本发明专利技术的光插座具备：第一面，其包括使从发光元件射出的光入射的第一光学面、和使监视光向检测元件射出的第三光学面；反射面，其使由第一光学面入射的光向沿着基板的方向反射；光分离部，其将由反射面反射的光分离为朝向第一面的监视光与朝向光传输体的端面的信号光；透射面，其使由光分离部分离出的信号光经过凹部内的空间透射；第三面，其包括使透射过透射面的信号光向光传输体的端面射出的第二光学面；以及反射监视光回避单元，其配置于光分离部和检测元件之间的光路上，对到达检测元件的监视光在检测元件的检测面反射而形成的反射监视光以不使反射监视光返回发光元件的方式进行引导。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于将发光元件与光传输体的端面进行光学耦合的光插座和具备该光插座的光模块。
技术介绍
一直以来，在使用了光纤或光波导等光传输体的光通信中，使用具备面发射激光器(例如，VCSEL：Vertical Cavity Surface Emitting Laser，垂直腔面发射激光器)等发光元件的光模块。这样的光模块中使用了称为光插座的光模块部件。该光插座通过将从发光元件射出的包含通信信息的光在光纤的端面耦合，用于经由光纤的光发送。本申请人提出了一种光插座和具备该光插座的光模块，该光插座为了与基板安装型的光电转换装置对应，形成用于使从发光元件射出的出射光的一部分作为监视光而向检测元件侧反射的反射面，并且能够简便且适当地实现将发光元件的光在光纤的端面向沿着基板的方向取出的光发送(参照专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2013-137507号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题上述的专利文献1中记载的光模块中，还期望防止来自检测元件的反射光返回到发光元件从而提高光学特性。本专利技术的目的在于提供一种光插座和具备该光插座的光模块，该光插座在保持原来的光学特性的同时，防止由检测元件反射的反射光返回到发光元件从而进一步提高了光学特性。解决问题的方案为了实现上述目的，本专利技术的光插座配置于光电转换装置与光传输体之间，该光电转换装置在基板上安装有发光元件和检测元件，该检测元件检测用于对从所述发光元件发出的光进行监视的监视光，该光插座用于将所述发光元件与所述光传输体的端面进行光学耦合，其具备：第一面，其包括使从所述发光元件射出的光入射的第一光学面、和使所述监视光向所述检测元件射出的第三光学面；反射面，其使由所述第一光学面入射的光向沿着所述基板的方向反射；光分离部，其是配置在由所述反射面反射的光的光路上的、凹部的内表面的一部分，将由所述反射面反射的光分离为朝向所述第三光学面的所述监视光与朝向所述光传输体的端面的信号光；透射面，其是所述凹部的内表面的一部分，使由所述光分离部分离出的所述信号光经过所述凹部内的空间透射；第三面，其包括第二光学面，该第二光学面使透射过所述透射面的所述信号光向所述光传输体的端面射出；以及反射监视光回避单元，其配置于所述光分离部和所述检测元件之间的光路上，对到达所述检测元件的所述监视光在所述检测元件的检测面反射而形成的反射监视光以不使反射监视光返回所述发光元件的方式进行引导，所述光分离部具有：分割反射面，其以相对于所述第一面呈第二倾斜角的方式在规定的分割方向上以规定间隔分割配置，由所述反射面反射的从所述发光元件射出的光中的一部分的光向所述分割反射面入射，所述分割反射面使该入射的一部分的光作为所述监视光反射；以及分割透射面，其分割配置在未配置所述分割反射面的区域，由所述反射面反射的所述发光元件的光中的所述一部分的光以外的另一部分的光向所述分割透射面入射，所述分割透射面使该入射的另一部分的光透射并作为所述信号光而朝向所述第三面侧。另外，本专利技术的光模块具有：光电转换装置，其在基板上安装有发光元件和检测元件，该检测元件检测用于对从所述发光元件发出的光进行监视的监视光；以及本专利技术的光插座。专利技术效果根据本专利技术，从发光元件射出并由检测元件的检测面反射的光不会返回到发光元件，所以能够进一步提高光模块的光学特性。另外，根据本专利技术，还能够简便且适当地实现将从发光元件射出的光在光传输体的端面向沿着基板的方向取出的、伴随监视的光发送。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的光模块的结构的剖面图。图2是实施方式1的光插座的俯视图。图3是实施方式1的光插座的仰视图。图4是实施方式1中的光分离部的局部放大剖面图。图5A是表示实施方式1中的光传输体的端面中的信号光的光点形状的图，图5B是表示光传输体的端面中的信号光的强度分布的图。图6是表示反射监视光回避单元的一例的局部放大剖面图。图7是表示反射监视光回避单元的另一例的局部放大剖面图。图8是表示不使第三光学面的中心轴变化的情况下的分割反射面的倾斜角度的变化量与反射监视光的光量的变化量之间的关系的曲线图。图9是表示实施方式1的变形例的光模块的结构的剖面图。图10是实施方式1的变形例的光插座的俯视图。图11是实施方式1的变形例的光插座的仰视图。图12是实施方式1的变形例的光插座的右视图。图13A、图13B是表示实施方式1的实施例中的光分离部的结构例1的图。图14A、图14B是表示实施方式1的实施例中的光分离部的结构例2的图。图15是表示本专利技术的实施方式2的光分离部的结构的图。图16A、图16B是表示实施方式2的实施例中的光分离部的结构例1的图。图17A、图17B是表示实施方式2的实施例中的光分离部的结构例2的图。图18A、图18B是表示实施方式3中的光分离部的结构的图。图19是表示实施方式3的变形例中的第三凹部的结构的图。