一种关于IC高压损伤模拟系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及一种关于IC高压损伤模拟系统及方法，所述系统包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置；所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置，所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置；所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压；所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。通过对待检测IC进行高压损伤模拟，形成每颗IC特有的数据库，而当发生IC失效时，将失效数据导入到数据库中进行比对，就可以反推出导致损伤的电压状态以及路径，实现追根溯源，及快速定位失效源头，提高终端问题的解决效率。

A high voltage damage simulation system and method for IC

【技术实现步骤摘要】
一种关于IC高压损伤模拟系统及方法
本专利技术涉及IC
，特别涉及一种关于IC高压损伤模拟系统及方法。
技术介绍
电气过应力(ElectricalOverStress，EOS)是元器件常见的损坏原因，其表现方式是过压或者过流产生大量的热能，使元器件内部温度过高从而损坏元器件(大家常说的烧坏)，是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的损害电子器件的方式。现有的IC失效分析技术中，通过I/V、SAT、Thermal等技术手段只能定位到芯片何处受到了高压损伤，但无法给出结论：高压是从何处引入，从哪个PIN(引脚)引入。对解决实际问题的作用很微小。尤其是当芯片内部模块受到损伤，但又没有发现失效热点，现有的失效分析手段更是失去了效果，失效的分析也就失去了方向。
技术实现思路
为此，需要提供一种关于IC高压损伤模拟系统及方法，解决针对实际终端产品生产中占比最高的EOS失效，现有的FA技术只能判断出损伤位置，无法给出损伤源和路径的问题。为实现上述目的，专利技术人提供了一种关于IC高压损伤模拟系统，包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置；所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置，所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置；所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压；所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。进一步优化，还包括实时监控装置，所述实时监控装置连接于控制装置，所述实时监控装置用于采集待检测IC的待测引脚的状态数据，并发送反馈信息至控制装置；所述控制装置用于接收到反馈信息后，控制电压脉冲源装置输出下一组电平脉冲。进一步优化，所述实时监控装置还用于初步检测待检测IC损伤发生的情况；所述检测装置还用于当实时监控装置初步检测到待检测IC发生损伤情况时，采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。进一步优化，还包括开关装置，所述电压脉冲源装置通过开关装置向待检测IC灌入电平脉冲；所述开关装置连接于控制装置，所述开关装置用于配置待检测IC的待测引脚的状态，以及配置输入待检测IC的电平脉冲的脉冲周期。进一步优化，所述开关装置还用于切换待检测IC的待测引脚的连接。专利技术人还提供了另一个技术方案：一种关于IC高压损伤模拟方法，包括以下步骤：控制装置通过电压装置配置及提供待检测IC的工作电压；控制装置配置电压脉冲源装置脉冲电平值，并通过电压脉冲源装置向待检测IC的待测引脚输入电平脉冲；检测装置采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。进一步优化，所述“通过电压脉冲源装置向待检测IC的待测引脚输入电平脉冲”之后还包括以下步骤：实时监控装置采集待检测IC的待测引脚的状态数据，并发送反馈信息至控制装置；监控装置接收到反馈信息后，控制电压脉冲源装置输出下一组电平脉冲。进一步优化，所述“检测装置采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库”具体包括以下步骤：检测装置当实时监控装置初步检测到待检测IC发生损伤情况时，采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。进一步优化，所述“控制装置通过电压装置配置及提供待检测IC的工作电压”之前还包括以下步骤：控制装置通过开关装置配置待检测IC的待测引脚的状态；所述“通过电压脉冲源装置向待检测IC的待测引脚输入电平脉冲”具体包括以下步骤：通过开关装置配置输入待检测IC的电平脉冲的脉冲周期；电压脉冲源装置通过开关装置向待检测IC灌入电平脉冲。进一步优化，所述“控制装置通过开关装置配置待检测IC的待测引脚的状态”之前还包括以下步骤；控制装置通过开关装置切换至待检测IC的待测引脚，并建立连接。区别于现有技术，上述技术方案，通过对待检测IC进行高压损伤模拟，形成每颗IC特有的数据库，而当发生IC失效时，将失效数据导入到数据库中进行比对，就可以反推出导致损伤的电压状态以及路径，实现追根溯源，及快速定位失效源头，提高终端问题的解决效率。附图说明图1为具体实施方式所述关于IC高压损伤模拟系统的一种结构示意图；图2为具体实施方式所述关于IC高压损伤模拟方法的一种流程示意图。附图标记说明：110、控制装置；120、电压装置；130、电压脉冲源装置；140、检测装置；150、待检测IC；160、实时监控装置；170、开关装置。具体实施方式为详细说明技术方案的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。