微波探测器制造技术

技术编号:22408684 阅读:15 留言:0更新日期:2019-10-29 11:59
本实用新型专利技术公开了一微波探测器,其中所述微波探测器包括一参考地、一辐射源、一驱动电路和至少一组抑制篱笆柱。所述驱动电路被电连接于所述辐射源的馈电点,其中所述辐射源、所述参考地和所述驱动电路沿着所述微波探测器的厚度方向被依次布置,并且所述辐射源和所述参考地相互间隔以形成一辐射缝隙于所述辐射源和所述参考地之间,和所述参考地和所述驱动电路之间的间隔距离尺寸大于或者等于1/128λ,λ为所述微波探测器的辐射波的波长,一组所述抑制篱笆柱以每个所述抑制篱笆柱相互间隔地布置于所述驱动电路的侧部的方式环绕所述驱动电路。

Microwave detector

【技术实现步骤摘要】
微波探测器
本技术涉及天线领域,特别涉及一微波探测器。
技术介绍
随着物联网的发展和普及,如物联网在人工智能和智能家居领域的应用,其中无线电技术,包括基于多普勒效应原理的微波探测技术作为人与物,物与物之间相联的重要枢纽被越来越广泛地使用,ISM(IndustrialScientificMedical)Band是由ITU-R(ITURadiocommunicationSector,国际通信联盟无线电通信局)定义的供开放给诸如工业、科学和医学等机构使用的无需授权许可的频段,在ITU-R开放的这些频段中被应用于微波探测的频段主要有2.4Ghz、5.8Ghz、10.525Ghz、24.125Gh等频段,相应的微波探测器在使用这些频段时需要遵守一定的发射功率(一般发射功率低于1W)以减小对其他无线电设备的干扰,虽然不同频段的定义和许可能够规范无线电的使用频段而减小不同频段的无线电设备之间相互干扰的概率,然而不同频段的无线电设备之间,如不同频段的微波探测器之间仍会由于杂散电磁波辐射而存在单向干扰甚至相互干扰的概率,特别是在有限的频段资源许可下,随着不同频段的无线电使用覆盖率的提升,不同频段的无线电设备之间单向干扰或相互干扰的问题也日益严重。此外,由于无线电技术同时作为通信领域中信息传递的枢纽,其抗干扰能力关乎经济和国防安全,因此,国际上以及不同国家和地区还对无线电技术的抗干扰能力提出了相应的认证标准,如欧盟的RED认证和美国的FCC认证对杂散电磁波辐射中谐波的限值要求,也就是说,即便是基于多普勒效应原理使用无需授权许可的频段的微波探测器,其在面对与不同频段的无线电设备之间单向干扰或相互干扰的问题的同时,还需要面对国际以及相应国家和地区的认证标准。现在的微波探测器包括一辐射源、一参考地以及一驱动电路,其中该辐射源和该参考地被相互间隔地设置,以在该辐射源和该参考地之间形成一辐射缝隙,该驱动电路被设置于该参考地的一侧,并且该驱动电路被连接于该辐射源的馈电点,其中该驱动电路自该辐射源的该馈电点提供微波激励电信号至该辐射源,以藉由该辐射源和该参考地相互配合而使该微波探测器产生辐射波,其中该驱动电路同时产生杂散电磁波辐射,并能够自所述参考地向所述驱动电路方向,以及所述参考地与所述驱动电路之间的缝隙向外扩散而窜入与该微波探测器处于不同频段的无线电设备,如窜入与该微波探测器处于不同频段的微波探测器并对其造成干扰。也就是说,目前的微波探测器,由于杂散电磁波辐射的存在,其与处于不同频段的无线电设备,包括处于不同频段的微波探测器之间单向干扰或相互干扰的问题日益严重,并难以满足欧盟的RED认证和美国的FCC认证对杂散电磁波辐射中谐波的限值要求。
技术实现思路
本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述微波探测器的一驱动电路在向一辐射源提供微波激励电信号时产生的杂散电磁波辐射能够被有效地抑制。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述微波探测器提供至少一组抑制篱笆柱,其中一组所述抑制篱笆柱以每个所述抑制篱笆柱相互间隔地自所述驱动电路的侧部向所述微波探测器的一参考地方向延伸的方式环绕所述驱动电路,以藉由一组所述抑制篱笆柱抑制所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述微波探测器包括至少一列抑制坝,一列所述抑制坝被布置于所述驱动电路的相邻电路模块之间,以抑制所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射并降低所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射对相邻电路模块的干扰。