图20是表示实施方式4的光模块的结构的图。图21A～图21C是表示示出实施方式4中的信号光的光路上的彼此不同的位置处的信号光的光点形状(剖面形状)的变化的模拟结果的图。图22是表示实施方式4中的光纤的端面中的信号光的强度分布的图。图23A是表示实施方式4的变形例1的光模块的结构的剖面图，图23B是右视图。图24是表示实施方式4的变形例2的光模块的结构的图。图25A～图25C是表示实施方式4的变形例2中的信号光的光路上的彼此不同的位置处的信号光的光点形状的变化的模拟的图。图26A是表示实施方式4的变形例3的光模块的结构的剖面图，图26B是右视图。图27是表示实施方式4的变形例4的光模块的结构的剖面图。图28A～图28C是表示实施方式4的变形例4中的信号光的光路上的彼此不同的位置处的信号光的光点形状的变化的模拟的图。图29A是表示实施方式4的变形例5的光模块的结构的剖面图，图29B是右视图。图30A是表示光分离部的另一例的立体图，图30B是俯视图。图31A是光分离部的局部放大剖面图，图31B是表示光分离部的光路的局部放大剖面图。附图标记说明1 光模块2 光插座3 光电转换装置4 光传输体安装部5 光传输体6 半导体基板7 发光元件8 检测元件9 套管10 第一凹部11 第一光学面12 第二光学面13 第三光学面14 反射面15 第二凹部16 第三凹部17、330 光分离部18、331 分割反射面19、332 分割透射面20 台阶面21 透射面29 连接器181 反射面部191 透射面部333 分割台阶面334 端面2a 下端面2b 上端面2c 左端面2d 右端面2e 前端面2f 后端面5a 端面La 准直光(激光)Lc 信号光M 监视光OA 光轴(中心轴)RM 反射监视光S1 第一面S2 第二面S3 第三面Sa、Sb 平面具体实施方式以下，参照附带的附图，对本专利技术的光插座和具备该光插座的光模块进行说明。[实施方式1]图1是表示实施方式1的光模块1的结构的剖面图(相当于图2所示的A-A线的剖面图)。图2是光插座2的俯视图。图3是光插座2的仰视图。如图1所示，实施方式1的光插座2(光插座主体)配置于光电转换装置3与光传输体5之间。光电转换装置3是基板安装型的光电转换装置。光电转换装置3具有半导体基板(电路基板)6、发光元件7以及检测元件8。半导体基板本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光插座，其配置于光电转换装置与光传输体之间，该光电转换装置在基板上安装有发光元件和检测元件，该检测元件检测用于对从所述发光元件发出的光进行监视的监视光，该光插座用于将所述发光元件与所述光传输体的端面进行光学耦合，其具备：第一面，其包括使从所述发光元件射出的光入射的第一光学面、和使所述监视光向所述检测元件射出的第三光学面；反射面，其使由所述第一光学面入射的光向沿着所述基板的方向反射；光分离部，其是配置在由所述反射面反射的光的光路上的、凹部的内表面的一部分，将由所述反射面反射的光分离为朝向所述第三光学面的所述监视光与朝向所述光传输体的端面的信号光；透射面，其是所述凹部的内表面的一部分，使由所述光分离部分离出的所述信号光经过所述凹部内的空间透射；第三面，其包括第二光学面，该第二光学面使透射过所述透射面的所述信号光向所述光传输体的端面射出；以及反射监视光回避单元，其配置于所述光分离部和所述检测元件之间的光路上，对到达所述检测元件的所述监视光在所述检测元件的检测面反射而形成的反射监视光以不使反射监视光返回所述发光元件的方式进行引导，所述光分离部具有：分割反射面，其以相对于所述第一面呈第二倾斜角的方式在规定的分割方向上以规定间隔分割配置，由所述反射面反射的从所述发光元件射出的光中的一部分的光向所述分割反射面入射，所述分割反射面使该入射的一部分的光作为所述监视光反射；以及分割透射面，其分割配置在未配置所述分割反射面的区域，由所述反射面反射的所述发光元件的光中的所述一部分的光以外的另一部分的光向所述分割透射面入射，所述分割透射面使该入射的另一部分的光透射并作为所述信号光而朝向所述第三面侧。...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.03.18 JP 2014-0555921.一种光插座，其配置于光电转换装置与光传输体之间，该光电转换装置在基板上安装有发光元件和检测元件，该检测元件检测用于对从所述发光元件发出的光进行监视的监视光，该光插座用于将所述发光元件与所述光传输体的端面进行光学耦合，其具备：第一面，其包括使从所述发光元件射出的光入射的第一光学面、和使所述监视光向所述检测元件射出的第三光学面；反射面，其使由所述第一光学面入射的光向沿着所述基板的方向反射；光分离部，其是配置在由所述反射面反射的光的光路上的、凹部的内表面的一部分，将由所述反射面反射的光分离为朝向所述第三光学面的所述监视光与朝向所述光传输体的端面的信号光；透射面，其是所述凹部的内表面的一部分，使由所述光分离部分离出的所述信号光经过所述凹部内的空间透射；第三面，其包括第二光学面，该第二光学面使透射过所述透射面的所述信号光向所述光传输体的端面射出；以及反射监视光回避单元，其配置于所述光分离部和所述检测元件之间的光路上，对到达所述检测元件的所述监视光在所述检测元件的检测面反射而形成的反射监视光以不使反射监视光返回所述发光...
【专利技术属性】
技术研发人员：涉谷和孝，
申请(专利权)人：恩普乐股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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