一种非对称ONU光模块的测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种非对称ONU光模块的测试系统，包括第一误码仪、第一波分复用合波器、第一测试板、OLT光模块、第二误码仪、第二波分复用合波器、第二测试板、ONU光模块，所述OLT光模块设置于所述第一测试板上，所述ONU光模块设置于所述第二测试板上，所述第一测试板和第二测试板设置于半电波暗室内；本实用新型专利技术设备简单、操作方便，最大限度隔离被测ONU光模块和辅助设备，减少外部辐射干扰，大大提高了光模块测试的效率和准确性，该配置方式普遍适用于对称/非对称ONU光模块辐射发射测试，可有效解决光模块辐射发射测试的困难，便于发现原因，利于整改，安全方便。

【技术实现步骤摘要】
一种非对称ONU光模块的测试系统
本技术涉及电子产品测试
，尤其涉及一种非对称ONU光模块的测试系统。
技术介绍
光模块广泛应用于通讯领域，光模块的电磁干扰辐射发射直接影响整机的相关指标能否达标。但是光模块的辐射发射测试是个难点，因为光模块无法单独工作，如果把光模块安装焊接到整机产品上测试辐射发射，整机的辐射发射影响因素很多，与光模块混同为一体，不便于判断超标是否由光模块导致，还是别的因素。况且光模块配合某一个整机通过测试，并不能证明光模块自己的辐射发射是合格的，因为整机有金属机壳和塑料机壳之分，个体金属机壳对不同频段电磁干扰的屏蔽效能都不相同。所以光模块的辐射发射，需要一个比较单一能表明光模块正常工作的最简配置，尤其是ONU(光网络单元)的光模块需要与OLT(光线路终端)的光模块对接，上下行不对称ONU光模块的配置就更为典型。
技术实现思路
本技术的目的在于针对上述现有技术的不足，提供一种非对称ONU光模块的测试系统。为解决上述问题，本技术所采取的技术方案是：一种非对称ONU光模块的测试系统，包括第一误码仪、第一波分复用合波器、第一测试板、OLT光模块、第二误码仪、第二波分复用合波器、第二测试板、ONU光模块，所述OLT光模块设置于所述第一测试板上，所述ONU光模块设置于所述第二测试板上，所述第一测试板和第二测试板设置于半电波暗室内；所述第一误码仪分别与所述第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第一波分复用合波器与所述OLT光模块连接，所述第二误码仪分别与第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第二波分复用合波器与所述ONU光模块连接，所述OLT光模块的发送端与所述ONU光模块的接收端通过同轴电缆连接，所述OLT光模块的接收端与所述ONU光模块的发送端通过同轴电缆连接。进一步的，所述第一误码仪上设置有第一标准光模块，所述第二误码仪上设置有第二标准光模块，所述第一标准光模块的发送端与所述第一波分复用合波器连接，所述第一标准光模块的接收端与所述第二波分复用合波器连接；所述第二标准光模块的发送端与第二波分复用合波器连接，所述第二标准光模块的接收端与所述第一波分复用合波器连接。进一步的，还包括电源，所述电源为所述第一测试板和第二测试板供电。采用上述技术方案所产生的有益效果在于：本技术设备简单、操作方便，最大限度隔离被测ONU光模块和辅助设备，减少外部辐射干扰，大大提高了光模块测试的效率和准确性，该配置方式普遍适用于对称/非对称ONU光模块辐射发射测试，可有效解决光模块辐射发射测试的困难，便于发现原因，利于整改，安全方便。附图说明图1是本技术的测试系统框图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不能用来限制本技术的范围。如图1所示，是本技术的一种具体实施方式，一种非对称ONU光模块的测试系统，包括第一误码仪、第一波分复用合波器、第一测试板、OLT光模块、第二误码仪、第二波分复用合波器、第二测试板、ONU光模块，所述OLT光模块设置于所述第一测试板上，所述ONU光模块设置于所述第二测试板上，所述第一测试板和第二测试板设置于半电波暗室内；所述第一误码仪上设置有第一标准光模块，所述第二误码仪上设置有第二标准光模块，所述第一标准光模块的发送端TX与所述第一波分复用合波器连接，所述第一标准光模块的接收端RX与所述第二波分复用合波器连接；所述第二标准光模块的发送端TX与第二波分复用合波器连接，所述第二标准光模块的接收端RX与所述第一波分复用合波器连接；所述第一波分复用合波器与所述OLT光模块连接,所述第二波分复用合波器与所述ONU光模块连接，所述OLT光模块的发送端TX与所述ONU光模块的接收端RX通过同轴电缆连接，所述OLT光模块的接收端RX与所述ONU光模块的发送端TX通过同轴电缆连接。进一步的，还包括电源，所述电源为所述第一测试板和第二测试板供电。本实施例中需要测试1310波长1.25G/1490波长2.5G非对称ONU光模块,我们在辐射发射测试所用的半电波暗室内采用两块相同的光模块测试板，即为第一测试板和第二测试板，第一测试板加载OLT光模块，第二测试板加载ONU光模块，这里的第一测试板和第二测试板只是简单的给光模块供电，同时把光模块PIN脚上的TX/RX通过SMA高速同轴电缆引出。