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述微波探测器提供一屏蔽罩,所述屏蔽罩被设置罩设所述驱动电路,以抑制所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述屏蔽罩具有至少两个相邻的屏蔽空间,其分别对应于所述驱动电路的不同电路模块,以允许所述屏蔽罩隔离所述驱动电路的相邻电路模块,从而抑制所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射对相邻电路模块的干扰。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中通过减小所述参考地和所述驱动电路的间隔距离的方式能够抑制所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射。本技术的一个目的在于提供一微波探测器,其中所述屏蔽罩的至少一所述屏蔽空间进一步被设置有吸波材料,以藉由所述吸波材料对杂散电磁波辐射的吸收损耗降低所述驱动电路产生的杂散电磁波辐射于所述屏蔽空间的二次反射对所述驱动电路和相邻电路模块造成干扰。依本技术的一个方面,本技术提供一微波探测器,其包括:一参考地;一辐射源,其中所述辐射源具有一馈电点;一驱动电路,其中所述驱动电路被电连接于所述辐射源的所述馈电点,其中所述辐射源、所述参考地和所述驱动电路沿着所述微波探测器的厚度方向被依次布置,并且所述辐射源和所述参考地相互间隔以形成一辐射缝隙于所述辐射源和所述参考地之间,和所述参考地和所述驱动电路之间的间隔距离尺寸大于或者等于1/128λ,λ为所述微波探测器的辐射波的波长;以及至少一组抑制篱笆柱,其中一组所述抑制篱笆柱以每个所述抑制篱笆柱相互间隔地布置于所述驱动电路的侧部的方式环绕所述驱动电路。根据本技术的一个实施例,所述微波探测器进一步包括一上基板和一下基板,其中所述上基板具有一附着面和对应于所述附着面的一贴装面,所述辐射源被保持于所述上基板的所述附着面,其中所述下基板具有一上表面和对应于所述上表面的一下表面,所述参考地被保持于所述下基板的所述上表面,和所述驱动电路被保持于所述下基板的所述下表面,以使所述下基板分隔所述参考地和所述驱动电路,其中所述上基板的所述贴装面被贴装于所述参考地,以允许所述上基板形成所述辐射缝隙。根据本技术的一个实施例,所述微波探测器进一步包括一蚀刻板,其中所述蚀刻板包括一周边部分,所述周边部分以环绕所述驱动电路的方式层叠于所述下基板的所述下表面,其中一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分向所述参考地方向延伸。根据本技术的一个实施例,所述蚀刻板包括至少一分隔部分,所述分隔部分以分隔所述驱动电路的相邻电路模块的方式层叠于所述下基板的所述下表面,其中所述微波探测器进一步包括至少一列抑制坝,一列所述抑制坝以每个所述抑制坝相互间隔的方式自所述分隔部分向所述参考地方向延伸,以分隔所述驱动电路的相邻所述电路模块。根据本技术的一个实施例,所述微波探测器进一步包括至少一列抑制坝,一列所述抑制坝以每个所述抑制坝相互间隔的方式自所述下基板的所述下表面向所述参考地方向延伸,以分隔所述驱动电路的相邻所述电路模块。根据本技术的一个实施例,一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分延伸至所述参考地。根据本技术的一个实施例,一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分延伸至所述参考地,和一列所述抑制坝中的每个所述抑制坝分别自所述分隔部分延伸至所述参考地。根据本技术的一个实施例,一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分延伸至所述参考地,和一列所述抑制坝中的每个所述抑制坝分别自所述下基板的所述下表面延伸至所述参考地。根据本技术的一个实施例,所述上基板层叠于所述参考地。根据本技术的一个实施例,所述微波探测器进一步包括一屏蔽罩,其中所述本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一微波探测器,其特征在于,包括:一参考地;一辐射源,其中所述辐射源具有一馈电点;一驱动电路,其中所述驱动电路被电连接于所述辐射源的所述馈电点,其中所述辐射源、所述参考地和所述驱动电路沿着所述微波探测器的厚度方向被依次布置,并且所述辐射源和所述参考地相互间隔以形成一辐射缝隙于所述辐射源和所述参考地之间,和所述参考地和所述驱动电路之间的间隔距离尺寸大于或者等于1/128λ,λ为所述微波探测器的辐射波的波长;以及至少一组抑制篱笆柱,其中一组所述抑制篱笆柱以每个所述抑制篱笆柱相互间隔地布置于所述驱动电路的侧部的方式环绕所述驱动电路。

