【技术实现步骤摘要】
比特流编码压缩的方法及装置
本专利技术涉及于一种编码压缩技术，且特别是一种比特流编码压缩的方法及装置。
技术介绍
自动化测试设备(AutomaticTestEquipment，ATE)用于检测集成电路功能的完整性，以确保集成电路生产制造的品质。随着集成电路设计规模的增大，测试数据(包括测试输入数据和测试输出数据)量呈现指数级增长，导致传统外部ATE面临着储存空间不足，输入输出时的频宽有限及数据测试时间过长等严峻的问题。测试数据压缩是解决上述问题的有效方法之一。通过压缩测试数据可以减少数据传输时间以及降低对ATE储存容量的要求。编码压缩方法是测试数据压缩中最常用的方法之一。在某些特定应用场合，例如待测集成电路为芯片组(Chipset)或者中央处理器(CentralProcessingUnit，CPU)，测试数据量巨大，且需要封装(例如以封包packet为单位进行封装)后方能储存至系统储存器(systemmemory)，而这些封装后的测试数据的相似性较高。有鉴于此，本专利技术提出一种比特流编码压缩的方法及装置，以对前述测试数据进行压缩以提高数据压缩率。
技术实现思路
以下...
【技术保护点】
1.一种比特流编码压缩的方法，包括：接收比特流(bit stream)；判断上述比特流中连续相同的比特的第一数量是否大于等于第一预设值；以及当上述第一数量大于等于上述第一预设值时，以第一编码方式将上述第一数量的上述比特编码为第一编码，其中上述第一编码是由第一前缀及第一后缀组成，上述第一前缀是表征连续的上述比特为哪个，而上述第一后缀是表征上述第一数量。
【技术特征摘要】
1.一种比特流编码压缩的方法，包括：接收比特流(bitstream)；判断上述比特流中连续相同的比特的第一数量是否大于等于第一预设值；以及当上述第一数量大于等于上述第一预设值时，以第一编码方式将上述第一数量的上述比特编码为第一编码，其中上述第一编码是由第一前缀及第一后缀组成，上述第一前缀是表征连续的上述比特为哪个，而上述第一后缀是表征上述第一数量。2.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述第一预设值是根据下面公式产生：或其中V_preset是上述第一预设值，L是表示上述第一后缀的比特长度，[]表示向下取整。3.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述第一编码方式包括：上述第一前缀是以两比特表示，上述第一后缀是以比特长度L表示。4.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述第一后缀的值是根据下面公式产生：其中m是上述第一后缀的值，n是上述第一数量，L是表示上述第一后缀的比特长度，[]表示向下取整。5.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述第一前缀“10”表示连续的上述比特为“0”，上述第一前缀“11”表示连续的上述比特为“1”。6.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述方法还包括：判断上述第一数量是否小于等于第二预设值；当上述第一数量小于等于上述第二预设值且大于等于上述第一预设值时，以上述第一编码方式将上述第一数量的上述比特编码为上述第一编码；以及当上述第一数量大于上述第二预设值时，以上述第一编码方式将上述第二预设值的上述比特编码为上述第一编码，并从上述第一数量中减去上述第二预设值。7.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中当判断连续相同的上述比特的上述第一数量未大于等于上述第一预设值时，以一第二编码方式将上述第一数量的上述比特编码为一第二编码，其中上述第二编码由上述第一数量的第二前缀组成。8.如权利要求7所述的比特流编码压缩的方法，其中上述第二前缀是以两比特表示，上述第二前缀“00”表示上述比特为“0”，上述第二前缀“01”表示上述比特为“1”。9.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述比特流是经由异或处理产生。10.如权利要求1所述的比特流编码压缩的方法，其中上述比特流是根据测试集成电路而产生的多个测试数据产生，其中上述多个测试数据之间相似度高。11.一种比特流编码压缩的装置，包括：一个或多个处理器；以及一个或多个计...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵薇，齐宗普，王峥，司徒加旻，
申请(专利权)人：上海兆芯集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31
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