请参阅图1，本实施例提供了一种关于IC高压损伤模拟系统，包括控制装置110、电压装置120、电压脉冲源装置130及检测装置140；所述控制装置110连接于电压装置120及电压脉冲源装置130，所述控制装置110用于控制电压装置120及电压脉冲源装置130；所述电压装置120用于为待检测IC150提供工作电压；所述电压脉冲源装置130用于向待检测IC150的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置140用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。当对待检测IC150进行高压损伤模拟时，首先控制装置110控制电压装置120及电压脉冲源装置130，通过电压装置120配置待检测IC150的工作电压，并为待检测IC150提供工作电压；然后通过电压脉冲源装置130进行配置脉冲电平值，并向待检测IC150的待测引脚灌入电平脉冲，通过检测装置140详细检测待检测IC150的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。其中耐压程度即何种的电压阶位或何种电压脉冲使待检测IC150产生损伤，损伤程度即何种的电压阶位产生何种程度的损伤及何种电压脉冲产生何种损伤现象。通过创立损伤路径与失效现象对应的数据库，而当发生IC失效时，将失效数据导入到数据库中进行比对，就可以反推出导致损伤的电压状态以及路径，实现追根溯源，及快速定位失效源头，提高终端问题的解决效率。同时可以在芯片开发的早期，第一时间有效地发现IC中耐压元件选用错误的情况，第一次系统的检验了设计规格中电压与实际产品的契合度；而且可以有效节省FA(FailureAnalysis，失效分析)费用，做到精准分析，以及可以节省FA所需的时间，特别有利于在线项目的及时改进；以及能够系统的检验理论电压参数的准确性和余量。本实施例中，还包括实时监控装置160，所述实时监控装置160连接于控制装置110，所述实时监控装置160用于采集待检测IC150的待测引脚的状态数据，并发送反馈信息至控制装置110；所述控制装置110用于接收到反馈信息后，控制电压脉冲源装置130输出下一组电平脉冲。通过实施监控装置采集待检测IC150的待测引脚的状态数据，包括电压参数、电流参数及待测引脚是否出现损伤，当待测引脚未出现损伤时，向控制装置110发送反馈信息，控制信息接收到反馈信息时，控制电压脉冲源输出下一组电平脉冲灌入待检测IC150的待测引脚，实现快速模拟待检测IC150的高压损伤，提高效率。其中，所述实时监控装置160还用于初步检测待检测IC150损伤发生的情况；所述检测装置140还用于当实时监控装置160初步检测到待检测IC150发生损伤情况时，采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。当实时监控装置160初步检测到待检测IC150发生损伤时，才采集待测IC的耐压程度及损伤程度，可以减本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置；所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置，所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置；所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压；所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。

【技术特征摘要】
1.一种关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置；所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置，所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置；所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压；所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲；所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。2.根据权利要求1所述关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，还包括实时监控装置，所述实时监控装置连接于控制装置，所述实时监控装置用于采集待检测IC的待测引脚的状态数据，并发送反馈信息至控制装置；所述控制装置用于接收到反馈信息后，控制电压脉冲源装置输出下一组电平脉冲。3.根据权利要求2所述关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，所述实时监控装置还用于初步检测待检测IC损伤发生的情况；所述检测装置还用于当实时监控装置初步检测到待检测IC发生损伤情况时，采集待测IC的耐压程度及损伤程度，并生成数据库。4.根据权利要求1所述关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，还包括开关装置，所述电压脉冲源装置通过开关装置向待检测IC灌入电平脉冲；所述开关装置连接于控制装置，所述开关装置用于配置待检测IC的待测引脚的状态，以及配置输入待检测IC的电平脉冲的脉冲周期。5.根据权利要求4所述关于IC高压损伤模拟系统，其特征在于，所述开关装置还用于切换待检测IC的待测引脚的连接。6.一种关于IC高压损伤模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：控制装置通过电...

【专利技术属性】
技术研发人员：林福珍，
申请(专利权)人：福州瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35