阵列基板测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种阵列基板测试装置，该阵列基板测试装置包括承载平台、支撑构件、第一检测构件和第二检测构件，所述承载平台上用于承载阵列基板，所述第一检测构件用于检测阵列基板显示区的第一部分，所述第二检测构件用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区；通过设置第二检测构件，使第二检测构件检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区，从而使得第一检测构件与第二检测构件共同作用，能够完整检测阵列基板，解决了现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。

Array substrate test device

The invention provides an array substrate test device, which includes a bearing platform, a support member, a first detection member and a second detection member. The bearing platform is used to carry the array substrate, the first detection member is used to detect the first part of the array substrate display area, and the second detection member is used to detect the second part of the array substrate display area And non display area; by setting a second detection component, the second detection component detects the second part and non display area of the display area of the array base plate, so that the first detection component and the second detection component can work together to detect the array base plate completely, which solves the problem that the existing short-circuit test equipment cannot carry out edge circuit and grid drive circuit of the display area in the array base plate Technical problems of detection.

【技术实现步骤摘要】
阵列基板测试装置
本专利技术涉及显示
，尤其是涉及一种阵列基板测试装置。
技术介绍
在阵列基板的制备过程中，需要使用短路开路测试设备对阵列基板进行测试，避免电路存在缺陷的阵列基板流入下一制程，但现有短路开路测试设备无法对GOA(GateOnArray，栅极驱动电路)及阵列基板显示区边缘的电路进行检测，使得出现存在缺陷的机台流入下一制程，影响阵列基板的良率。所以，现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种阵列基板测试装置，用于解决现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术提供一种阵列基板测试装置，该阵列基板测试装置包括：承载平台，所述承载平台用于承载阵列基板；支撑构件；第一检测构件，用于检测阵列基板显示区的第一部分；第二检测构件，用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，所述第二检测构件包括光学检测模组，所述光学检测模组与所述支撑构件连接。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，所述光学检测模组包括检测组件和标记组件，所述检测组件用于检测所述阵列基板显示区的第二部分和非显示区，所述标记组件用于在检测组件检测到阵列基板的缺陷后，对阵列基板的缺陷区域进行标记。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，所述检测组件包括图像获取单元和信息处理单元，所述图像获取单元用于获取阵列基板显示区的第二部分和非显示区的图像，并将所述图像传递给信息处理单元，所述信息处理单元用于接收所述图像获取单元传递的图像，并对所述图像进行处理。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，该阵列基板测试装置还包括驱动构件，所述驱动构件用于驱动第一检测构件和第二检测构件工作。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，所述驱动构件包括第一驱动构件和第二驱动构件，所述第一驱动构件用于驱动第一检测构件工作，所述第二驱动构件用于驱动第二检测构件工作。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，该阵列基板检测装置还包括修复构件，所述修复构件用于在第一检测构件和第二检测构件中至少一个检测到阵列基板出现缺陷后，修复阵列基板。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，该阵列基板检测装置还包括后处理构件，所述后处理构件用于在所述修复构件无法修复所述阵列基板后，处理阵列基板。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，该阵列基板测试装置还包括控制构件，所述控制构件用于接收第一检测构件和第二检测构件的信息，并根据接收到的信息控制修复构件和后处理构件工作。