第一测试板和第二测试板之间TX、RX同轴电缆交叉连接，两块测试板都有各自的电源为其供电。两块测试板的光口通过光纤引出暗室。暗室外，采用两台误码仪，各自加载1310双纤光模块和1490双纤光模块，分别测试1310/1.25G通道和1490/2.5G通道的误码，从暗室引出的两根光纤通过波分复用合波器将1490和1310波段分开，分别连接到1310和1490双纤光模块上，调试整个测试环境，使得两台误码仪都无误码，表明ONU光模块和整个双链路都处于正常工作，就可以进入辐射发射RE测试。本技术工作原理：如图1所示，我们要测试的是上下行不对称ONU光模块，它的特点就是采用单根光纤，同一根光纤上传输不同波长的光信号，通过波分复用，由ONU光模块到OLT光模块上行是1310纳米波长，传输速率是1.25Gbps，而下行由OLT光模块到ONU光模块是1490纳米波长，传输速率是2.5Gbps，采用图示测试方式，形成两个大环来分别测试1310纳米波长1.25Gbps上行通道，1490纳米波长2.5Gbps下行通道的误码率。对应的OLT光模块也是不对称单纤波分复用光模块，ONU光模块和OLT光模块之间有标准通信协议。ONU要与OLT配对才能完整测试。WDM,波分复用,既可以当合波器，也可以当分波器。1310纳米波长1.25Gbps上行通道，信号由第一误码仪产生，经由1310纳米1.25Gbps双纤对称光模块的TX光通道发出，经左边的WDM波分复用合波器，变成单纤，进入OLT光模块的RX光通道，经光模块电光转换为RX电信号(测试板上设置有SMA同轴连接器来引出TX或RX电信号)，该RX电信号与ONU光模块的TX电信号连接，再经电光转换，变成1310纳米1.25Gbps光信号，经分波器由单纤变为双纤，再进入在暗室外的第一误码仪上的1310双纤光模块RX通道，第一误码仪通过比较发出1310纳米波长1.25Gbps信号与接收到的1310纳米波长1.25Gbps信号是否一致就可判断整个1310纳米波长1.25Gbps上行通道工作是否正常；1490纳米波长2.5Gbps下行通道，信号由第二误码仪产生，经由1490纳米2.5Gbps双纤对称光模块的TX光通道发出，经右边的第二波分复用合波器，变成单纤，进入ONU光模块RX光通道，经电光转换为RX同轴电信号，该RX电信号与OLT光模块上引出的TX电信号连接，再经电光转换，变成1490纳米2.5Gbps光信号，经分波器由单纤变为双纤，再进入在暗室外的第二误码仪上的1490双纤光模块的RX通道，第二误码仪通过比较发出的1490纳米波长2.5Gbps信号与接收到的信号是否一致就可判断整个1490纳米波长2.5Gbps通道工作是否正常。该测试系统也适用于上下行对称ONU光模块，测试系统简化为单链路，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非对称ONU光模块的测试系统，其特征在于，包括第一误码仪、第一波分复用合波器、第一测试板、OLT光模块、第二误码仪、第二波分复用合波器、第二测试板、ONU光模块，所述OLT光模块设置于所述第一测试板上，所述ONU光模块设置于所述第二测试板上，所述第一测试板和第二测试板设置于半电波暗室内；所述第一误码仪分别与所述第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第一波分复用合波器与所述OLT光模块连接，所述第二误码仪分别与第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第二波分复用合波器与所述ONU光模块连接，所述OLT光模块的发送端与所述ONU光模块的接收端通过同轴电缆连接，所述OLT光模块的接收端与所述ONU光模块的发送端通过同轴电缆连接。

【技术特征摘要】
1.一种非对称ONU光模块的测试系统，其特征在于，包括第一误码仪、第一波分复用合波器、第一测试板、OLT光模块、第二误码仪、第二波分复用合波器、第二测试板、ONU光模块，所述OLT光模块设置于所述第一测试板上，所述ONU光模块设置于所述第二测试板上，所述第一测试板和第二测试板设置于半电波暗室内；所述第一误码仪分别与所述第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第一波分复用合波器与所述OLT光模块连接，所述第二误码仪分别与第一波分复用合波器和第二波分复用合波器连接，所述第二波分复用合波器与所述ONU光模块连接，所述OLT光模块的发送端与所述ONU光模块的接收端...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡云枝，王海波，曹鹏，
申请(专利权)人：太仓市同维电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32