一种伺服可调式摆锤冲击测试机制造技术

本发明专利技术属于电子测试装置技术领域，尤其为一种伺服可调式摆锤冲击测试机，包括：机架组件；所述机架组件包括底板，所述底板的顶部固定安装有机框；送料机构，所述送料机构固定在底板上，其用于带动芯片在机框内进行移动；夹具组件，所述夹具组件固定在送料机构上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构，所述摆钟机构固定在底板上。本发明专利技术采用夹具组件将需要测试的芯片进行固定后，利用送料机构带动夹具组件在机框内进行移动，方便操作人员进行上下料操作，利用摆钟机构对夹具组件上的芯片进行冲击测试，通过拍摄机构对冲击测试过程中进行拍摄记录，因此采用本发明专利技术对芯片进行力度冲击测试，具有测试效率高和测试结果准确的优点。

A servo adjustable pendulum impact tester

The invention belongs to the technical field of electronic testing device, in particular to a servo adjustable pendulum impact testing machine, which includes: a frame assembly; the frame assembly includes a base plate, the top of which is fixed with an organic frame; a feeding mechanism, the feeding mechanism fixed on the base plate, which is used to drive the chip to move in the frame; a clamp assembly, the clamp assembly fixed on the base plate The feeding mechanism is used for fixing the chip to be tested; the pendulum mechanism is fixed on the bottom plate. After the chip to be tested is fixed by the fixture assembly, the feeding mechanism is used to drive the fixture assembly to move in the machine frame, which is convenient for the operator to carry out loading and unloading operation, the pendulum mechanism is used to carry out impact test on the chip on the fixture assembly, and the impact test process is photographed and recorded by the photographing mechanism, so the chip is forcefully punched by the invention Hit test has the advantages of high test efficiency and accurate test results.