在本专利技术提供的阵列基板测试装置中，所述控制构件包括第一控制构件和第二控制构件，所述第一控制构件与所述修复构件连接，所述第一控制构件用于在需要修复阵列基板时，控制所述修复构件工作；所述第二控制构件与所述后处理构件连接，所述第二控制构件用于在需要处理阵列基板时，控制所述后处理构件工作。有益效果：本专利技术提供一种阵列基板测试装置，该阵列基板测试装置包括承载平台、支撑构件、第一检测构件和第二检测构件，所述承载平台上用于承载阵列基板，所述第一检测构件用于检测阵列基板显示区的第一部分，所述第二检测构件用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区；通过设置第二检测构件，使第二检测构件检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区，从而使得第一检测构件与第二检测构件共同作用，能够完整检测阵列基板，解决了现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。附图说明为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的阵列基板测试装置的第一示意图；图2为本专利技术实施例提供的阵列基板测试装置的第二示意图；图3为本专利技术实施例提供的阵列基板测试装置的第三示意图；图4为本专利技术实施例提供的第一检测构件的示意图；图5为本专利技术实施例提供的第二检测构件的示意图。具体实施方式以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。本专利技术所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本专利技术，而非用以限制本专利技术。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。本专利技术针对现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题，本专利技术实施例用以解决该问题。现有的短路开路测试设备通过发射传感器发射信号，然后使用阵列基板上的信号线传递信号，接收传感器接收阵列基板上的信号线传递的信号，从而对阵列基板进行检测，当接收传感器接收到的信号异常，则表示该信号线异常，该短路开路测试设备只能针对一列一列排列的信号线进行测试，而在显示区的边缘的电路和GOA电路中，其信号线的排列方式不是一列一列排列，造成短路开路测试设备无法对阵列基板显示区边缘电路和GOA电路进行测试，造成存在缺陷的阵列基板流入下一制程，即现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。如图1所示，本专利技术实施例提供一种阵列基板测试装置，该阵列基板测试装置包括：承载平台11，所述承载平台11用于承载阵列基板12；支撑构件15；第一检测构件13，用于检测阵列基板12显示区的第一部分121；第二检测构件14，用于检测阵列基板12显示区的第二部分122和非显示区123。本专利技术实施例提供一种阵列基板测试装置，该阵列基板测试装置包括承载平台、支撑构件、第一检测构件和第二检测构件，所述承载平台上用于承载阵列基板，所述第一检测构件用于检测阵列基板显示区的第一部分，所述第二检测构件用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区；通过设置第二检测构件，使第二检测构件检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区，从而使得第一检测构件与第二检测构件共同作用，能够完整检测阵列基板，解决了现有短路开路测试设备存在无法对阵列基板中显示区边缘电路和栅极驱动电路进行检测的技术问题。需要说明的是，阵列基板显示区的第一部分和显示区的第二部分组成阵列基板显示区，例如显示区的第二部分包括阵列基板显示区的边缘区域，宽度为1.5mm，显示区的第一部分为显示区的其他区域。需要说明的是，图1中示意出显示区的第二部分和非显示区关于显示区的第一部分对称设置的两部分，图1中只标示出显示区的第二部分和非显示区的一部分；同时，图1中只标示出第二检测构件关于支撑构件对称的两部分中的一部分。在一种实施例中，所述第二检测构件包括光学检测模组，所述光学检测模组与所述支撑构件连接，使用光学检测模组来检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区，从而避免现有的短路开路测试设备存在无法检测阵列基板显示区边缘电路和GOA电路的缺陷的问题，使得能够对阵列基板整面进行检测，进而根据检测结果做出反应，避免存在电路缺陷的阵列基板流入下一制程。在一种实施例中，所述光学检测模组包括检测组件和标记组件，所述检测组件用于检测所述阵列基板显本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板测试装置，其特征在于，包括：承载平台，所述承载平台用于承载阵列基板；支撑构件；第一检测构件，用于检测阵列基板显示区的第一部分；第二检测构件，用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板测试装置，其特征在于，包括：承载平台，所述承载平台用于承载阵列基板；支撑构件；第一检测构件，用于检测阵列基板显示区的第一部分；第二检测构件，用于检测阵列基板显示区的第二部分和非显示区。2.如权利要求1所述的阵列基板测试装置，其特征在于，所述第二检测构件包括光学检测模组，所述光学检测模组与所述支撑构件连接。3.如权利要求2所述的阵列基板测试装置，其特征在于，所述光学检测模组包括检测组件和标记组件，所述检测组件用于检测所述阵列基板显示区的第二部分和非显示区，所述标记组件用于在检测组件检测到阵列基板的缺陷后，对阵列基板的缺陷区域进行标记。4.如权利要求3所述的阵列基板测试装置，其特征在于，所述检测组件包括图像获取单元和信息处理单元，所述图像获取单元用于获取阵列基板显示区的第二部分和非显示区的图像，并将所述图像传递给信息处理单元，所述信息处理单元用于接收所述图像获取单元传递的图像，并对所述图像进行处理。5.如权利要求1所述的阵列基板测试装置，其特征在于，还包括驱动构件，所述驱动构件用于驱动第一检测构件和第二检测构件工作。6.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44