3以及专利文献4中公开的技术中，在由显微镜扩大的成像面上配置狭缝，将通过该狭缝的光投影到显微镜的焦平面上，利用中继透镜系统由拍摄元件对返回的光中通过狭缝的光进行拍摄。在该显微镜中需要转送显微镜的成像面的像的中继透镜系统，所以缺点是光学系统变大。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术的一个实施方式提供通过简便的结构可以得到共聚焦显微镜图像的共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜。为了解决上述问题，本专利技术提供一种共聚焦扫描仪，是安装在显微镜上的共聚焦扫描仪，包括：线状光源，射出线状光；线状检测器，具有将入射的光按照每行进行检测的线状的检测部；以及移动机构，使所述线状光源与所述线状检测器相对于所述显微镜并进移动，所述线状光源与所述线状检测器分别配置在相对于所述显微镜的焦平面位于共轭的位置的成像面内的相互对应的位置关系上。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述线状光源与所述线状检测器被配置在所述显微镜具备的成像透镜与所述成像透镜的像面之间的分束光学系统分束，分别直接配置在所述成像透镜的成像面上。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述移动机构使所述线状光源与所述线状检测器在维持相互对应的所述位置关系的状态下在所述显微镜的成像面上并进移动。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述线状光源与所述线状检测器配置的位置关系为：使根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面或者相互平行的平面，所述移动机构使所述线状光源以及所述线状检测器向相对于所述同一平面或者所述相互平行的平面垂直的方向并进移动。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述线状光源与所述线状检测器配置的位置关系为：使根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面，并且所述线状光源的光轴与所述线状检测器的光轴通过分束光学系统相交。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述移动机构使所述线状光源与所述线状检测器一体并进移动。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，上述共聚焦扫描仪包括多个数量分别相同的所述线状光源与所述线状检测器，分别成对的所述线状光源与所述线状检测器配置在对应的位置关系上。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述成对的所述线状光源与所述线状检测器分别配置的位置关系为：使各自的根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和各自的根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面或者相互平行的平面，所述移动机构使所述成对的所述线状光源与所述线状检测器分别向相对于所述同一平面或者所述相互平行的平面垂直的方向并进移动。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述线状光源与所述线状检测器中的任意一方具有多个，所述线状光源与所述线状检测器配置成通过相对移动能够选择性地使所述线状光源与所述线状检测器对应。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，包括多个所述线状光源与1个所述线状检测器，所述线状光源与所述线状检测器配置成通过相对移动能够选择性地使多个所述线状光源中的1个所述线状光源与1个所述线状检测器对应。此外，本专利技术还提供一种共聚焦扫描仪，在上述共聚焦扫描仪中，所述线状光源包括多个光源与狭缝，所述多个光源与所述狭缝配置成，通过使所述多个光源相对于所述狭缝相对移动，从所述多个光源中选择性地将1个光源的波长作为所述线状光源射出的光的波长。此外，本专利技术还提供一种共聚焦显微镜，包括：载物台，设置观察对象；物镜；成像透镜，使通过所述物镜入射的所述观察对象的像成像；线状光源，射出通过所述成像透镜与所述物镜对所述观察对象进行照明的线状光；线状检测器，具有将由所述观察对象发出并通过所述物镜与所述成像透镜入射的光按照每行进行检测的线状的检测部；以及移动机构，使所述线状光源与所述线状检测器相对于所述成像透镜并进移动，所述线状光源与所述线状检测器分别配置在相对于自显微镜的焦平面位于共轭的位置的成像面内的相互对应的位置关系。另外，由于光路可逆，物体(观察对象)与像的关系可以调换。即，可以在像的位置放置物体，通过相同的光学系统在原来物体的位置上成像。像这样，由于无论在哪里放置物体都没关系，因此将二点是成像关系称作共轭(conjugate)。按照本专利技术，通过简单的结构可以得到共聚焦显微镜图像。附图说明图1是表示第1实施方式的显微镜系统的构成的一个例子的图。图2是表示第1实施方式的共聚焦扫描仪的详细图。图3A是表示第1实施方式的驱动机构的详细例的图。图3B是表示第1实施方式的驱动机构的详细例的图。图4A是表示第1实施方式的线状光源的详细例的侧面图。图4B是表示第1实施方式的线状光源的详细例的侧面图。图5A是表示第1实施方式的线状检测器的详细例的图。图5B是表本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种共聚焦扫描仪，是安装在显微镜上的共聚焦扫描仪，其特征在于，包括：/n线状光源，射出线状光；/n线状检测器，具有将入射的光按照每行进行检测的线状的检测部；以及/n移动机构，使所述线状光源与所述线状检测器相对于所述显微镜并进移动，/n所述线状光源与所述线状检测器分别配置在相对于所述显微镜的焦平面位于共轭的位置的成像面内的相互对应的位置关系上。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170413 JP 2017-079986;20171226 JP 2017-2496171.一种共聚焦扫描仪，是安装在显微镜上的共聚焦扫描仪，其特征在于，包括：
线状光源，射出线状光；
线状检测器，具有将入射的光按照每行进行检测的线状的检测部；以及
移动机构，使所述线状光源与所述线状检测器相对于所述显微镜并进移动，
所述线状光源与所述线状检测器分别配置在相对于所述显微镜的焦平面位于共轭的位置的成像面内的相互对应的位置关系上。


2.根据权利要求1所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，所述线状光源与所述线状检测器被配置在所述显微镜具备的成像透镜与所述成像透镜的像面之间的分束光学系统分束，分别直接配置在所述成像透镜的成像面上。


3.根据权利要求2所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，所述移动机构使所述线状光源与所述线状检测器在维持相互对应的所述位置关系的状态下在所述显微镜的成像面上并进移动。


4.根据权利要求1～3中任意一项所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，
所述线状光源与所述线状检测器配置的位置关系为：使根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面或者相互平行的平面，
所述移动机构使所述线状光源以及所述线状检测器向相对于所述同一平面或者所述相互平行的平面垂直的方向并进移动。


5.根据权利要求4所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，所述线状光源与所述线状检测器配置的位置关系为：使根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面，并且所述线状光源的光轴与所述线状检测器的光轴通过分束光学系统相交。


6.根据权利要求1～5中任意一项所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，所述移动机构使所述线状光源与所述线状检测器一体并进移动。


7.根据权利要求1～6中任意一项所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，
包括多个数量分别相同的所述线状光源与所述线状检测器，
分别成对的所述线状光源与所述线状检测器配置在对应的位置关系上。


8.根据权利要求7所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，
所述成对的所述线状光源与所述线状检测器分别配置的位置关系为：使各自的根据所述线状光源的长边方向与从所述线状光源射出的光的光轴方向确定的平面和各自的根据所述线状检测器的长边方向与向所述线状检测器入射的光的光轴方向确定的平面成为同一平面或者相互平行的平面，
所述移动机构使所述成对的所述线状光源与所述线状检测器分别向相对于所述同一平面或者所述相互平行的平面垂直的方向并进移动。


9.根据权利要求1～6中任意一项所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，
所述线状光源与所述线状检测器中的任意一方具有多个，
所述线状光源与所述线状检测器配置成通过相对移动能够选择性地使所述线状光源与所述线状检测器对应。


10.根据权利要求9所述的共聚焦扫描仪，其特征在于，
包括多个所述线状光源与1个所述线状检测器，
所述线状光源与所述线状检测器配置成通过相对移动能够选择性地使多个所述线状光源中的1个所述线状光源与1...

【专利技术属性】
技术研发人员：山宫広之，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP