【技术实现步骤摘要】
相关申请的交叉引用本申请要求2002年8月28日申请的美国临时专利申请序列No.60/406511的优先权,因此,将该申请的全部内容在此合并作为参考。
技术介绍
多种制造过程都需要对流体的流速和流量的控制。例如,半导体制造过程需要将非常精确数量的流体(主要是气体)释放到处理室。在该制造过程期间,可能需要高达每分钟二十公升到低至每分钟几十分之一立方厘米(CCM)范围的流速。与此相适应,已经开发出了质量流量控制器,其测量并控制流体的流速,其中,流速测量是基于流体的热特性的。典型地,将这些热质量控制器用于监控在半导体器件的制造中使用的流体,如有毒的和高度活性的气体的流量。而且,在多种制造工序中,将不同的气体用在蚀刻和蒸汽沉积过程中。当暴露于环境大气条件时,这些气体可能对人有害,并且高度活性。此外,已经开发了多种流体质量流量控制器,它们通过测量穿过流量限制器或节流孔的压降操作。虽然已经证实了这些装置在测量和控制流量中有用,但是也认识到许多缺点。例如,现有技术的质量流量控制器在有限的流动范围上精确地控制流速,但是,当在更宽的动态范围上控制流体的流速时,则会引入控制误差。因此, ...
【技术保护点】
一种质量流量控制器,包括:主体部分,该主体部分具有在其中形成的第一内部通道和至少第二内部通道;流量控制阀,该流量控制阀耦合到该主体部分,并且与该第一和第二内部通道连通;至少一个压力变送器,该压力变送器耦合到该主体部分 ,并且与该第一内部通道和第二内部通道中的至少一个连通;耦合到第二内部通道的非线性流量限制器,设置该非线性流量限制器以产生通过其中的高度压缩的层流;热传感器,该热传感器与该第一内部通道、该第二内部通道和该流量限制器中的至少一个 连通;以及排气容器,该排气容器与该流量限制器连通。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:DT穆德,WW怀特,
申请(专利权)人:霍里巴斯特克公司,
类型:发明
国别省市:US[美国]
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