【技术特征摘要】
1.一微波探测器,其特征在于,包括:一参考地;一辐射源,其中所述辐射源具有一馈电点;一驱动电路,其中所述驱动电路被电连接于所述辐射源的所述馈电点,其中所述辐射源、所述参考地和所述驱动电路沿着所述微波探测器的厚度方向被依次布置,并且所述辐射源和所述参考地相互间隔以形成一辐射缝隙于所述辐射源和所述参考地之间,和所述参考地和所述驱动电路之间的间隔距离尺寸大于或者等于1/128λ,λ为所述微波探测器的辐射波的波长;以及至少一组抑制篱笆柱,其中一组所述抑制篱笆柱以每个所述抑制篱笆柱相互间隔地布置于所述驱动电路的侧部的方式环绕所述驱动电路。2.根据权利要求1所述的微波探测器,进一步包括一上基板和一下基板,其中所述上基板具有一附着面和对应于所述附着面的一贴装面,所述辐射源被保持于所述上基板的所述附着面,其中所述下基板具有一上表面和对应于所述上表面的一下表面,所述参考地被保持于所述下基板的所述上表面,和所述驱动电路被保持于所述下基板的所述下表面,以使所述下基板分隔所述参考地和所述驱动电路,其中所述上基板的所述贴装面被贴装于所述参考地,以允许所述上基板形成所述辐射缝隙。3.根据权利要求2所述的微波探测器,进一步包括一蚀刻板,其中所述蚀刻板包括一周边部分,所述周边部分以环绕所述驱动电路的方式层叠于所述下基板的所述下表面,其中一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分向所述参考地方向延伸。4.根据权利要求3所述的微波探测器,其中所述蚀刻板包括至少一分隔部分,所述分隔部分以分隔所述驱动电路的相邻电路模块的方式层叠于所述下基板的所述下表面,其中所述微波探测器进一步包括至少一列抑制坝,一列所述抑制坝以每个所述抑制坝相互间隔的方式自所述分隔部分向所述参考地方向延伸,以分隔所述驱动电路的相邻所述电路模块。5.根据权利要求3所述的微波探测器,进一步包括至少一列抑制坝,一列所述抑制坝以每个所述抑制坝相互间隔的方式自所述下基板的所述下表面向所述参考地方向延伸,以分隔所述驱动电路的相邻所述电路模块。6.根据权利要求3所述的微波探测器,其中一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分延伸至所述参考地。7.根据权利要求4所述的微波探测器,其中一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周边部分延伸至所述参考地,和一列所述抑制坝中的每个所述抑制坝分别自所述分隔部分延伸至所述参考地。8.根据权利要求5所述的微波探测器,其中一组所述抑制篱笆柱中的每个所述抑制篱笆柱分别自所述周...

【专利技术属性】
技术研发人员:邹高迪邹新
申请(专利权)人:深圳迈睿智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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