【技术实现步骤摘要】
一种伺服可调式摆锤冲击测试机
本专利技术涉及电子测试装置
，具体为一种伺服可调式摆锤冲击测试机。
技术介绍
芯片生产完成后，为了保证芯片和与其它电子部件组装成电子产品后，电子产品产品受到冲击后不易损坏，需要对成品芯片的冲击性能进行测试，目前主要的冲击测试为冷热冲击测试和力度冲击测试，其中冷热冲击测试以及具有为完善的测试设备，力度冲击测试主要测试CG与粘接在CG上传感器之间的粘接强度，但目前力度冲击测试的设备简陋，一方面测试效率低下，无法满足实际测试的需求，一方面测试的效果不理想，造成测试的结果不准确，因为本专利技术提出采用一定的机械构造和科学技术，设计出一种测试效率高、测试结果后准确的芯片力度冲击测试装置。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种伺服可调式摆锤冲击测试机，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。（二）技术方案为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种伺服可调式摆锤冲击测试机，包括：机架组件；所述机架组件包括底板，所述底板的顶部固定安装有机框；送料机构，所述送料机构固定在底板上，其用于带动芯片在机框内进行移动；夹具组件，所述夹具组件固定在送料机构上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构，所述摆钟机构固定在底板上，其用于对夹具组件上的芯片进行冲击测试；拍摄机构，所述拍摄机构固定在底板，其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述送料机构包括两个直线滑轨，两个所述直线滑轨均固定在底板的顶部，两个所述直线滑轨上均滑动连接有直线滑块，两个所述直线滑块的顶部固定安装有安装板，所述送料机构还包括用于带动安装板进行往复移动的驱动组件。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述驱动组件包括U型架，所述U型架固定在底板的顶部，所述U型架的内部固定安装有无杆气缸，所述无杆气缸上滑动连接有驱动块，所述驱动块的顶部与安装板的底部固定连接。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述送料机构还包括限位块和两个限位座，所述限位块固定在安装板的底部，两个所述限位座均固定在底板的顶部，两个所述限位座上均固定安装有缓冲器。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述夹具组件包括夹具座，所述夹具座固定在安装板的顶部，所述夹具座的顶部固定安装有挡板，所述夹具座的顶部固定安装有卡座，所述夹具座的内部固定安装有夹具气缸，所述夹具气缸的活塞杆固定安装有压块，所述夹具座上可拆卸连接有调试组件。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述调试组件包括传感器底座，所述传感器底座螺栓连接在夹具座的顶部，所述传感器底座上固定安装有拉压力传感器，所述拉压力传感器上固定安装有撞击块。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述摆钟机构包括两个摆钟底座，两个所述摆钟底座均固定在底板的顶部，两个所述摆钟底座的顶部固定安装有摆臂底座，所述摆臂底座的顶部固定安装有两个支架，两个所述支架相对的一侧之间固定安装有支板，所述支板的背面固定安装有U型座，所述U型座的背面固定安装有编码器，所述支板正面通过轴承座转动连接有转动轴，所述编码器的输出轴与转动轴的一端固定连接，所述转动轴的另一端固定安装有上摆臂，所述上摆臂远离转动轴的一端设置有螺纹销，所述上摆臂通过螺纹销固定连接有下摆臂，所述下摆臂的远离上摆臂的一端固定安装有摆锤，所述支板的背面固定安装有摆动电机，所述摆动电机的输出轴贯穿支板并固定安装有电机摆臂，所述电机摆臂上固定安装有伸缩气缸，所述伸缩气缸的输出轴固定安装有接触块。作为本专利技术的一种优选技术方案，两个所述摆钟底座的正面均固定安装有减震垫片。作为本专利技术的一种优选技术方案，所述拍摄机构包括相机座，所述相机座固定在底板的顶部，所述相机座上固定安装有相机架，所述相机架的顶部固定安装有basler工业相机。（三）有益效果与现有技术相比，本专利技术提供了一种伺服可调式摆锤冲击测试机，具备以下有益效果：该伺服可调式摆锤冲击测试机，本专利技术采用夹具组件将需要测试的芯片进行固定后，利用送料机构带动夹具组件在机框内进行移动，方便操作人员进行上下料操作，利用摆钟机构对夹具组件上的芯片进行冲击测试，通过拍摄机构对冲击测试过程中进行拍摄记录，因此采用本专利技术对芯片进行力度冲击测试，具有测试效率高和测试结果准确的优点。附图说明图1为本专利技术整体结构立体正视图；图2为本专利技术整体结构立体后视图；图3为本专利技术部分结构立体正视图；图4为本专利技术部分结构立体后视图；图5为本专利技术送料机构立体正视图；图6为本专利技术送料机构立体仰视图；图7为本专利技术夹具组件立体后视图；图8为本专利技术夹具组件立体正视图；图9为本专利技术摆钟机构立体正视图。图中：1、机架组件；101、底板；102、机框；2、送料机构；201、直线滑轨；202、直线滑块；203、安装板；204、U型架；205、无杆气缸；206、驱动块；207、限位块；208、限位座；209、缓冲器；3、夹具组件；301、夹具座；302、挡板；303、卡座；304、夹具气缸；305、调试组件；305a、传感器底座；305b、拉压力传感器；305c、撞击块；4、摆钟机构；401、摆钟底座；402、摆臂底座；403、支架；404、支板；405、U型座；406、编码器；407、转动轴；408、上摆臂；409、螺纹销；410、下摆臂；411、摆锤；412、摆动电机；413、电机摆臂；414、伸缩气缸；415、接触块；416、减震垫片；5、拍摄机构；501、相机座；502、相机架；503、basler工业相机。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例请参阅图1-9，本专利技术提供以下技术方案：一种伺服可调式摆锤冲击测试机，包括：机架组件1；机架组件1包括底板101，底板101的顶部固定安装有机框102；送料机构2，送料机构2固定在底板101上，其用于带动芯片在机框102内进行移动；夹具组件3，夹具组件3固定在送料机构2上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构4，摆钟机构4固定在底板101上，其用于对夹具组件3上的芯片进行冲击测试；拍摄机构5，拍摄机构5固定在底板101，其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。本实施方案中，本专利技术采用夹具组件3将需要测试的芯片进行固定后，利用送料机构2带动夹具组件3在机框102内进行移动，方便操作人员进行上下料操作，利用摆钟机构4对夹具组件3上的芯片进行冲击测试，在对芯片冲击，同时拍摄机构5对冲击测试过程进行拍摄记录，因此采用本专利技术对芯片进行力度冲击测试，具有测试效率高和测试结果准确的优点。具体的，送料机构2包括两个直线滑轨201，两个直线滑轨201均固定在底板101的顶部，两个直线滑轨201上均滑动连接有直线滑块202，两个直线滑块202的顶部固定安装有安装板203，送料机构2还包括用于带动安装板203进行往复移动的驱动组件。本实施例中，夹具组件3固定在安装板203上，通过驱动组件带动安装板203进行移动，安装板203通过两个直线滑块202在两个直线滑轨201上滑行，需要进行上料时，驱动组件带动安装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：包括：机架组件（1）；所述机架组件（1）包括底板（101），所述底板（101）的顶部固定安装有机框（102）；送料机构（2），所述送料机构（2）固定在底板（101）上，其用于带动芯片在机框（102）内进行移动；夹具组件（3），所述夹具组件（3）固定在送料机构（2）上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构（4），所述摆钟机构（4）固定在底板（101）上，其用于对夹具组件（3）上的芯片进行冲击测试；拍摄机构（5），所述拍摄机构（5）固定在底板（101），其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。

【技术特征摘要】
1.一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：包括：机架组件（1）；所述机架组件（1）包括底板（101），所述底板（101）的顶部固定安装有机框（102）；送料机构（2），所述送料机构（2）固定在底板（101）上，其用于带动芯片在机框（102）内进行移动；夹具组件（3），所述夹具组件（3）固定在送料机构（2）上，其用于将需要测试的芯片进行固定；摆钟机构（4），所述摆钟机构（4）固定在底板（101）上，其用于对夹具组件（3）上的芯片进行冲击测试；拍摄机构（5），所述拍摄机构（5）固定在底板（101），其用于对冲击测试中的芯片进行拍摄记录。2.根据权利要求1所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述送料机构（2）包括两个直线滑轨（201），两个所述直线滑轨（201）均固定在底板（101）的顶部，两个所述直线滑轨（201）上均滑动连接有直线滑块（202），两个所述直线滑块（202）的顶部固定安装有安装板（203），所述送料机构（2）还包括用于带动安装板（203）进行往复移动的驱动组件。3.根据权利要求2所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述驱动组件包括U型架（204），所述U型架（204）固定在底板（101）的顶部，所述U型架（204）的内部固定安装有无杆气缸（205），所述无杆气缸（205）上滑动连接有驱动块（206），所述驱动块（206）的顶部与安装板（203）的底部固定连接。4.根据权利要求3所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述送料机构（2）还包括限位块（207）和两个限位座（208），所述限位块（207）固定在安装板（203）的底部，两个所述限位座（208）均固定在底板（101）的顶部，两个所述限位座（208）上均固定安装有缓冲器（209）。5.根据权利要求4所述的一种伺服可调式摆锤冲击测试机，其特征在于：所述夹具组件（3）包括夹具座（301），所述夹具座（301）固定在安装板（203）的顶部，所述夹具座（301）的顶部固定安装有挡板（302），所述夹具座（301）的顶部固定安装有卡座（303），所述夹具座（301）的内部固定安装有夹具气缸（304），所述夹具气缸（304）的活塞杆固定安...

【专利技术属性】
技术研发人员：李新宏，唐伟，吴泽光，赵保恩，
申请(专利权)人：武汉阿李智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42